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World File Search System故障概率
一种基于信心的方法，将幸存者纳入……
摘要 — 概率总电离剂量 (TID) 故障评估已扩展至包括幸存者数据，从而能够在没有故障数据的情况下将故障概率限制在所需的置信水平。该扩展提供了一种分析经过 TID 测试的微电子器件的方法，而无需达到故障模式，这是使用商用现货 (COTS) 技术的任务经常遇到的情况。使用 I 型删失似然公式和预期设备性能的实际上限，故障概率空间由可变环境背景下的置信轮廓线限制。该框架适用于针对零件故障或所考虑环境假设的任何类型的分布。此外，该框架可以预先用于规划未来的设备 TID 测试，在满足生存要求的同时最大限度地降低成本。当零件来自同一批次但从遗产中获得的约束量有限时，遗产数据也可用作幸存者，以进一步降低测试成本。总之，该框架能够以硬度保证方法对经过最大剂量测试的耐辐射设备以及飞行遗产进行正式的、数学上严格的分析。
APG80N10P/T 80A 100V TO-220 TO-263
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。
AP9928A 8.5A 20V SOP-8
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。
AP68N04NF 68A 40V PDFN5x6-8L
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。
AP10H03DF 35A 30V PDFN3X3-8L
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。
AP4606A 6A 30V N+P SOP-8L
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。
AP15P04D -15A -40V TO-252-3L
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。
AP90N03D 90A 30V TO-252
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。
AP30P03D -30A -30V TO-252
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。
AP80N03D 80A 30V TO-252-3L
4、APM Microelectronics Semiconductor CO., LTD. 致力于提供高质量、高可靠性的产品。然而，任何半导体产品都存在一定的故障概率。这些概率性故障可能会引发事故或事件，危及人身安全，导致烟雾或火灾，或造成其他财产损失。在设计设备时，应采取安全措施，以防止此类事故或事件发生。这些措施包括但不限于安全设计的保护电路和防错电路、冗余设计和结构设计。