我们投入了大量的工程时间和资金来制造比我们的 dp/p 3300 更可靠的打印机。没有人能够做到这一点。包括我们。我们所做的是开发一系列新的高速缓冲 LINE/PRINTERS。它们被称为 dp/p 4000 系列。我们目前正在为每分钟 600 行和 1,000 行的型号写订单。对于 4000 系列,我们没有改变我们的设计方法。我们使用了您期望任何数据产品 LINE/PRINTER 具有的所有简化的电子和机械功能。例如,我们有独特的无摩擦锤击机制。没有繁琐的连杆。没有摩擦点。只需快速、准确、长期、低维护的打印。然后,我们有无创伤性送纸系统。启动平稳,送纸平稳,停止平稳。没有离合器。没有刹车。没有弹簧。没有狗。只需加载即可。此外,没有旋钮。其他打印机需要调节旋钮。我们的不需要。数据产品 LINE/ PRINTER 无需调节。永远不需要。如您在右侧看到的,我们确实对机柜做了一些改动。4000 系列的所有部件都封装在高格调的外壳中。这样打印机看起来更好。运行起来也更安静。纸屑留在里面,这是它该去的地方。所以,这是真的。没有哪款打印机比我们的旧款 3300 型号更可靠。但现在有更快、同样可靠的打印机:4000 系列。我们很乐意向您发送有关它们的新数据公告。数据产品公司 8535 Warner Drive / 加利福尼亚州卡尔弗城 / 电话:837-4491
CMS-A-CC-1-1-TH:数字逻辑核心课程1:理论:04学分:60小时集成电路:(5小时)双极逻辑系列:DTL,TTL Not Gate,TTL NAND NAND NAND GATE,TTL NAND NON GATE,TTL NON GATE,TTL NOR GATE,TTL NON GATE,OPEN COLLECTOR,FANOR,fan-in-fan-in,fan,Out; MOS Logic Families: NMOS, PMOS, CMOS, SSI, MSI, LSI and VLSI classification Number Systems : (5 hours) Weighted and Non-Weighted Codes, positional, Binary, Octal, Hexadecimal, Binary coded Decimal (BCD), Gray Codes, Alphanumeric codes, ASCII, EBCDIC, Conversion of bases, Parity bits, Single Error bit detection and校正代码:锤击代码,固定和浮点算术:加法,减法,乘法和除法。Boolean Algebra: (8 hours) Fundamentals of Boolean Expression: Definition of Switching Algebra, Basic properties of Switching Algebra, Huntington's Postulates, Basic logic gates (AND, OR, NOT), De- Morgan's Theorem, Universal Logic gates (NAND, NOR), Minterm, Maxterm, Minimization of Boolean Functions using K-Map up-to four variables, Two level and multilevel使用逻辑门实现,简化逻辑表达式。组合电路:(20小时)一半加法器,完整加法器(3位),半减法器,全部减法器(3位)以及使用基本逻辑大门(OR和,不是)和通用逻辑门(NAND&NOR)(NAND&NOR),Multibit Adder-ripple-ripp-ripp-cruction-nourter corral and and and and and bcd aDder,bcd adder a adder a adder a dractor bcd adder a adder a dracter,bcd adder a adder,1 and and and and and and and bcd adder a adder a adder a adder,1 1位,2位,3位和4位比较器使用基本逻辑门。数据选择器 - 多工器:扩展(级联),还原,功能实现,通用函数实现,多功能实现。
在理解新的,但同时是旧的建议方面取得了巨大进展。实际上,在最后一轮中针对候选人[4,23]的一些突破性的隐性结果敦促NIST为数字签名开放一个额外的回合[1],期望在签名和关键大小之间实现潜在的硬性问题和比率的更多多样性。在这一额外的一轮中,NIST表示他们希望选择具有较小签名和不基于结构化晶格的快速验证的方案。适合描述的直接候选者是基于UOV [19]的多元签名,其本质上具有很小的签名。这些缺点是他们通常拥有巨大的公共钥匙,并且不能保证建筑的安全性。在频谱的另一端,是沉重但可证明的菲亚尔·沙米尔(Fiat-Shamir)签名。在几年的过程中,由于通用签名大小的巨大改进,他们从极低效率低下到合理的标准化候选人。现在,根据菲亚特 - 沙米尔范式,在额外的回合中有超过12个候选人。其中三个,Meds [11],Alteq [22]和更少的[3]使用Goldreich,Micali和Wigderson的GMWσ-Protocol [17],最初是在图均等概率上提出的,但可以从任何难题的问题中构成。例如,MEDS使用矩阵代码等价问题,其中对象是ma-trix代码,而等效性是双向的双向指行使线性变换。alteq使用一般线性群的交替的三连线形式等效性,但现在起作用在三个“侧面”上。最后,少量使用lin- ear code等效性,其中对象是锤击代码和等价缩放排列的。在所有这些方案中,异构体是在签名中编码的,并且典型地构成了其中的大多数。找到同量法的紧凑表示形式,因此直接影响签名的大小。在本文中,我们的目标是更有效地编码异构体,同时保持对其他性能指标(公共密钥大小和计算性能)的影响。
