Microsternarchus Javieri Cox Fernandes，Escamilla Pinilla，Alves-Gomes，位于Escamilla Pinilla，Cox Fernandes et alves-Gomes，2025。doi：doi.org/10.1590/1590/1590/1809-4392202202202202202202202202401751 reposerrier，我们描述了一个新的漫画，我们描述了一个新的漫画。 Sp。在Branco河的淹没的稀树草原溪流以及黑人河盆地中部和下部的Terra-Firme溪流中遇到。我们将这种新物种与来自圣巴托洛河，委内
2062 Documenting Traceability and Calibration Intervals
这个2小时的网络研讨会涵盖了计量学可追溯性的基本要素以及支持可追溯性和校准间隔所需的文献证据。它使用NISTIR 6969，GMP 11和GMP 13作为说明的基准，还使用
Legal Metrology: Maintaining Our Trust in Measurements
不知不觉中，计量学及其相关标准和服务在我们的日常生活中发挥着重要作用。我们购买的食品杂货需要称重或测量。预包装产品在生产过程中需要称重或测量。药房的药品是
主要活动：2024 年 11 月 18 日至 20 日 2024 年 11 月 18 日星期一至 11 月 20 日星期三以虚拟方式加入我们，了解 NIST 科学家如何使用计量学、计算机科学和统计学的先进方法来加强法医科学。主题
CHIPS for America Announces New CHIPS Metrology Community of Practice
媒体联系人：Hannah Robinson，hannah.robinson [at] chips.gov (hannah[dot]robinson[at]chips[dot]gov)。今天，CHIPS for America 宣布成立一个新的实践社区，即 CHIPS 计量学社区。社区将促进数据和知识共享
AI-Enhanced Calibration: Redefining Accuracy in Metrological Instruments
航空工程、制药和汽车制造等行业开始依赖人工智能进行计量仪器校准，并重视其无与伦比的准确性和效率。这项技术将如何重塑传统做法？人工智能在计量仪器校准中的作用人工智能在计量学（测量科学）中的应用并不奇怪[…]文章人工智能增强校准：重新定义计量仪器的准确性首先出现在 AiiotTalk - 人工智能 | 机器人技术 | 技术上。
Наилучшие практики качества обслуживания потребителей найдут своё отражение в национальных станд...
莫斯科，2024 年 6 月 18 日– 芬兰化学学会关于化学专业课程和计量学的新化学评论第 504 号《化学学会》（ТК 504）。更多...
Учет и контроль качества электрической энергии обсудили на отраслевой конференции
圣彼得堡，2024 年 5 月 29 日 – 传统科技会议“白夜能量”。计量学。电能核算和质量控制”，致力于计量支持...
Стандартизация и метрология в годы Великой Отечественной Войны
苏联，1941 年 6 月 22 日 – 1945 年 5 月 9 日 – 在我国的主要节日胜利日，Rosstandart 回顾了伟大卫国战争期间标准化专家和计量学家的工作...
NIST SP2200-03: An Evolving Regulatory Landscape for Commercial Electric Vehicle Fueling
作为 NIST OWM 法定计量学特别出版物 2200 系列的一部分，NIST SP 2200-03 不断变化的商用电动汽车加油监管环境提供了对有关联邦举措的各种主题信息的快速访问
5920 Fundamentals of Metrology - SIM Participants Only
为期 5 天的计量学基础研讨会是一门强化课程，向参与者介绍测量系统、单位、良好实验室规范、数据完整性、测量不确定度、测量保证、可追溯性等概念
5919 Fundamentals of Metrology
为期 5 天的计量学基础研讨会是一门密集课程，向参与者介绍测量系统、单位、良好实验室规范、数据完整性、测量不确定度、测量保证、可追溯性的概念
5920 Fundamentals of Metrology - SIM Participants Only
为期 5 天的计量学基础研讨会是一门密集课程，向参与者介绍测量系统、单位、良好实验室规范、数据完整性、测量不确定度、测量保证、可追溯性的概念
