利用分光光度计系统测量吸收光谱。该系统由 OL 740-20D/IR 光源 (Gooch & Housego) 组成,配备 150 瓦石英卤钨灯,可在 250 nm 至 3500 nm 的波长范围内工作,OL 750-MD 双单色仪 (Gooch & Housego),OL 750- 10 镜面成像光学模块 (Gooch & Housego),816C-SF-6 积分球 (Newport) 和 OL 750-HSD-300 硅探测器模块 (Gooch & Housego),可在 200 nm 至 1100 nm 的波长范围内工作。此外,还使用了 OL 750-C 控制器 (Gooch & Housego),以便在设置和计算机之间提供通信,并使用 OL 83A 可编程直流电流源 (Gooch & Housego) 负责控制钨灯的电流输入。利用白色标准进行相对反射率测量。获得的反射光谱范围从 350 nm 到 1100 nm。结果与讨论
• TRUTHS 卫星将被发射到高度约为 610 公里的极地非太阳同步轨道。TRUTHS 将测量整个地球:陆地、海洋、冰川和大气层,每 61 天至少访问一次地球上的每个区域。• TRUTHS 将拥有两种主要仪器:• 高光谱成像光谱仪 (HIS) 将连续测量从紫外线到红外线(320-2400 纳米)所有波长范围内的窄光谱带辐射,地球上的空间分辨率为 50 米;• 低温太阳绝对辐射计 (CSAR) 将测量入射太阳能并作为机载“黄金标准”。• TRUTHS 还将拥有一个机载校准系统 (OBCS),该系统将使用单色仪将阳光分解成不同的波长,以提供从 CSAR 到 HIS 的校准链路——该过程和参考标准模仿了泰丁顿 NPL 实验室在地面上使用的流程和参考标准。
回顾过去的 1000 年,我们发现红外 (IR) 辐射本身直到 200 年前才为人所知,当时赫歇尔首次报告了温度计实验 [1]。他建造了一个粗糙的单色仪,使用温度计作为探测器,以便测量阳光中的能量分布。继基尔霍夫、斯蒂芬、玻尔兹曼、维恩和瑞利的工作之后,马克斯·普朗克以著名的普朗克定律进一步推动了这一努力。传统上,红外技术与控制功能和夜视问题有关,早期应用仅与红外辐射检测有关,后来通过形成温度和发射率差异的红外图像(识别和监视系统、坦克瞄准系统、反坦克导弹、空对空导弹)。第二次世界大战期间见证了现代红外技术的起源。近五十年来,高性能红外探测器的成功开发使得红外技术在遥感问题上的应用取得了成功。大部分资金用于满足军事需求,但和平应用不断增加,特别是在二十世纪最后十年。这些包括医疗、工业、地球资源和节能应用。医疗应用包括热成像,其中对身体进行红外扫描可以检测出癌症或其他创伤,从而提高体表温度。地球资源测定
回顾过去的 1000 年,我们会发现红外 (IR) 辐射本身直到 200 年前才为人所知,当时赫歇尔首次报告了温度计实验 [1]。他建造了一个粗糙的单色仪,使用温度计作为探测器,以便测量阳光中的能量分布。继基尔霍夫、斯蒂芬、玻尔兹曼、维恩和瑞利的工作之后,马克斯·普朗克以著名的普朗克定律进一步推动了这一努力。传统上,红外技术与控制功能和夜视问题有关,早期应用仅与红外辐射检测有关,后来通过形成温度和发射率差异的红外图像(识别和监视系统、坦克瞄准系统、反坦克导弹、空对空导弹)。第二次世界大战期间见证了现代红外技术的起源。近五十年来,高性能红外探测器的成功开发使得红外技术在遥感问题上的应用取得了成功。大部分资金用于满足军事需求,但和平应用不断增加,特别是在二十世纪最后十年。这些应用包括医疗、工业、地球资源和节能应用。医疗应用包括热成像,其中对身体进行红外扫描可以检测出癌症或其他创伤,从而提高体表温度。地球资源测定是通过使用卫星的红外图像以及
