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摘要椭圆曲线密码学(ECC)的强度取决于曲线的选择。这项工作分析了标准化曲线中的弱键,即辅助组Z *𝑝小组中的私钥。我们量化了跨标准化曲线的弱键患病率,揭示了由于辅助组订单中众多小除数而引起的潜在脆弱性。为了解决这个问题,我们利用了隐式婴儿步骤巨型步骤算法,该算法将复杂的椭圆曲线离散对数问题转换为z *𝑝中更简单的问题。这可以有效地检测小键亚组中的弱键。我们的发现强调了使用标准化ECC在应用中进行严格密钥测试的重要性。虽然不太可能随机弱键,但恶意演员可以通过操纵关键发电库来利用这一点。为此,我们展示了用户如何通过消除弱密钥来评估其私钥漏洞并减轻风险。因此,这项工作通过积极主动的关键管理实践有助于改善ECC安全性。
混合键合是一种用于堆叠两个结构的技术,例如芯片,晶圆和底物,每个结构都由金属和周围的介电材料组成。在混合键合过程之后,金属互相键合,并且介电材料也无缝连接。混合键合被认为是3D IC整合中的最终技术之一。但是,在混合键合的出现之前,首先引入了Cu-to-Cu键合,以实现3D IC集成的概念。在1999年至2002年之间,REIF在麻省理工学院的小组提出了一种晶圆级3D集成方案,其中包括使用处理晶片(Si Carrier晶片),研磨技术和Cu-to-to-Cu直接键合,如图1 [1]所示。要键合的Cu结构由Cu垫组成,类似于当今使用的Cu凸起和CU支柱。
1。简介:如今,随着网络的增长,数据正在广泛交换在网络上。每个成长领域的基本需求是交流。每个人都希望保护他或她的数据,以确保其个人或专业。为了掩盖原始消息的内容并确保只有预期的当事方才能读取和处理数据,密码学涉及将通信转换为不可知的形式。传输通信的人和接受通信的人是发送者和接收者。犯罪者是非法试图拦截通信的非法尝试。隐藏或隐藏的通信被称为溪流密码,而原始陈述被称为主流。加密是将纯文本转录为密文的过程,而解密是相反的。
•带有四个答案选项的多项选择(MC)问题,只有一个正确的答案。所有MC项目都值得一分。多序列(MS)问题,具有五到七个答案选项和一个以上正确的答案。对于MS项目,该问题确定了正确答案的数量,除非它是两部分依赖(TPD)的一部分。在TPD中,B部分中的问题将被措辞“选择所有适用的内容”。所有MS项目都值得一分。•技术增强项目(TEI):使用技术以真实的方式捕获学生理解,以前很难通过机器进行大规模评估。te项目最多值得两点,并且可能包括项目类型,例如但不限于拖放,下拉菜单和热点。•分为两部分:要求学生回答两个相关问题,总计两个点。两部分的项目可以结合MC,MS和/或TE项目类型。
动荡的,像我们自己一样的革命时代 - 但是在他开始写作之前,他将获得一种情感态度,他将永远无法完全逃脱。是他的气质训练是他的工作,但是如果他完全摆脱了早期的影响,他将杀死他的写作冲动。我认为写作散文的任何速度都有四个伟大的写作动机。他们是:(i)纯粹的利己主义:渴望看起来很聪明,被谈论,死后被记住,让自己回到童年时代的大人身上; (ii)审美热情:分享一个人认为有价值的经历,不应该错过(iii)历史冲动:渴望看到事物,以了解真实事实,并为他们的后代(iv)政治目的使用真实事实:渴望在某种方向上推动其他人的社会观念,以改变他们应该努力的社会观念。
拟人化是人类精神状态对非人类实体的归因。这项研究的目的是开发日语版本的拟人化问卷中的个体差异(IDAQ-J),并通过三项研究来检查其因子结构,可靠性和有效性。因素分析表明,IDAQ-J具有三个一阶因子(拟人化自然实体,技术设备和非人类动物)和一个二阶因子(一般拟人化)。IDAQ-J表现出较高的一致性和中等测试可靠性。在有效性方面,IDAQ-J与自然和机器的拟人化表现出了中等的积极关系,并且预测与机器人和目的论信念相互作用的负面情绪低下。另一方面,IDAQ-J表现出与非人类动物的拟人化,对自然保护的态度以及对机器人的恐惧的弱关系。需要进一步的研究来解释IDAQ-J的有效性。
电子 - 光子相互作用被称为决定电和热性能的主要机制之一。,它改变了载体运输行为,并将基本限制设定为载体移动性。建立电子如何与声子相互作用以及对载体传输性质的影响对于开发高效率电子设备的影响至关重要。在这里,直接观察到由Bifeo 3外延薄膜中电子偶联介导的载体传输行为。声音子是由反压电效应产生的,并与光载体结合。通过电子 - 音波耦合,由于热载体和声子之间的耦合,已经观察到甜甜圈形载体分布。热载体准焊接的运输长度可以在1 ps内达到340 nm。结果提出了一种有效的方法来研究电子 - 音波相互作用与时间和空间分辨率的影响,这对于设计和改善电子设备非常重要。
剥离 ZrSe 3 中激子的强各向异性应变可调性 Hao Li、Gabriel Sanchez-Santolino、Sergio Puebla、Riccardo Frisenda、Abdullah M. Al-Enizi、Ayman Nafady、Roberto D'Agosta *、Andres Castellanos-Gomezgi * Hao Liebla、Dr. Sergio Puebla。里卡多·弗里森达 (Riccardo Frisenda) 博士Andres Castellanos-Gomez 材料科学工厂。马德里马德里科学研究所 (ICMM-CSIC),马德里,E-28049,西班牙。电子邮件:Andres.castellanos@csic.es Gabriel Sanchez-Santolino GFMC,马德里康普顿斯大学材料物理系和多学科研究所,28040马德里,西班牙 1,沙特阿拉伯教授。 Roberto D'Agosta 纳米生物光谱组和欧洲理论光谱设施 (ETSF)、聚合物和先进材料系:物理、化学和技术、巴斯克大学 UPV/EHU、Avenida Toulouse 72、E-2018 西班牙巴斯蒂安,FUEU,圣塞巴斯蒂安科学中心,Plaza Euskadi 5,E-48009 毕尔巴鄂,西班牙电子邮件:roberto.dagosta@ehu.es 关键词:三硒化锆 (ZrSe 3 )、2D 材料、应变工程、各向异性、带隙 我们研究单轴应变对 Zr-Seco 带结构的影响,其中半导体以 3 结构各向异性为标志。利用改进的三点弯曲试验装置,使薄 ZrSe 3 薄片沿不同的晶体取向受到单轴应变,并通过微反射光谱监测应变对其光学特性的影响。获得的光谱显示出在单轴拉伸时发生蓝移的激子特征。这种转变在很大程度上取决于施加应变的方向。当薄片沿 b 轴受拉时,激子峰偏移约 60-95 meV/%,而沿 a 轴,偏移仅达到约 0-15 meV/%。采用从头算方法研究了沿不同晶体方向施加单轴应变对ZrSe 3 的能带结构和反射光谱的影响,结果与实验结果高度一致。 1. 简介