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功率循环测试的 DUT 温度系数依赖性
[5] R. Schmidt 和 U. Scheuermann，“使用芯片作为温度传感器 - 陡峭横向温度梯度对 Vce(T) 测量的影响”，2009 年第 13 届欧洲电力电子及应用会议，巴塞罗那，2009 年，第 1-9 页。
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