先进的性能、更低的拥有成本、更高的易用性和紧凑的尺寸是现代实验室和生产设施的关键要求。新的生产技术使赛默飞世尔科技的工程师能够将所有这些优势融入 K-Alpha 的设计中。K-Alpha 专为多用户环境而设计。它是第一款提供全自动分析模式的 XPS 工具,从样品输入到报告生成。内置自动化意味着新用户只需经过最少的培训即可生成高质量的样品分析报告。微聚焦单色仪可最大限度地提高仪器的灵敏度和化学状态测定的精度。新能量分析仪和镜头的设计进一步提高了灵敏度。我们已采用先进的电荷补偿技术来处理绝缘样品。K-Alpha 是所有类型固体样品分析的理想仪器,包括无机、有机、生物、冶金、半导体和磁性。集成离子枪可产生质量卓越的成分深度剖面。样品传输和导航完全自动化。独特的 Reflex Optics 用于实时观察样品,与同轴和漫射样品照明相结合,可实现小面积 XPS 的精确设置。Thermo Scientific Avantage 是我们世界一流的 XPS 数据系统,可控制 K-Alpha 的所有功能。
灵敏度 - 数字成像 - 像素 - 量子效率 - 复位 - 正向偏置 - 区域板 - 通道电位 - 全帧成像器 - PPD - 采样频率 - 光子散粒噪声 - VGA - 产量 - 暗固定模式噪声 - 反向偏置二极管 - 收集效率 - 逐行扫描 - 动态范围 - 薄膜干涉 - 固定光电二极管 - 光谱灵敏度 - 饱和电压 - 双线性成像器 - 光子传输曲线 - 行间传输图像传感器 - 电荷耦合器件 - 微透镜 - 暗电流散粒噪声 - E SD - 条纹滤波器 - 数码相机 - 拼接 - 高斯分布 - 硅 - 热噪声 - 传感器结构 - 亮度 - 浮动扩散放大器 - 转换因子 - 闪烁 - MOS 电容 - 辐射单位 - 移位寄存器 - 带隙 - 黄色 - 补色 - 光电门 - 列放大器 - 纹波时钟 - 反转层 - CMOS 成像器 - 对数响应 - 普朗克常数 - 电荷泵 - 阈值电压 - 埋通道 CCD - 暗电流 - 噪声等效曝光 - MSB - 转换因子 -缺陷像素校正 - 边缘场 - 分辨率 - 双相传输 - 正透镜 - 角响应 - PRNU - 波长 - 帧传输成像器 - 电荷注入装置 - 测试 - 通道定义 - 摄像机 - 光晕 - 隔行扫描 - 彩色滤光片 - 自动白平衡 - 虚拟相位 - 拖尾 - 单斜率 ADC - 表面电位 - 耗尽层 - 垂直防光晕 - 多相钉扎 - 电子快门 - PAL - 埃普西隆 - 相关双采样 - 蓝色 - CIF - 洋红色 - 填充因子 - 延迟线 - 线性响应 - 规格 - 结深 - 复位噪声 - 线性图像传感器 - 光学低通滤波器 - 二氧化硅 - 光电二极管 - 勒克斯 - 闪光 ADC - 定时抖动 - 拥有成本 - 封装 - 光刻 - 有源像素传感器 - DSP - 积分时间 - 三相传输 - 光子通量 - 晶圆级封装 - 电荷泵 - 滤光轮 - 有效线时间 - 吸收深度 - 玻尔兹曼常数 - 弱反转 - LSB - 水平消隐 - 光栅滤波器 - 帧抓取器 - 原色 - 拜耳模式- 缩放 - 功耗 - 单色仪 - 模拟数字转换 - 光固定模式噪声 - 无源像素传感器 - 彩色棱镜 - SGA - 氮化硅 - 温度依赖性 - 负透镜 - sigma delta ADC - 混叠 - 插值 - 传输效率 - F 数 - 红色 - 动态像素管理 - 栅极氧化物 - 热漂移 - 热噪声 - 扩散 MTF - 有源像素传感器 - 泄漏器 - 1/f 噪声 - 青色 - 信噪比 - 孔径比 - 奈奎斯特频率 - 非隔行扫描 - 像素内存储器 - 四相传输 - 技术 - kTC 噪声 - 辐射损伤 - 离子注入 - MOS 晶体管 - 内透镜 - 光度单位 - 表面通道 CCD - 延时和集成成像器 - 宽高比 - 绿色 - NTSC - 单芯片相机 -可见光谱 - 调制传递函数 - 同步快门 - 马赛克滤光片 - 背面照明 - 色彩串扰 - 量化噪声 - 逐次逼近 ADC - 压缩 - 漏极 - 多晶硅 - 堆叠 - 光子转换 - 飞行时间 - 吸收系数 - DIL - 收集体积 - 孔 - 四线性成像器 - 单相传输 - 填充和溢出 - 收集效率 - 垂直消隐 - 源极跟随器 - 雪崩倍增 - 辐射 - 横向防晕 - 晶圆上测试 - 自感场 - 自动曝光 - 泊松分布 - 电荷复位 - 伽马