我在纽约地铁时开始搜索。我的孩子们在抱怨,四列火车立刻尖叫到车站,我把手放在耳朵上并畏缩了 - 噪音震耳欲聋。在城市,飞机,汽车,机械和声音的钝咆哮是生活的事实。没有逃脱的逃脱,我开始被它疯狂。我需要找到一个可以重新夺回和平感的地方。这个地方越安静,那就越轻松。我决定继续执行任务,以发现是否存在绝对的沉默。我前往地下两公里的修道院和一个矿山 - 都很安静,但不是地球上最安静的地方。我最兴奋的一个地方是明尼苏达州Orfield实验室的Anechoic Chamber。这是一个隔热的小房间,该房间是隔离的,隔离了混凝土和钢层,可以阻止外部噪音来源,内部衬有吸收所有声音的缓冲液。甚至地板也是悬挂的网眼,以阻止任何步行声。如果在20分贝上测量了软弱的耳语,则无声室是其中的16。同室房间比地球上任何其他地方都要安静得多。具有讽刺意味的是,大多数人远没有和平,而是发现其完美的安静令人沮丧。被剥夺了通常的放心的环境声音会造成恐惧 - 它解释了为什么感觉剥夺是一种折磨的一种形式。宇航员在NASA的Anechoic Chambers进行了部分培训,因此他们可以学会应对空间的沉默。声音的存在意味着事物在起作用;它照常业务 - 当缺乏声音时,这标志着故障。我听说在一个态室中呆了15分钟以上,可能会引起极端症状,从幽闭恐惧症和恶心到惊恐发作和听觉幻觉 - 您实际上开始听到事情。一位小提琴家在几秒钟后尝试了它,并在门上锤击,要求放开,因为他对沉默如此不安。我预定了45分钟的会议 - 很久以前没有人待在这么长时间之前。我感到担忧的原因有两个:我会发疯和撕裂
DNA是一种用于在生物体中携带遗传信息的核酸。这是一种由两个可能的氮基形成的双链分子,即抑制碱(腺嘌呤和鸟嘌呤)和嘧啶(胞嘧啶 - 胸腺素)和两个化学上极性末端,即5'和3'。watson -Crick互补(WCC)的关系,其特征为C = T,G C = C,反之亦然,用于结合DNA的碱基。在1994年,Adleman [1]讨论了使用DNA分子的汉密尔顿路径问题。通过在DNA分子中编码一个小图来解决此(NP完整)问题,其中使用标准方案(例如WCC关系)进行了所有操作。由于大规模的并行性,DNA计算成为研究人员中有强大的工具,以解决计算上的困难问题。此外,对合成的DNA和RNA分子进行了实验,以控制其组合约束,例如恒定的GC - 含量和锤击距离。线性代码已探索了近三十年,但是该研究领域在Hammons等人的出色工作之后经历了惊人的速度。[2]当他们在z 4上建立线性代码与其他非线性二进制代码之间的关系时。之后,许多作者[3-6]都考虑了具有环结构的字母,并通过特定的灰色图发现了许多有限端的线性代码。在线性代码类别中,由于其理论丰富性和实际实现,环状代码是关键和研究最多的代码。最近,许多作者[7 - 13]使用环上的环状代码构建了DNA代码。例如,Bayram等。[7]和Yildiz和Siap [13]分别探索了环F 4 + V F 4,V 2 = V和F 2 [V] /⟨V 4-1⟩的DNA代码。在2019年,Mostafanasab和Darani [12]讨论了链环F 2 + U F 2 + U 2 F 2上的环状DNA代码的结构。Liu等。 [14]在f 4 [u] /⟨u 3⟩上的奇数长度的循环DNA代码上工作。 另一方面,Boucher等人。 [15]引入了偏斜的循环代码,并发现了许多新的线性代码。 此外,在[16,17]中,已经建立了这些代码的更多特性。 最近,Gursoy等。 [18]使用偏斜的循环代码研究了可逆的DNA代码。 后来,Cengellenmis等。 [19]从环上的偏斜循环代码f 2 [u,v,w]研究了DNA代码,其中u 2 = v 2 + v = w 2 + w =Liu等。[14]在f 4 [u] /⟨u 3⟩上的奇数长度的循环DNA代码上工作。另一方面,Boucher等人。[15]引入了偏斜的循环代码,并发现了许多新的线性代码。此外,在[16,17]中,已经建立了这些代码的更多特性。最近,Gursoy等。[18]使用偏斜的循环代码研究了可逆的DNA代码。后来,Cengellenmis等。[19]从环上的偏斜循环代码f 2 [u,v,w]研究了DNA代码,其中u 2 = v 2 + v = w 2 + w =
图 3.6(b):钢 B 的破坏性试验结果与非破坏性 ABI 方法确定的主曲线叠加。仅获得两个不稳定断裂 ......................................................................................................................................42 图 3.7(a):SMA 焊缝的破坏性试验结果与非破坏性 ABI 方法确定的主曲线叠加。在 0 o C 时未获得不稳定断裂 .............................................................................................................................43 图 3.7(b):FCA 焊缝的破坏性试验结果与非破坏性 ABI 方法确定的主曲线叠加....................................................................................44 图 3.8(a):SMA 焊缝的正则化图。破坏性测试结果和非破坏性测试结果的参考温度分别为 -62 o C 和 -48 o C。........45 图 3.8(b):FCA 焊缝的正则化图。破坏性测试结果和非破坏性测试结果的参考温度分别为 -9 o C 和 -49 o C。..........45 图 3.9:钢 A 的标准化图。