XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System美国国家标准与技术研究所
健康评估测量质量保证计划
本文件中可能会标识某些商业实体、设备或材料，以便充分描述实验程序或概念。此类标识并不意味着美国国家标准与技术研究所的推荐或认可，也不意味着这些实体、材料或设备一定是可用于此目的的最佳实体、材料或设备。美国国家标准与技术研究所跨机构或内部报告 8343 Natl.研究所标准技术跨机构实习生报告 8343，317 页（2021 年 1 月）本出版物可从以下网址免费获取：https://doi.org/10.6028/NIST.IR.8343
NIST 出版物书目
美国商务部，Ronald H. Brown，部长 技术管理局，Mary L. Good，技术部副部长 美国国家标准与技术研究所，Arati Prabhakar，主任
标准参考资料 1744
美国商务部，Ronald H. Brown，部长 技术管理局，Mary L. Good，技术部副部长 美国国家标准与技术研究所，Arati Prabhakar，主任
DHS/NIST 研讨会：支持持久的标准...
Eric K. Lin 博士目前担任美国国家标准与技术研究所 (NIST) 实验室项目代理副主任。在此职位上，他负责 NIST 所有科学和技术实验室的指导和运营指导，以及其他职责。在此之前，Lin 博士曾担任美国国家标准与技术研究所 (NIST) 材料测量实验室 (MML) 主任。MML 活动包括工业、生物和环境材料和工艺的成分、结构和特性的基础研究，以及认证参考材料的开发和传播、严格评估的数据和其他测量质量保证计划。他的贡献获得了总统早期科学家和工程师奖 (PECASE)、商务部银质奖章和 William P. Slichter 奖。
NIST 电磁场部门书目
美国商务部，William M. Daley，部长 技术管理局，Gary R. Bachula，技术代理副部长 美国国家标准与技术研究所，Robert E. Hebner，代理主任
nistir 5076 - NIST 技术系列出版物
美国商务部，William M. Daley，部长 技术管理局，Gary R. Bachula，技术代理副部长 美国国家标准与技术研究所，Robert E. Hebner，代理主任
标准参考材料：抗反射铬线宽标准 SRM 473，用于校准光学显微镜线宽测量系统
美国商务部，芭芭拉·哈克曼·富兰克林，部长 技术管理局，罗伯特·M·怀特，技术部副部长 美国国家标准与技术研究所，约翰·W·莱昂斯，主任