测量系统关键词检索结果

2025年7月17日 07:17

Fraunhofer开发了半导体晶圆生产的“资源有效”测量系统

Fraunhofer develops ‘resource-efficient’ measurement system for semiconductor wafer production

与潜水成像系统合作的光子微系统研究所（IPMS）在资源效率高的半导体制造中取得了一个重要的里程碑。通过在Fraunhofer IPM的洁净室中成功安装光学测量系统，在晶圆生产过程中质量控制所需的精力已大大减少。这项合作摊[…]

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