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同时间隔数 - 滴
我们通过称为同时间隔号的图形宽度参数提出了一种概括间隔图等级的新方法。此参数与间隔图的同时表示问题有关，并定义为标签的最小数字D，使得该图允许d-相对的间隔表示，即间隔和标签集的分配到顶点的分配，以便在相应的间隔相对间隔内仅相邻两个角度，以及它们的实验室集合，以及它们的实验室集合。我们表明，此参数是NP -HARD来计算并给出参数的几个边界，特别表明它夹在路径宽和线性中的MIM宽度之间。对于具有有界参数值的图类类别，假设该图配备了带有恒定标签数量的同时间隔表示，我们为集团，独立集和主导集合问题提供了FPT算法，以及独立支配集合和着色问题的硬度结果。独立集和统治集的FPT结果是同时间隔数和解决方案大小。相比之下，已知两个问题都是线性含量宽度加上溶液尺寸的hard。
功率循环测试的 DUT 温度系数依赖性
[5] R. Schmidt 和 U. Scheuermann，“使用芯片作为温度传感器 - 陡峭横向温度梯度对 Vce(T) 测量的影响”，2009 年第 13 届欧洲电力电子及应用会议，巴塞罗那，2009 年，第 1-9 页。
| 增材制造的数字线程 |
AM 设计、功能集成...... 掌握必须深度集成的数字线程 工艺：质量、过程控制、成本/生产力、后制造和表面光洁度 主粉末：化学、回收、生产力、成本 增强/智能功能：复杂系统的系统分析将推动我们的设计 多材料工艺将实现复杂功能 电子和电气元件集成日趋成熟
应用与计算数学部
本报告总结了美国国家标准与技术研究所 (NIST) 信息技术实验室应用与计算科学部最近的技术工作。第一部分（概述）概述了该部门的活动，包括去年技术成就的亮点。第二部分（特色）详细介绍了今年特别值得注意的八个项目。接下来的第三部分（项目摘要）简要概述了过去一年中所有活跃的技术项目。第四部分（活动数据）列出了部门工作人员参与的出版物、技术讲座和其他专业活动。本文件涵盖的报告期为 2013 年 10 月至 2014 年 12 月。如需更多信息，请联系 Ronald F. Boisvert，邮寄地址 8910，NIST，马里兰州盖瑟斯堡 20899-8910，电话 301-975-3812，电子邮件 boisvert@nist.gov，或访问该部门的网站
应用和计算数学部
本报告总结了 NIST 信息技术实验室应用与计算科学部的技术工作。第一部分（概述）概述了该部门的活动，包括去年技术成就的亮点。第二部分（特点）详细介绍了今年特别值得注意的十个项目。接下来是第三部分（项目摘要），简要概述了过去一年中活跃的所有技术项目。第四部分（活动数据）列出了部门工作人员参与的出版物、技术讲座和其他专业活动。本文件涵盖的报告期为 2011 年 10 月至 2012 年 12 月。如需更多信息，请联系 Ronald F. Boisvert，邮寄地址：8910，NIST，Gaithersburg，MD 20899-8910，电话：301-975-3812，电子邮件：boisvert@nist.gov，或访问该部门的网站：http://www.nist.gov/itl/math/index.cfm。