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World File Search System定性测试
开发用于基于 16 nm FinFET 的 FPGA 老化测量的高精度和稳定性测试台
本文介绍了一种测试台的开发，用于测量 Xilinx 的 Zynq UltraScale + FPGA 中使用的 16nm FinFET 的老化情况。在设置中选择并实施了环形振荡器 (RO) 漂移测量方法。然而，RO 电路不仅对老化敏感，而且对温度和电压也敏感。为了减轻对温度和电压的不良敏感性，我们安装了一个调节系统来控制 FPGA 的温度和内部电压，并根据温度和电压表征 RO 频率以应用后测量补偿。我们通过使用 GPS 信号作为时间参考改进了测量电路。进行了 1000 小时测试，测试温度为 (T FPGA = 100 ◦ C) ，测试温度为 (V FPGA = V nom + 25%)，结果显示 RO 频率漂移明显低于 0.1%，测量精度为 0.9 × 10 − 4。
确定和推定测试此表列出并描述了用于裁决的确定性和推定性测试，并可能IM
G0481药物测试，确定性，利用（1）能够识别单个药物并区分结构性异构体（但不一定是立体异构体），包括但不限于gc/ms（gc/ms）（任何类型，单次或tandem）和lc/ms（任何类型，单个或单tandem and tandem and tandem and Tandem and Tandem and exunose aSSASS（E.G），E.G。 FPIA）和酶促方法（例如，酒精脱氢酶）），（2）在所有样品中稳定的同位素或其他普遍认可的内部标准（例如，控制基质效应，信号强度中的干扰和变化），以及（3）方法或药物特定的校准和基质的质量控制材料（E.G.G.，以控制），以控制质量和基质的质量[E.G.，以控制质量和控制质量差异，从而;定性或定量，所有来源，包括每天的标本有效性测试； 8-14药物类别，包括代谢物，如果进行了
关于变化应用稳定性测试的指南
6.2。（F.I.A.1.B）在制造过程230中使用的229个起始材料/试剂/中间体的制造商的变化230或制造商的变化（包括231个相关质量控制测试地点），没有PH。232欧元。适用性证书是批准的档案：拟议的233个制造商使用的合成途径或234个制造条件，可能有可能改变活性物质的重要235质量特征，例如定性和/或236
分区 Ohtomo 稳定性测试可有效分析大型...
摘要 电子电路设计中的一个基本步骤是验证它们至少在给定的一组外部终端上是稳定的，以避免在实践中无法观察到所找到的解决方案。这在微波和毫米波电路中尤其如此，因为它们通常在频域而不是时域中进行分析。因此，无论是在线性还是大信号情况下，都可能发现不稳定的解而不是可观察到的解。不幸的是，与线性情况相比，大信号解的稳定性分析要麻烦得多。特别是，虽然可以将基于奈奎斯特原理的小信号测试转化为大信号等效测试，但代价是矩阵大小显著增加。然而，对于最近才应用于大信号解决方案的 Ohtomo 测试，可以利用问题的结构来显著降低复杂性，从而缩短模拟时间。选择一个真实世界的平衡放大器来验证所提出的方法并说明其实际用途。本文还介绍了该方法在具有大量器件的实际单片电路中的应用。
合成 RNA 寡核苷酸的稳定性测试
摘要 在各种储存条件下测试了三种合成 RNA 寡核苷酸的功能，以模拟运输过程中可能遇到的次优温度。通过标准 T7 内切酶 I (T7EI) 错配检测分析中的 CRISPR-Cas9 基因编辑来测量寡核苷酸的功能。虽然建议在推荐温度 (-20°C) 下储存干燥的 RNA，但所有测试条件均不会对寡核苷酸诱导基因编辑的能力产生不利影响。