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测量中的量子飞跃：新系统接近物理的理论极限
快速，精确且准备在现场使用：量子级光学频率梳系统，仅在25微秒的时间内测量0.34纳米。韩国标准与科学研究所已开发出一种尖端系统，用于测量长度，其精度非常接近基本量子限制。这个[...]
来源:SciTech日报快速、精确且可在现场使用：量子级光学频率梳系统能够在短短 25 微秒内测量 0.34 纳米。
韩国标准科学研究所开发了一种尖端的长度测量系统，其精度非常接近基本量子极限。
这款新系统具有卓越的测量精度，并且结构紧凑且耐用，非常适合在实验室环境之外使用。其性能使其成为建立先进长度计量领域下一个标准的有前途的候选者。
准确度目前测量长度最高精度的工具是国家长度测量标准，它对米进行了定义。这些仪器由 KRISS 等顶级计量组织管理，依靠使用单波长激光器的干涉仪来实现纳米级精度。
单波长激光器的问题
单波长激光器产生高度一致的波形，就像尺子上均匀间隔的线一样，这使它们能够以纳米级精度（1-10 纳米，或十亿分之一米）测量距离。
尽管这些系统很准确，但它们一次可以测量的距离受到限制。由于单波长激光器在较窄的光谱范围内工作，因此它们的“标尺”可能会被精细标记，但实际上非常短。