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E15 价值：燃油经济性和节约
美国能源部 (DOE) 橡树岭实验室的数据“表明，与纯汽油相比，使用 E15 燃料不会对车辆性能（排放、燃油经济性和维护问题）造成统计上显著的损失”。此外，加州大学河滨分校的研究表明，考虑到实际驾驶条件，使用 E15 燃料的燃油经济性可以提高 6% 以上，在最坏情况下则下降 1%。
jpl d-5703 喷气推进实验室可靠性分析...
本文档是可靠性工程科 (521) 内许多人努力的成果。首先，该任务的推动力来自科长 Tom Gindorf。其次，大部分人力来自 Jim Arnett 的项目可靠性工程组。特别感谢 Harry Peacock 对附录 B 和 C 中提供的电路最坏情况和零件应力分析的广泛讨论。Frank Halula 提供了附录 A 中提供的故障模式、影响和危害性分析 (FMECA) 指南的最终更新。Charles Hayes 和 Sheldon Johnson 修订了故障树指南，以包括用于制表纠正措施的矩阵形式。Jim Clawson 和 Mark Gibbel 为文档主体和附录 E 中提供的指南提供了热分析讨论。Steve Gabriel 和 Rene Aguero 提供了单事件效应指南（附录 G）。Paul Bowerman 提供了“自动分析工具”（第 VI(B) 节）的讨论。 Merlin Grossman 博士讨论了“可靠性分配和评估”（第 VI(C) 节）。Roy Lewis 为附录 B 中的最坏情况分析指南提供了有关数字计时的意见。
单向功能和零知识
上面的表征还适用于统计和计算零知识参数系统。我们将此特征进一步扩展到具有知识复杂性o（log n）的证明系统。特别是，如果GAPMCSP具有具有知识复杂性O（log n）的证明系统，则表明单向函数的存在的特征是CZK的最差硬度。我们通过证明NP在存在指数性的硬辅助输入单向函数的情况下以知识复杂性ω（log n）的互动性证明系统进行补充（这是比指数硬的单向函数较弱的原始功能）。我们还表征了CZK的非确定性硬度在pspace̸⊆am的弱假设下，CZK的非确定性硬度的不均匀计算单向函数的存在。我们提出了结果的两个应用。首先，我们简化了通过NP的元素函数来证明元计算问题的单向功能，以及Hirahara（stoc'23）给出的NP的最坏情况的证明。第二，我们表明，如果NP具有La-conic零知识参数系统，则存在一个公用密钥加密方案，其安全性可以基于NP的最坏情况。这改善了以前的结果，该结果假定存在无法区分的混淆。
不确定的大脑。面对恐惧的指南......
担心意味着一遍又一遍地重复一个故事或想象一个可能的情况。从大脑的角度来看，担心是一种为真实事件做准备的“心理排练”。你重复一个想法的次数越多，你的大脑就越有可能将这个想法视为一种习惯，需要永久储存并习惯性地推出。当你担心时，你的想象力就会越来越容易推出最坏的情况。
通过 ACM 模型实现低功耗 CMOS 差分放大器
摘要 — 统计技术经常用于预测电子系统的性能。工艺变化考虑了制造时材料参数的不确定性，会对模拟集成电路的产量产生不利影响。对由于制造参数变化而导致的模拟电路关键输出参数变化进行统计分析，以预测产量，是模拟芯片制造中必不可少的步骤。在这项工作中，我们使用严格的统计方法来检查典型模拟电路的性能。我们设计了一个 65 nm 技术的两级 CMOS 差分放大器配置，使用 ACM 模型参数来检查工艺变化下的产量。我们采用三种不同的蒙特卡罗模型（均匀、高斯、最坏情况）来检查设计的 CMOS 差分放大器关键性能参数的统计变化。据报道，在典型工艺参数变化 10% 的情况下，关键差分放大器参数、最大增益、增益裕度和相位裕度都会发生变化。在最坏情况分布的情况下，变化最大，而在高斯分布的情况下，变化最小。结果表明，工艺变异对设计的CMOS差分放大器的成品率有显著影响。在高斯分布的情况下，增益裕度（dB）、相位裕度（度）和最大增益（dB）的标准差分别为11、25和24。
基于空间的VHF
全局电离层闪烁模型（GISM）可用于预测闪烁对给定链路几何形状的影响。必须使用仔细考虑时间，空间和地磁环境来评估电离层行为的范围，并指出闪烁事件持续30分钟至小时，并在局部电离层日落之后开始。准确的预测对于电信系统的设计仍然具有挑战性。鉴于当前模型准确性的极限，与给定的链路可用性有关的所有纬度和飞机站高程范围都无法精确量化电离层传播损失。在最坏的情况下，在赤道区域，在极端最坏情况下，可能会预期的大量超过10 dB的衰减（如图5所示，报道为1.5 GHz的15 dB）。在每个纵向位置，在春分时期和多年的最大太阳活动中，在日落后的一段时间内观察到最高强度。需要进一步的工作才能适当地考虑航空VHF卫星系统的设计时电离层损失。在此类技术研究方面具有先前经验的州/行政部门，鼓励分享有关弹性对卫星系统效应的数据。在此阶段，建议考虑以下三个参考电离层损失：