机构名称：
¥ 1.0
本期特刊是 2011 年 6 月在德国联邦物理技术研究院 (PTB) 举行的第五届单光子技术国际会议的配套刊物。该团体每两年在国家计量机构举行一次会议，第一次会议于 2003 年在美国国家标准与技术研究所 (NIST，盖瑟斯堡) 举行，随后于 2005 年在国家物理实验室 (NPL) 举行，2007 年在国家计量研究所 (INRiM) 举行，2009 年在美国国家标准与技术研究所 (NIST，博尔德) 举行。这些研讨会的目的是将对单光子技术和应用感兴趣的广泛人士聚集在一起，帮助传播该领域的进展。2011 年研讨会在 15 场会议中共发表了 67 场演讲（14 场受邀演讲）和 16 场海报展示。共有来自 15 个国家的 109 名参与者参加，其中 71 名来自欧洲（主要群体为德国 22 名、意大利 17 名和英国 11 名），30 名来自北美（美国 27 名），6 名来自亚洲，2 名来自澳大利亚。迄今为止，每次研讨会之后都会出版关于单光子科学和技术科学领域的精选论文集，每篇论文都涉及特定主题。这些特刊中的第一期紧随 2003 年研讨会之后，主要涉及使用半导体器件的单光子检测，这在很大程度上是因为这是当时最发达的技术 [1]。第二期特刊更侧重于单光子源，反映了 2005 年研讨会上的大量贡献 [2]。超导探测器在 2007 年研讨会之后的第三期中成为焦点，该研讨会与欧盟第七框架项目 Sinphonia [3] 联合举办。2009 年，有多个单光子技术领域出现在特刊中，例如光子纠缠技术及应用、非经典性测量；相关、纠缠和可分解状态源设计作为基础物理测试 [4]。第 5 届单光子器件和应用研讨会专门讨论了单光子探测器和源的当前技术水平和最新发展，重点关注现有的限制、不足和改进机会。这些发展是由许多需要此类设备的应用的出现所驱动的。
单光子器件和应用 - NIST 的 TSAPPS
主要关键词
相关文件推荐
