目标:开发机器学习(ML)风险分层模型,以预测全因死亡率和心血管死亡率,同时估算生活方式行为因素对模型功效的影响。方法:使用40岁或40岁以上的成年人的全国代表性样本进行了前瞻性队列研究,该样本是从2007年至2010年的美国国家卫生和营养检查调查中得出的。参与者进行了全面的面试和医疗实验室检查,随后,他们的记录与国家死亡指数有关,以进行进一步分析。结果:在包括7921名参与者的队列中,记录了9。75年的平均随访持续时间,共有1911年死亡,包括585例心血管相关死亡。该模型预测了接收器操作特性曲线(AUC)下的区域的死亡率为0.848和0.829。根据ML分数将参与者分为不同的风险群体被证明有效。所有的生活方式行为与全因和心血管死亡率均表现出反相关性。随着年龄的增长,饮食评分和久坐时间的明显影响变得越来越明显,而体育活动的观察到相反的趋势。结论:我们开发了一种基于生活方式行为的ML模型,以预测全因和心血管死亡率。开发的模型为评估与生活方式相关风险的评估提供了宝贵的见解。它适用于个人,医疗保健专业人员和政策制定者,以做出明智的决定。关键词:心血管死亡率,全因死亡率,生活方式行为,风险分层,死亡率预测,机器学习。
全脑脑是复杂的大脑畸形,这是由于早期胎儿发育过程中大脑不完全的裂解而导致的。这种情况的特征在于普罗德龙(胚胎的前脑)的失败,以正确分成大脑半球的双叶,导致影响大脑和面部特征的异常。根据大脑分裂的严重程度,全脑脑分为四种类型:Alobar Holoporsencephaly:最严重的形式,其中没有脑半球分离,导致单个脑室心室和一个单裂脑。半月骨全脑脑:大脑半球部分分离,大脑的结构在某种程度上介于Alobar和Lobar之间。Lobar Holoporsencephaly:最少的严重形式,具有更好的脑半球分离和更正常的大脑结构。中半球间变体(syntelcephaly):半球在大脑中间没有分离,但可能在前和后方面更正常地分裂。是什么导致全脑脑?
摘要 本文提出了一种基于反转电荷的 MOS 晶体管 7 参数分析模型,旨在开发考虑 MOS 晶体管物理特性的简化分析电路设计方法。所提出的面向设计的模型首次能够描述先进纳米技术的主要短沟道效应以及晶体管漏极电流对漏极电压的依赖性,同时该模型对所有偏置状态(从弱到强反转)和所有工作区域(线性和饱和)均有效。提出了一种基于器件物理的简单程序来估算给定技术的晶体管模型参数。此外,针对不同的设计场景开发了电流导数的解析表达式。通过直接与 28 nm FD-SOI 技术中 N-MOS 晶体管的硅测量值(沟道宽度为 1 µ m,沟道长度为 30 nm、60 nm 和 150 nm)以及使用行业标准紧凑模型执行的模拟进行比较,验证了所提模型的准确性。
焊点的可靠性和质量可能会受到焊料材料的特性及其对 PCB 孔中熔融焊料的填充的影响。含铅焊料材料具有危险性且不环保。欧盟《有害物质限制法》禁止使用某些材料元素 [3,4]。因此,在电子封装组件的焊接应用中引入了无铅焊料材料。此外,氮气的使用可以提高制造业中使用无铅焊料的性能 [4]。但是,由于熔化无铅焊料需要更高的温度,无铅焊料中银含量高于 2% 会因热膨胀系数 (CTE) 高度不匹配而在组装中引起应力 [5]。在这种情况下,激光焊接可以通过控制激光功率和激光束持续时间来解决这个问题,以防止焊料不必要地长时间暴露在热量中。
宏基因组测序是一种最近可行的方法,可以同时表征样品中的ARG,微生物组和病原体的数据,与分离和培养细菌相比,它是一种更有效,更全面的方法。对宏基因组数据的典型分析涉及一种基于组装的方法或基于读取的方法,每种方法都有其自身的好处和限制。宏基因组装配允许对ARGS进行上游或下游研究,并提供对其起源的准确识别。但是,这种方法可能导致信息丢失,因为低覆盖的基因组通常不会组装。相比之下,基于读取的方法可实现所有可用数据的映射,但缺乏探索周围基因组环境或提供准确分类分类的能力。为了应对这些挑战,我们开发了Balrog-mon,这是一种多功能且可重现的NextFlow管道,用于测量病原体和元基因组长阅读测序的ARG,提供“组装”和“无装配”工作流程选项。
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核和线粒体之间的协调对于细胞存活至关重要,因此在这两个细胞器之间在真核细胞演化上建立了许多通信途径。Organelle通信的一条途径是通过膜接触位点,由分子系tether形成的功能性配置。我们描述了原生动物弓形虫的新型核用膜接触位点。我们已经确定了发生在核孔隙的特定接触,并证明了核孔的成分与线粒体蛋白转运之间的相互作用,从而将它们作为分子因特斯强调。核孔或TOM转运成分TGNUP503或TGTOM40的遗传破坏会导致接触位点的减少,从而支持其潜在参与该系绳。TGNUP503耗竭进一步导致特定的线粒体形态和功能缺陷,从而支持核线粒体接触在介导其交流中的作用。通过两种古老的线粒体和核复合物之间相互作用形成的接触发现,为更好地理解真核生物中的线粒体核串扰奠定了基础。
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莫斯科,俄罗斯联邦 电子邮件:mariya.solopchuk.96@mail.ru,bardinaoi@yandex.ru,ngrigoryan@muctr.ru。摘要:这项工作致力于研究印刷电路板 (PCB) 孔化学镀铜之前的清洁调节和微蚀刻阶段的溶液。结果表明,在调节溶液中存在季胺的情况下,PCB 孔的带负电的初始表面会重新带电。这显然促进了随后带负电的钯活化剂胶体颗粒在 PCB 孔中的静电吸附。结果表明,微蚀刻溶液中铜离子的存在会导致表面粗糙度增加,这有助于提高所得金属层与电介质的粘附强度。关键词:印刷电路板、印刷电路板通孔、化学镀铜、通孔金属化、介电表面处理、表面充电、微蚀刻、清洁调节。1. 简介