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相关成像在材料分析中的作用
在对高级材料的开发和分析中，表面化学和结构特性之间的相互作用对于理解材料行为至关重要。但是，由于可能需要使用几种不同的方法（例如扫描电子显微镜（SEM）和X射线光电子光谱（XPS）），因此可能需要使用，以确保从相同的感兴趣区域获得数据至关重要。 Thermo Fisher Scientific频道XPS的Christopher Deeks在这里探讨了如何实现相关成像和表面...
来源:Lab Bulletin将SEM和XPS组合用于化学和结构理解
在对高级材料的开发和分析中，表面化学和结构特性之间的相互作用对于理解材料行为至关重要。但是，由于可能需要使用几种不同的方法（例如扫描电子显微镜（SEM）和X射线光电子光谱（XPS）），因此可能需要使用，以确保从相同的感兴趣区域获得数据至关重要。在这里，Thermo Fisher Scientific的Channel XPS Christopher Deeks探索了实施相关成像和表面分析（CISA）工作流程如何为材料提供了一种有效，全面的方法来应对这一挑战。
纳米结构材料的设计具有复杂的特性，既源于它们的化学成分又源于其结构设计，从而使其行为与其他材料大不相同。根据应用的不同，这些特性可能包括机械强度，耐腐蚀性，电导率，生物相容性或热稳定性。例如，用于电池电极的纳米工程材料可能表现出更大的表面积，以提高其能量存储能力并增强电导率以限制能量损失。
当您考虑材料在操作条件下的性能时，这些复杂性会加剧，在这种情况下，必须评估化学反应性和结构完整性，因为纳米级的微小变化会影响性能。为了真正了解材料特性的性能，必须同时整合结构和化学信息。
用CISA解决挑战
Thermo Scientific Maps软件通过在自动化和用户友好的平台中关联SEM和XPS数据进一步增强了过程。
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