四甲基磷族化合物最近才因其作为红外非线性光学 (IR-NLO) 材料的优势而受到关注,2 - 9 '16 '17 与更受欢迎和研究更多的硫族化物相比。我们为磷化物开发的合成方法包括磷与原子混合的难熔前体预熔 M+Si 的反应,从而发现了几种以前无法获得的化合物。21819 在本研究中,我们将这种方法扩展到砷化物。基于标题化合物 lrSi 3 As 3 的合成和发现的简易性,预计许多其他金属四甲基砷化物也具有同样令人兴奋的特性。报道了 lrSi 3 As 3 的结构-性质关系。
然而,氮化物点的发射线通常不均匀地加宽,与其寿命极限相比至少加宽 100 倍,10,11 这最终限制了它们的不可区分性。加宽是由光谱扩散引起的,光谱扩散是由点附近的电荷载流子的捕获和释放产生的,从而产生了变化的局部电场。通过量子限制斯塔克效应 (QCSE),这导致点的发射能量发生变化。这种效应对氮化物 QDs 比对砷化物 QDs 更强,因为首先氮化物材料的强极性导致氮化物 QDs 中的激子具有较大的永久偶极子,从而增加了与静电环境的耦合并放大了光谱扩散的强度。 12 其次,与砷化物点相比,氮化物点的生长方法改进时间较短,而且它们还表现出更高的点缺陷和位错密度,这些缺陷和位错密度可以充当载流子的陷阱。13–15 光谱扩散是氮化物点产生高度不可区分的光子的最大障碍,因为
摘要 本文分析了一种由III族材料(铟、镓)和V族材料(磷化物、砷化物)统一构成的新型双栅极MOSFET(DG MOSFET)。由于其对短沟道效应的免疫、漏电流的减少和更高的扩展潜力,DG MOSFET成为低功耗应用最舒适的器件之一。在本文中,我们研究了基于磷化铟(InP)和砷化镓(GaAs)的DG MOSFET通过取代基于硅的传统DG MOSFET对最佳性能和漏极电流特性的影响。晶体管的沟道长度设定为20纳米。这两种器件都使用NanoHub模拟器建模,并使用Matlab检查了特性。通过相应的绘图结构对特性进行了描述性分析——能带结构、ID vs V GS特性、ID vs V GS特性、跨导。从提供的结果来看,基于 InP 的 DG MOSFET 器件提供的导通电流为 10 -3 A,优于基于硅和砷化镓 (GaAs) 的 DG MOSFET 器件。关键词:DG MOSFET、GaAs、InP、导通电流、关断电流
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