XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System老化时间
电子设备可靠性预计程序
6. 方法 I：零件计数................................................................................................................6-1 6.1 可用选项...............................................................................................................6-1 6.2 稳态故障率................................................................................................6-1 6.2.1 器件稳态故障率................................................................................6-1 6.2.2 单元稳态故障率......................................................................................6-2 6.3 第一年乘数.............................................................................................................6-2 6.3.1 器件有效老化时间......................................................................................6-2 6.3.2 器件第一年乘数.............................................................................................6-3 6.3.3 单元第一年乘数.............................................................................................6-5 6.4 工作表................................................................................................................6-5 6.5 示例.............................................................................................................................6-5 6.5.1 示例 1：案例 1（表格 2 和 3）........................................................................6-5 6.5.2 示例 2：案例 2（表格 2 和 4）..............................................................6-6
电子设备可靠性预计程序
6.方法 I：零件计数......................................................................................................6-1 6.1 可用选项......................................................................................................6-1 6.2 稳态故障率.............................................................................................6-1 6.2.1 设备稳态故障率.............................................................................6-1 6.2.2 单元稳态故障率.............................................................................6-2 6.3 第一年乘数.............................................................................................6-2 6.3.1 设备有效老化时间.............................................................................6-2 6.3.2 设备第一年乘数.............................................................................6-3 6.3.3 单元第一年乘数.............................................................................6-5 6.4 工作表.............................................................................................................6-5 6.5 示例.............................................................................................................6-5 6.5.1 示例 1：案例 1（表格 2 和3)...................................................6-5 6.5.2 示例 2：案例 2（表格 2 和 4）....................................................6-6
BTI 老化现象对模拟放大器影响的研究
摘要 CMOS 技术的扩展允许设计更复杂的系统，但同时也带来了一些可靠性问题。特别是，大幅扩展的微电子技术受到偏置温度不稳定性 (BTI) 老化现象的影响，这种现象导致晶体管阈值电压的绝对值随老化时间增加，从而降低微电子电路的可靠性。在本文中，我们估计了 BTI 对开环配置的运算放大器 (OPAMP) 以及基于 OPAMP 的三个卓越模拟放大器的性能下降。结果表明，BTI 会严重影响所研究电路的性能，并且这种性能下降会随着工作温度的升高而恶化。我们还简要介绍了一种可能的低成本监控方案，用于检测由 BTI 引起的 OPAMP 性能下降。我们的监控器的有效性已通过布局前电气模拟得到验证，结果表明它可以可靠地用于评估 OPAMP 的老化性能下降。
ZEV 项目情况说明书
Flex-Ion 电池创新中心是 Ventra Group Co. 的一个部门，它将与合作伙伴 eCAMION 合作，建立一个先进锂离子电池制造卓越中心。合作伙伴将专注于几项核心制造工艺创新，包括：(a) 将电池单元的平均化成和老化时间从 6 天缩短至 3 天，从而将制造成本降低 10%，并使制造产量比现有技术翻一番；(b) 开发电池电极的干式涂层工艺，从而消除电池制造工艺中耗能、耗时且成本高昂的干燥步骤；(c) 将平均浆料混合时间从 12 小时缩短至 3 小时，从而确保质量控制并实现显著的节能效果； (d) 使用电池创新中心生产的电池创建一个集成的能源存储系统，从而减少设施自身的电网电力需求，降低其对上游电力基础设施的影响并最大限度地降低能源运营费用；(e) 将预测性人工智能应用于热和光学机器视觉技术，以改善浆料的均匀性并减少电极制造废料。
研究固体颗粒材料的太阳吸收和热稳定性的研究
使用固体颗粒作为传热液（HTF）具有克服商业浓缩太阳能（CSP）植物中缺点的巨大潜力。固体颗粒热量储存（TES）系统允许从材料的角度从高温和低成本中实现高热性能。高温下基于CSP固体颗粒系统的转化效率在很大程度上取决于用作HTF和存储培养基的材料的光学特性和热物理性能。本研究旨在提供更多的实验数据和证据，证明使用颗粒固体进行CSP应用。在750ºC和900ºC下不同的老化时间后，研究了碳化硅（SIC），硅砂（SiO 2）和赤铁矿（Fe 2 O 3）的硅（Sio 2）和赤铁矿（Fe 2 O 3）的比热容量。太阳能吸收率在衰老过程中略有增加，除了二氧化硅砂，在最初的100小时内降低了其吸收性，达到了高原。在老化治疗后，SIC和二氧化硅砂的比热容量增加。但是，对于氧化铁，衰老后的特异性热容量较低。黑色硅碳化物SIC被证明是最高900ºC的最佳选择，因为它显示出最高的太阳能吸收率（96％）和最高的热量存储能力。关键字：太阳吸收；浓缩太阳能（CSP）；固体颗粒，热能