简介 2024 年 9 月,英国教育标准局 (Ofsted) 和护理质量委员会对特殊教育需要和残疾 (SEND) 地方伙伴关系进行了检查,结果显示人们对德比郡有 SEND 的儿童和年轻人的经历和结果存在重大担忧。检查结果发现德比郡的服务存在广泛的系统性缺陷,并强调了父母和看护者及其有特殊教育需要和残疾 (SEND) 的儿童和年轻人一直表达的伙伴关系面临的挑战。这些挑战包括教育和健康评估等待时间过长、儿童和年轻人缺课、不得不等待专科健康支持以及沟通和参与度差。伙伴关系已对这些失误表示道歉,并致力于通过本影响计划解决检查报告中确定的所有领域。影响计划确定了伙伴关系将在未来 18 个月内开展的工作,也是我们未来需要迈出的旅程的起点。
NIST 的前身国家标准局 (NBS) 于 20 世纪 50 年代中期开始致力于满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用,但在 20 世纪 60 年代初,该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法,其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五种工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐,旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目的成果得到了广泛应用,包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
NIST 的前身国家标准局 (NBS) 于 20 世纪 50 年代中期开始致力于满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用,但在 20 世纪 60 年代初,该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法,其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五种工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐,旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目的成果得到了广泛应用,包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
本微波频率半导体放大器和振荡器数据表格由美国国家标准局电子器件数据服务处编制。该服务处成立于 1948 年,旨在向该局工作人员提供电子管技术数据,后来服务范围扩大到政府和工业界的其他科学家和工程师。在此项目实施过程中,大量有关电子管和半导体器件的信息被积累在穿孔卡片上。为了使这些信息更容易获得,设计了一个系统,能自动将数据制成手册。目前的表格包括《微波管数据表格》,NBS 手册 104(1967 年);《接收管数据表格》,NBS 手册 103(1967 年);《东欧电子器件数据表格》,NBS 报告 9925(1968 年);以及《截至 1967 年 10 月苏联电子设备已出版数据汇总》,NBS 技术说明 441,目前正在更新。
维护国家计量标准并提供符合这些标准的测量手段和方法;确定材料的物理常数和特性;开发用于测试材料、设备和结构的方法和仪器;为政府机构提供科学和技术问题的咨询服务;发明和开发满足政府特殊需求的设备;以及制定标准实践、规范和规范。这项工作包括基础和应用研究、开发和基本常数,于 1970 年 8 月 3 日至 8 月 7 日在马里兰州盖瑟斯堡的国家标准局举行。会议汇集了理论、实验和应用科学家,目的是讨论现代精密物理测量技术及其应用,以及现代理论发展,以确定工程标准和规范变化;开发和提出新的工程实践;并开发和改进将其研究成果转移给最终用户的机制。该实验室由以下中心组成:
NIST 的前身国家标准局 (NBS) 于 20 世纪 50 年代中期开始工作,以满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用,但在 20 世纪 60 年代初,该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅电阻率。NBS 科学家开发了一种实用的非破坏性方法,其精度比以前的破坏性方法高出十倍。该方法是五种工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。第二个项目由 EIA 专家小组推荐,旨在解决晶体管的“二次击穿”故障机制。该项目的成果得到了广泛应用,包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
简要讨论了传统计量方法和测量保证程序之间的差异。分析了与长量块(5 英寸至 20 英寸)相关的历史数据,以便为与根据测量保证程序的理念制定的新测量过程的结果进行比较提供基础。新过程的结果与过去的工作一致。显示了国家标准局在长度传播中使用的选定长量块的当前长度值分配和相关的不确定性。长量块是用于比较测量过程的越来越多的类似特征鲜明的工件标准的一部分。详细讨论了开发新测量过程所使用的方法和技术。作者的意图是,除了技术内容之外,本文主要是测量过程分析领域的教程。本文本质上是一份关于将 NBS 专著 103“现实不确定性和质量测量过程”中首次提出的技术扩展到长度测量领域的报告。
历史回顾 NIST 的前身是美国国家标准局 (NBS),该局于 20 世纪 50 年代中期开始工作,以满足新兴半导体行业的测量需求。虽然这项工作最初侧重于其他政府机构的晶体管应用,但在 20 世纪 60 年代初,该局向美国材料与试验协会 (ASTM) 和美国电子工业协会 (EIA) 寻求行业指导。ASTM 的首要任务是准确测量硅的电阻率。NBS 的科学家开发了一种实用的无损测量方法,其精度比以前的破坏性方法高出 10 倍。该方法是五项工业标准和广泛用于校准行业测量仪器的电阻率标准参考材料的基础。由 EIA 专家小组推荐的第二个项目解决了晶体管的“二次击穿”故障机理。该项目成果得到了广泛应用,包括解决导致航天飞机发射延迟的主发动机控制问题。
SEDA 衷心感谢以下组织为完成此路线图所做的宝贵贡献和投入:经济规划单位(EPU)、种植业及原产业部(MPIC)、房屋及地方政府部(KPKT)、砂拉越公用事业部(MoU)、州政府 - 州经济促进局(UPEN)、能源标准局(ST)、证券委员会(SC)、马来西亚投资发展局(MIDA)、国家固体废物管理局(JPSPN)、马来西亚棕榈油局(MPOB)、国家能源有限公司(TNB)、马来西亚半岛及沙巴单一买家(SB)、电网系统运营商(GSO)、沙巴电力有限公司(SESB)、砂拉越能源有限公司(SEB)、马来西亚光伏产业协会(MPIA)、马来西亚小型水电产业协会(MAHSIA)、马来西亚生物质产业联合会(MBIC)、马来西亚沼气协会、马来西亚天然气协会、可再生能源行业参与者和金融机构。
2W:两轮车 3W:三轮车 4W:四轮车 AC:交流电 BEE:能源效率局 BIS:印度标准局 CEA:中央电力局 CMS:中央管理系统 CNA:中央节点机构 CPO:充电点运营商 C-rate:充电率 DC:直流电 DDC:德里对话与发展委员会 DER:分布式能源资源 DERMS:分布式能源资源管理系统 DHI:重工业部 DISCOMs:配电公司 DT:配电变压器 DTL:德里运输有限公司 ECS:等效车位 EESL:能源效率服务有限公司 e-MSPs:电动交通服务提供商 EV:电动汽车 EVCI:电动汽车充电基础设施 EVSE:电动汽车供电设备 FAME-II:加快电动汽车普及与制造 FC:快速充电器 GNCTD:德里国家首都辖区政府 HT:高压 IEC:国际电工委员会