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纳米 - 卫星外部太阳能的单个事件闩锁检测
本文介绍了纳米 - 卫星外部太阳辐射系统的单个事件闩锁检测（SEL）检测。在这项研究中，使用电路测试和仿真进行了SEL检测分析。电力子系统（EPS）是所有立方体总线子系统的一部分，它包括太阳阵列，可充电电池和电源控制和配电单元（PCDU）。为了提取太阳阵列产生的最大功率，需要一个峰值功率跟踪拓扑。这可能会导致SEL，并存在太阳能产生的高压。要克服SEL问题，必须进行电路测试和仿真，以便可以轻松检测和减轻SEL的流动。使用的方法是使用微控制器，将在特定时间内创建SEL。可编程的集成电路（PIC）用于减轻SEL效果。表明，SEL发生在特定时间内非常快。当使用Spenvis进行仿真时，结果显示，仅在UITMSAT-1上影响单个事件障碍（SEU）。
罗马尼亚空军“枪骑兵”战斗机升级为“猎鹰”战斗机 - 4Aviation
1962 年 2 月 13 日，罗马尼亚空军从俄罗斯盟友手中接收了首批 12 架米格 21F13 型战斗机。这些飞机由苏联飞行员驾驶到德韦塞卢空军基地。下一批飞机于 1963 年 8 月 15 日交付，当时第二个中队加入米哈伊尔科格尔尼恰努的第 57 战斗机团。当时，新型超音速“鱼床”战斗机与大量采购的现役米格 15 和米格 17 飞机一起飞行。20 世纪 60 年代末至 70 年代中期，米格 21 的其他子型号相继问世。 1964 年，米格 21PF 的初始版本交付，1965 年 1 月至 7 月期间，共接收了 38 架飞机，随后又接收了 56 架米格 21PFM，其中第一批飞机于 1966 年 1 月交付。罗马尼亚空军对这些飞机有自己的型号名称。米格 21PF 被称为 RFM“雷达、防御、现代化”，米格 21PFM 被称为 RFMM“雷达、防御、发动机、现代化”。维护人员和工程师也将米格 21PFM 称为米格 21SPS。
高性能辐射硬化NMOS仅基于Schmitt触发闩锁设计
基于缩放晶体管的抽象CMOS电路通常比采用大面积对应物的电路更容易受到辐射环境中能量颗粒引起的软误差的影响。在本文中，在Schmitt触发器上构建了一个软误差闩锁，它完全用NMOS晶体管实现，并提出了额外的电压助推器（我们称为NST-VB）。为了评估电路的辐射弹性，我们通过分析各种闩锁内部敏感节点的临界电荷来识别最敏感的节点。我们还检查了必需闩锁的线性能量传递（LET），并观察到NST-VB闩锁具有0：386mevcm 2 = mg的提高LET，与0：231mevcm 2 = mg和0：365mevcm 2 = mg 2 = mg 2 = mg 2 = mg 2 = mg，分别为latch and latch and st latch。在过程变化分析中，我们进一步检查了5K蒙特卡洛模拟，以分析设备可变性对我们的设计的影响，并观察到所提出的NST-VB闩锁具有1：96关于ST LATCH的可变性较小的关键电压。此外，NST-VB闩锁的逻辑闪烁概率为48.32％，而ST闩锁的逻辑概率为53.04％。此外，与其他考虑的闩锁相比，计算并评估了拟议闩锁有效性的功率延迟面积比（QPAR）的关键电荷。
idld：互锁的双环闩锁设计，成本低和三个节点启动
晶体管需要低电源电压，因此不幸的是，电路节点上的临界电荷会降低。因此，在航空航天应用中，电路容易受到甚至低辐射能量引起软误差的颗粒的撞击[1]。辐射颗粒包括质子，中子，α颗粒，重离子，电子等[2]。粒子的碰撞会产生许多电子和孔，这些电子和孔可以在受影响的晶体管的排水口收集，从而导致瞬态电压干扰。在顺序/存储电路中，存储节点的值可以暂时翻转（如果可以恢复）或长时间翻转（如果它是无法恢复的，并且需要在下一个时钟周期中需要刷新），从而导致单个事件沮丧（SEU）[3]。请注意，单节点误（SNU）是一种类型的SEU。在组合/逻辑电路中，逻辑门的输出值可能会受到干扰，输出单个事件瞬态（set）脉冲[4]。SEU和集合是典型的软错误，在最坏情况下会导致电路失败甚至系统崩溃。因此，航空应用非常需要软误差。
新型 RS-232 IC 具有 1µA 电源电流、±15kV ESD...
