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提升样品制备以进行高级 SEM 分析
在材料科学中，要实现精确且可重复的扫描电子显微镜 (SEM) 分析，需要原始的样品表面。然而，处理和制备方法经常会降低样品的状态，使得观察材料的基本特征变得具有挑战性。在这里，赛默飞世尔科技的 SEM 专家 Britta Siefer 解释了可靠的工作流程如何保持样品的完整性以进行质量分析……
来源:Lab Bulletin如何克服样本完整性
在材料科学中，实现精确且可重复的扫描电子显微镜（SEM）分析需要原始样品表面。但是，处理和制备方法经常降低样本的状况，使观察材料的基本特征挑战。 Thermo Fisher Scientific的SEM专家Britta Siefer在这里解释了可靠的工作流程如何保留样品完整性以进行质量分析。
诸如储能和冶金之类的行业正在通过微观规模的工程材料来推动进步。这取决于使用高级SEM技术（例如元素色散光谱法（ED）和电子反向散射衍射（EBSD））的精确材料表征。但是，为了使这些技术能够对材料特性进行准确的见解，它们需要光滑的，无缺陷的样品表面，这是使用空气敏感或精致材料时的挑战。
平衡准备和污染
平衡准备和污染获得干净样本的第一个障碍在于准备过程，这是成功成像的先决条件。没有适当的准备，污染物和表面不规则性会干扰微观结构特征的表征，从而导致数据不可靠或不完整。
使用最广泛的制备方法之一是使用细砂纸等磨料来使表面光滑。尽管这达到了预期的平滑效果，但它也引入了诸如划痕，涂抹和扭曲之类的文物。这些文物可能会掩盖样品中感兴趣的特征，并且使得很难辨别晶粒边界，相或纳米颗粒分布等特征。
在运输过程中保护样品
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