纳米宇宙内部:新型 3D X 射线成像改变材料科学

一种尖端的 X 射线方法揭示了纳米级材料结构的 3D 方向,为其功能提供了新的见解。瑞士光源 (SLS) 的研究人员开发了一种突破性的技术,称为 X 射线线性二向色取向断层扫描 (XL-DOT)。该方法揭示了材料结构构建块在纳米级的三维排列。它的第一个应用 [...]

来源:SciTech日报

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