图 3. (a) XRD 和 (b) 扫描电子显微镜 (SEM) 图像,在 GC 电极上电沉积 HKUST-1,施加 -1.4 V 的恒定电位(相对于 Ag/AgCl)7200 秒。倒角立方体的平均直径为 855 ± 65 nm。图 (b) 显示略微缩小的图像,图 (cd) 显示电极上不同位置的放大图像。
我们介绍了两个框架的耦合 - 伪开放的边界模拟方法称为恒定电位分子动力学模拟(CμMD),结合了量子力学/分子动力学(QMMD)计算 - 描述与电解质接触的石墨烯电极的性能。然后将所得的CμQMMD模型应用于散装溶液中的三个离子溶液(LICL,NaCl和KCl),范围为0.5 m至6 m,与带电的石墨烯电极接触。我们在这里描述的新方法提供了一种模拟协议,以控制电解质溶液的浓度,同时包括完全极化的电极表面的效果。由于这种耦合,我们能够准确地对双层的电极和溶液侧进行建模,并彻底分析带电接口处电解质的性质,例如电解质的筛选能力和电势元曲线。我们还报告了对每个离子物种分析的整个浓度范围内积分电化学双层电容的计算,而量子机械模拟则可以访问差异和积分量子电容。我们强调了微妙的特征,例如钾石墨烯的吸附或离子形成簇的趋势有助于石墨烯储存电荷的能力,并暗示对淡化的影响。
摘要:氧化锌(ZnO)是一种众所周知的半导体材料,由于其出色的电气,机械和独特的光学特性。ZnO纳米颗粒被广泛用于微电源和光电设备的工业规模生产,包括金属氧化物半导体(MOS)气体传感器,光发射二极管,晶体管,晶体管,电容器和太阳能电池。这项研究提出了通过静电纺丝技术优化纳米化ZnO的合成参数。盒子 - Behnken设计(BB)已使用响应表面方法(RSM)应用,以优化选定的静电纺丝和烧结条件。成功研究了施加电压,尖端到收集器距离和退火温度对ZnO颗粒尺寸的影响。扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)图像确保了乙酸聚乙烯基吡咯烷酮 - 乙酸锌(PVP-ZNAC)的形成,并在退火后纳米结构的ZnO。X射线衍射(XRD)模式表示具有高结晶度的ZnO的六角形结构的纯相。最小尺寸的ZnO纳米颗粒以16 kV的恒定电位合成,收集器和喷嘴之间的距离为12 cm,流量为1 ml/h,钙化温度为600°C,结果表明,纳米化的ZnO表明ZnO具有尺寸和形式的精确浓度,可以通过vary和Sinoring sinoring sinoring和Sinoring sinering snerurnning andersranting sinering anderstrance andersranting sinering andering sinering andoring sinering andornning。
定义 空气比释动能 - dE tr 除以 dm 的商,其中 dE tr 是空气体积元素中光子释放的所有电子的初始动能之和,dm 是该体积元素中的空气质量。空气比释动能的 SI 单位是戈瑞 (Gy)。光束质量 - 用于指具有特征半值层并由恒定电位千伏产生的特定 X 射线束。校准 - 通过与适当的国家标准进行比较来表征剂量计或测量仪器的响应的过程。校准系数 - 没有电离室时的空气比释动能与电离室中该辐射产生的电荷的商,以 Gy/C 为单位表示。校准因子 - 在没有电离室的情况下空气比释动能或曝光量与电离室的静电计读数之比(无量纲)。有效能量 - 具有与所讨论光谱相同半值层的单能 X 射线束的能量。曝光量 - 曝光量 (X) 是 dQ 除以 dm 的商,其中 dQ 是当所有电子完全停止在质量为 dm 的空气中时,在空气中产生的所有同号离子的电荷之和。曝光量的 SI 单位是库仑每千克 (C/kg);特殊曝光量单位伦琴 (R) 等于 2.58E-4 C/kg。半值层 - (HVL) 作为光束衰减器添加的指定材料的厚度,该衰减器将空气比释动能速率降低至未衰减光束空气比释动能速率值的一半。均匀性系数 - (HC) 第一个半值层与第二个半值层的比率。监测仪器 - 用于监测辐照期间空气比释动能速率稳定性的仪器。四分之一值层 - (QVL) 作为光束衰减器添加的指定材料的厚度,该衰减器将空气比释动能速率降低至未衰减光束空气比释动能速率值的四分之一。第二个半值层 - 四分之一值层和半值层之间的差值。X 射线单元 - 由高压发生器、X 射线管和 X 射线控制器组成的系统。