ESD 测试的注意事项 1) 务必使用标准测试设备。ESD 测试的可重复性本身已经非常困难，更不用说通过自制设备引入额外的未知数。对于 IEC 801-2 测试，Maxim 使用 Schaffner 的 NSG 435 ESD 枪。对于按照 MIL-STD-883 方法 3015.7 进行测试，Maxim 使用 IMCS 的 Model 4000 测试仪。 2) 在 ESD 测试之前和之后，务必对被测设备执行一整套参数测试。ESD 通常会导致灾难性的故障，但也可能引入细微的和潜在的损坏，这些损坏之后会表现为现场故障。尤其应密切监测漏电流以检测这种损坏。 3) 务必测试整个 ESD 电压范围（而不仅仅是上限）。许多 ESD 保护结构可以承受保证的最高 ESD 电压，但在较低水平下会失效。Maxim 测试每个器件引脚，从 200V 开始，以 200V 为增量递增，直到发生故障或达到 ESD 测试仪的极限。4) 务必要求性能符合所有相关标准。例如，MIL-STD-883 模拟 IC 在组装和分销（运输）过程中遇到的 ESD。仅适用于连接到本地系统外部的引脚的 IEC 801-2 模拟可能发生在终端设备中的 ESD 事件。5) 务必在通电和断电时执行 IEC 801-2 测试。一些竞争 IC（包括双极型和 CMOS）在通电时受到 ESD 事件时会出现 SCR 闩锁。SCR 闩锁可以 c
快速设置指南一眼警告
在使用此保险箱之前，请检查保险箱以确保门闩锁正确。您可以使用随附的机械键执行快速测试。打开并关闭安全的5次。如果您发现任何问题或缺陷，请勿使用该产品。请通过support@vaulteksafe.com向Vaultek客户支持发送电子邮件。始终检查以确保安全门关闭时已锁定。此保险箱使用坚固的闩锁系统。牢固关闭前门中心附近。门需要牢固的压力，并在正确关闭时会自动锁定。尽快更改默认代码，以防止未经授权访问您的保险箱。不要丢失钥匙。发生停电的情况下，四个AA电池将在低功率模式下持续约3个月。不要随时放置或存储备用键。请勿将装载的枪存储在本机中。枪支本质上是严重的，必须尊重。负责任地存储。将该产品远离小孩，因为包装包含可能成为窒息危险的小物品。
警告快速设置指南的电源
在使用此保险箱之前，请检查保险箱以确保门闩锁正确。您可以使用随附的机械键执行快速测试。打开并关闭安全的5次。如果您发现任何问题或缺陷，请勿使用该产品。请通过support@vaulteksafe.com向Vaultek客户支持发送电子邮件。始终检查以确保安全门关闭时已锁定。此保险箱使用坚固的闩锁系统。牢固关闭前门中心附近。门需要牢固的压力，并在正确关闭时会自动锁定。尽快更改默认代码，以防止未经授权访问您的保险箱。不要丢失钥匙。发生停电的情况下，四个AAA电池将在低功率模式下持续约3个月。不要随时放置或存储备用键。请勿将装载的枪存储在本机中。枪支本质上是严重的，必须尊重。负责任地存储。将该产品远离小孩，因为包装包含可能成为窒息危险的小物品。
tmux9616x 220-V高压1：1，16通道开关带有闩锁免疫数据表（Rev. a）
5.1 Absolute Maximum Ratings........................................ 5 5.2 ESD Ratings............................................................... 5 5.3 Thermal Information.................................................... 5 5.4 Recommended Operating Conditions......................... 6 5.5 Electrical Characteristics: TMUX9616........................ 7 5.6 Switching Characteristics: TMUX9616........................ 8 5.7 Digital Timings: TMUX9616........................................ 9 5.8 Timing Diagrams ...................................................... 10 5.9 Typical Characteristics.............................................. 12 6 Parameter Measurement Information .......................... 14
片上尖峰分类，有效的中位数... 基于闩锁的快速下垂响应的设计 llmcarbon
摘要 - Spike Corting是从细胞外记录中解码大规模神经活动的关键过程。神经探针的进步有助于记录大量神经元，并增加了通道计数的增加，从而导致较高的数据量并挑战了当前的On-Chip Spike Sorters。本文介绍了L-Sort，这是一种新颖的芯片尖峰分类解决方案，其中中位数尖峰检测和基于本地化的聚类。通过组合中位数近似值和提出的增量中值计算方案，我们的检测模块可实现记忆消耗的减少。此外，基于定位的聚类利用几何特征而不是形态特征，从而消除了在特征提取过程中包含尖峰波形的内存耗费缓冲区。使用Neuropixels数据集进行评估表明，L-SORT可以通过减少硬件资源消耗来实现竞争性排序精度。对FPGA和ASIC（180 nm技术）的实现，与最先进的设计相比，面积和功率效率显着提高，同时保持了可比的精度。，如果与使用相同数据集评估的最新设计相比，我们的设计将大约×10面积和功率效率达到相似的精度。因此，L-SORT是可植入设备中实时高通道计数神经处理的有前途的解决方案。