ZEISS Launches New Crossbeam 550 Samplefab FIB-SEM
ZEISS 宣布推出新款 ZEISS Crossbeam 550 Samplefab，这是一款聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM)，专为全自动制备透射电子显微镜 (TEM) 样品（薄片）而优化。ZEISS Crossbeam 550 Samplefab 专为半导体实验室的效率和吞吐量而设计，可基于配方实现常规 TEM 样品制备工作的自动化，包括样品上任意数量的目标点的批量研磨、取出和减薄……
EMDS Enables Automated ARFORGEN Aim Point Visibility for Army Leaders
EMDS 通过将目标点与跨职能信息集成，成为陆军唯一的人员配置目标（M 级）信息自动化来源。
