ZEISS Microscopy Showcases AI-Powered Failure Analysis
ZEISS 在第 50 届 ISTFA 年度会议上宣布了其全部活动安排，该会议将于 2024 年 10 月 28 日至 11 月 1 日在圣地亚哥希尔顿海滨酒店举行。 ZEISS 将提供四场教程和六场论文演讲，展示其在人工智能 (AI) 驱动的故障隔离、故障分析 (FA) 和产量提高方面的专业知识。 ZEISS 还将参加关于行业路线图和人工智能的两场小组讨论，并将参加 Tools of the Trade 之旅……
TESCAN Group opens Demonstration Lab in Tempe
TESCAN 集团重新开放了其现有的坦佩研发设施，并增加了一个展示 TESCAN 最新电子显微镜技术的实验室。该实验室配备了 TESCAN TENSOR STEM 和新推出的 Solaris 2 FIB-SEM，为客户提供动手演示和材料科学与半导体研发、故障分析和过程监控等领域的专业支持……
DNS не отвечает: одна ошибка BGP повлияла на весь интернет
Cloudflare 路由系统大规模故障分析。