破坏性试验结果和非破坏性试验结果的参考温度分别为 -77 o C 和 -60 o C.................................46 图 4.1:疲劳试验样品示意图 ......................................................................................50 图 4.2(a):应变应用与时间示意图 .............................................................................51 图 4.2(b):与应变应用相对应的机械磁滞回线(图 4.2(a))。................................................................................................................51 图 4.2(c): 对应于应变循环的 B 场测量(图 4.2a)........................................................52 图 4.3(a): 机械磁滞随循环次数变化的不同阶段.........................................................................................................52 图 4.3(b): 机械磁滞和 B 场的阶段与循环次数的关系.........................................................................53 图 4.4(a): 磁滞损失和 B 场/循环与循环次数的关系(低循环疲劳).........................................................................54 图 4.4(b): 磁滞损失和 B 场/循环与循环次数的关系(高循环疲劳).........................................................................55 图 5.1: 本程序中使用的 MT 样本示意图.............................................................................57 图 5.2: 样本照片,显示一个焊缝上的点焊探针脚趾。另一焊趾经过打磨和锤击处理....................................................................................58 图 5.3:使用 MWM 传感器沿焊缝横向进行的渗透性测量示例.............................................................................58 图 5.4:疲劳试验台上安装有 PD 探头的样本.............................................................................59 图 5.5(a):NPD 读数与循环次数.........................................................................................................60 图 5.5(b):NPD 读数与循环次数(通道 12 和参考探头)....................................................60 图 5.6(a):原始 PD 读数与循环次数(通道 12).........................................................................61 图 5.6(b):原始 PD 读数与循环次数(参考探头).........................................................................61 图 7.1:裂纹扩展仪示意图(CPA 图案).............................................................................67断裂股线与电阻的关系......68 图 7.3(a):在缺口两侧安装两个仪表的中拉伸试样照片.........................................................................................................69 图 7.3(b):疲劳试验装置照片.........................................................................................................69 图 7.4:使用改进和标准安装程序的两个仪表在疲劳试验期间的电压与时间关系图.........................................................................70 图 7.5(a):使用改进安装程序的仪表的电压与时间关系图(图 7.4 的缩放图).........................................................................................71