灵活的电子设备包括可以弯曲,滚动,折叠和拉伸的电路和组件,而不会失去其工作能力。在1960年代,为卫星开发了微小的tiny,tiny,tine tine tine,这增加了敏化电子设备的概念。1高级,Quible和大型处理的材料,包括导电聚合物,有机半导体和无定形硅。近年来,直接到方形底物上的集成电子组件已广受欢迎。 2 - 4近年来,acibille电子设备增加了越来越多的应用,例如ex ible传感器,能量收割机,电池,变压器,显示屏等。 5,6与传统,刚性和脆性电子产品不同,未来的电子产品必须更轻,便携,更便携,生物相容性,可穿戴,并提供更好的机械稳定性。 7 - 9 A A a a a a a a a a a a a iakile电子设备由无机或有机化合物制成,例如金属纳米颗粒或纳米线,金属氧化物,碳或带有导电材料的聚合物。 由于开发iakible电子设备的发展,它接口直接到方形底物上的集成电子组件已广受欢迎。2 - 4近年来,acibille电子设备增加了越来越多的应用,例如ex ible传感器,能量收割机,电池,变压器,显示屏等。5,6与传统,刚性和脆性电子产品不同,未来的电子产品必须更轻,便携,更便携,生物相容性,可穿戴,并提供更好的机械稳定性。7 - 9 A A a a a a a a a a a a a iakile电子设备由无机或有机化合物制成,例如金属纳米颗粒或纳米线,金属氧化物,碳或带有导电材料的聚合物。由于开发iakible电子设备的发展,它接口
产品尺寸以换取其他功能。在这些情况下,可以通过在空气流中最佳排列电子电路或添加热播放器将热量转移到外部包装中来最大化冷却。在个人设备中 - 例如,具有功能强大的微处理器,图形处理单元和高级通信功能的高端笔记本计算机需要采用更多的空间效率冷却策略。为了保持小尺寸和重量,笔记本计算机通常包含低功率的电子组件以较低的频率和性能运行。另一方面,使用高功率组件的高端产品遭受了寿命降低的寿命,这是由于缺乏足够冷却的设备增大而导致的权衡。
TI资格测试是一种降低风险的过程,该过程旨在确保客户应用程序中的设备寿命。晶圆制造过程和包装级可靠性以多种方式评估,其中可能包括加速的环境测试条件,随后脱离了实际使用条件。评估设备的可制造性,以验证强大的组装流量并确保向客户供应的连续性。ti增强产品具有针对联合电子设备工程委员会(JEDEC)标准和程序的行业标准测试方法的资格。Texas Instruments增强产品符合Geia-STD-0002-1航空航天合格的电子组件。
TI资格测试是一种降低风险的过程,该过程旨在确保客户应用程序中的设备寿命。晶圆制造过程和包装级可靠性以多种方式评估,其中可能包括加速的环境测试条件,随后脱离了实际使用条件。评估设备的可制造性,以验证强大的组装流量并确保向客户供应的连续性。ti增强产品具有针对联合电子设备工程委员会(JEDEC)标准和程序的行业标准测试方法的资格。Texas Instruments增强产品符合Geia-STD-0002-1航空航天合格的电子组件。
浸入式冷却越来越重要。在浸入冷却系统中,电子组件直接放入容器中,并浸入介电液中。由浸入的成分产生的热量直接被液体吸收。与空气或间接液体(水 - 糖)冷却相比,该技术具有多个优势。首先,浸入冷却液具有优质的传热能力。这些流体具有较高的热导率,可以非常有效地散发热量,从而获得更好的温度控制,并使系统以非常高的功率密度运行而不会过热。这种效率提高同时导致能源消耗的减少。最后,均匀冷却可最大程度地减少热应力,从而延长了组件的寿命。
2024年底的流动率2024年末出版,Witbe发布了2230万欧元的合并营业额,比2023年下降了-5%。退休的CA(exc.销售对Witbox制造所需的电子组件的亚洲分包商的销售额低于我们的估计,为2210万欧元(2450万欧元的预测欧洲债券)。这一年的标志是宏观经济环境,需要在活动上进行重要风。后者是由1/成本合理化政策和技术参与者中的成本合理化政策和解雇浪潮所体现的,流媒体行业的2/合并运动(例如,体育流平台项目的停止)以及3/美国的选举和政治背景。
使用Segger的软件,公司可以从一个Chippliefer更改为另一个,哦 - 不,客户注意到这一点。企业家声称,要告别专有系统,然后转向Segger。即使更昂贵:值得访问两个供应商,麦肯锡咨询部门建议在新的Stuchips中。因为半导体制造商不再可靠地提供。“在情况放松之前,一切都会变得更糟,” Forrester-Ana-Lyst Glenn O'Donnell警告说。全世界已经静止不动了几个月,因为缺少电子组件。亚洲的承包商不再符合芯片繁荣的束缚。行业协会世界半导体贸易统计数据预计,今年的全球销售额将大约增加。
抽象电子组件使用具有不同机械和热性能的各种聚合物材料,以在恶劣的使用环境中提供保护。然而,机械性能的可变性,例如热膨胀系数和弹性模量,通过对长期对电子设备可靠性产生的不确定性引入不确定性来影响材料选择过程。通常,主要的可靠性问题是焊接关节疲劳,其造成了电子组件的大量故障。因此,在预测可靠性时,有必要了解聚合物封装(涂料,盆栽和底部填充物)对焊接接头的影响。已经表明,由于聚合物封装的热膨胀,焊料中存在拉伸应力时,疲劳寿命大大降低。将拉伸应力受试者焊接到环状多轴应力状态中,发现比常规的循环剪切负荷更具破坏性。为了理解其对微电子焊接关节的疲劳寿命的影响,必须隔离拉伸应力成分。因此,为了使无PB的焊接接头构造出独特的标本,以使其符合波动的拉伸应力条件。本文介绍了热机械拉伸疲劳标本的构建和验证。热循环范围与盆栽膨胀特性相匹配,以改变焊接接头施加的拉伸应力的大小。焊接接头几何形状的设计具有比例因子,该比例因子与BGA和QFN焊接接头有关,同时保持简化的应力状态。FEA建模以观察热膨胀期间焊接接头的应力应变行为,以了解各种盆栽材料特性。焊接接头中轴向应力的大小显示出依赖于热膨胀和模量的系数以及热循环的峰值温度。由于样品的热循环辅助,由于盆栽材料的热膨胀而具有各种膨胀性能,焊料接头经历的拉伸应力的大小与焊接的幅度相关联,并为带有封装的电子包装中焊料关节的低周期疲劳寿命提供了新的见解。