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The role of correlative imaging in materials analysis
在对高级材料的开发和分析中，表面化学和结构特性之间的相互作用对于理解材料行为至关重要。但是，由于可能需要使用几种不同的方法（例如扫描电子显微镜（SEM）和X射线光电子光谱（XPS）），因此可能需要使用，以确保从相同的感兴趣区域获得数据至关重要。 Thermo Fisher Scientific频道XPS的Christopher Deeks在这里探讨了如何实现相关成像和表面...
