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Actel Fusion 根据 RTCA DO-254 认证
总结摘要 近年来，航空业正朝着在机载安全关键系统中使用可编程逻辑器件的方向发展。为了能够验证这些可编程设备（例如FPGA）的功能，航空业使用了名为 RTCA DO-254 的机载电子硬件设计保证指南。与此同时，PLD 行业正在开发复杂的嵌入式片上系统解决方案，在单个芯片上集成越来越多的功能。本论文研究了根据 RTCA DO-254 尝试认证片上系统解决方案时出现的问题。用作嵌入式 FPGA 的示例，具有集成模拟和数字功能的 Actel Fusion FPGA 芯片将根据验证指南进行测试。结果表明，当今的嵌入式片上系统解决方案无法验证是否可用于机载安全关键系统。
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半导体公司的十年：1988 年版
新兴技术公司 56 模拟 IC 56 ASIC 58 数字信号处理 59 分立半导体 60 砷化镓 60 存储器 62 微型元件 64 光电子器件 65 电信 IC 65 其他产品 66 磁泡存储器 67 V. 公司简介 (139) 69 A&D Co., Ltd. 69 Acrian Inc. 71 ACTEL Corporation 74 Acumos, Inc. 77 Adaptec, Inc. 79 Advanced Linear Devices, Inc. 84 Advanced Microelectronic Products, Inc. 87 Advanced Power Technology, Inc. 89 Alliance Semiconductor 92 Altera Corporation 94 ANADIGICS, Inc. 100 Applied Micro Circuits Corporation 103 Asahi Kasei Microsystems Co., Ltd. 108 Aspen Semiconductor Corporation 111 ATMEL Corporation 113 Austek Microsystems Pty.Ltd. 116 Barvon Research, Inc. 119 Bipolar Integrated Technology 122 Brooktree Corporation 126 California Devices, Ihc.131 California Micro Devices Corporation 135 Calmos Systems, Inc. 140 © 1988 Dataquest Incorporated 六月
R22 M.Tech. ECE JNTUH 贾瓦哈拉尔·尼赫鲁......
1. 揭示使用 FPGA 的设计方法。2. 深入了解故障模型。3. 了解用于故障检测的测试模式生成技术。4. 设计时序电路中的故障诊断。5. 通过案例研究了解流程设计。单元 - I 可编程逻辑器件：可编程逻辑器件的概念、SPLD、PAL 器件、PLA 器件、GAL 器件、CPLD 架构、FPGA FPGA 技术、架构、virtex CLB 和切片、FPGA 编程技术、Xilinx XC2000、XC3000、XC4000 架构、Actel ACT1、ACT2 和 ACT3 架构。 [教材-1] 第二单元 用状态图和状态表分析和推导时钟时序电路：时序奇偶校验器、信号跟踪和时序图分析-状态表和状态图-时序电路的通用模型、序列检测器的设计、更复杂的设计问题、状态图构建指南、串行数据转换、字母数字状态图符号。多时钟时序电路的需求和设计策略。[教材-2] 第三单元 时序电路设计：时序电路的设计程序-设计示例、代码转换器、迭代电路的设计、比较器的设计、控制器 (FSM) - 亚稳态、同步、FSM 问题、流水线资源共享、使用 FPGA 的时序电路设计、时序电路的仿真和测试、计算机辅助设计概述。 [教材-2] 第四单元故障建模和测试模式生成：逻辑故障模型、故障检测和冗余、故障等效性和故障定位、故障主导性、单个故障卡住模型、多个故障卡住模型、桥接故障模型。通过常规方法、路径敏感化技术、布尔差分法、KOHAVI 算法、测试算法-D 算法、随机测试、转换计数测试、签名分析和测试桥接故障对组合电路进行故障诊断。[教材-3 和参考文献 1] 第五单元时序电路中的故障诊断：电路测试方法、转换检查方法、状态识别和故障检测实验、机器识别、故障检测实验设计。[参考文献 3]
R22 B.Tech。 EEE教学大纲Jntu Hyderabad R22 M.Tech。数字系统和计算机电子产品... R19 M.Tech欺骗/DECS R22 M.Tech。 VLSI/ VLSI设计/ VLSI系统设计 div> R19 M.Tech。机器设计
1。使用FPGA公开设计方法。2。可以深入了解故障模型。3。了解用于故障检测的测试模式生成技术。4。在连续电路中设计故障诊断。5。使用案例研究在流量的设计中提供理解。单元 - I可编程逻辑设备：可编程逻辑设备，SPLD，PAL设备，PLA设备，GAL设备，CPLD架构，FPGAS-FPGA技术，体系结构，Virtex CLB和Slice，FPGA编程技术，XC2000，XC2000，XC3000，ACT1 Act1 anderction Actient1 Actrect1，Act1 andertion。[TEXTBOOK-1] UNIT- II Analysis and derivation of clocked sequential circuits with state graphs and tables: A sequential parity checker, Analysis by signal tracing and timing charts-state tables and graphs-general models for sequential circuits, Design of a sequence detector, More Complex design problems, Guidelines for construction of state graphs, serial data conversion, Alphanumeric state graph notation.需要和设计策略，用于多盘顺序电路。[教科书2]单元-III顺序电路设计：顺序电路设计的设计步骤，示例，代码转换器，迭代循环设计，比较器的设计，控制器（FSM） - 标准，同步，FSM问题，FSM问题，使用FPGAS的序列电路共享，使用FPGAS的顺序设计，模拟和测试的序列循环设计。[Techtbook-3＆Ref.1][教科书2]单元 - IV故障建模和测试模式生成：逻辑故障模型，故障检测和冗余，故障等效性和故障位置，故障优势，单个卡在故障模型，多个卡在故障模型上，桥接故障模型。通过常规方法，路径敏化技术，布尔差异方法，Kohavi算法，测试算法-D算法，随机测试，过渡计数测试，签名分析和测试桥梁的断层对组合回路的故障诊断。
R18 B.Tech。 EEE教学大纲Jntu Hyderabad 1 R22 B.Tech。 EEE教学大纲Jntu Hyderabad R22 M.Tech。数字系统和计算机电子产品... R19 M.Tech欺骗/DECS R22 M.Tech。 VLSI/ VLSI设计/ VLSI系统设计 div> R19 M.Tech。机器设计
1。使用FPGA公开设计方法。2。可以深入了解故障模型。3。了解用于故障检测的测试模式生成技术。4。在连续电路中设计故障诊断。5。使用案例研究在流量的设计中提供理解。单元I可编程逻辑设备：可编程逻辑设备，SPLD，PAL设备，PLA设备，GAL设备，CPLD-Archittuction，FPGAS-FPGA技术，体系结构，Virtex CLB和Slice，FPGA编程技术，XC2000，XC2000，XC3000，Act 3 Actient Act1 anderct1 anderct1 anderct1 anderct1 anderct1 anderct1[TEXTBOOK-1] UNIT-II Analysis and derivation of clocked sequential circuits with state graphs and tables: A sequential parity checker, Analysis by signal tracing and timing charts-state tables and graphs-general models for sequential circuits, Design of a sequence detector, More Complex design problems, Guidelines for construction of state graphs, serial data conversion, Alphanumeric state graph notation.需要和设计多锁顺序电路的策略。[TEXTBOOK-2] UNIT-III Sequential circuit Design: Design procedure for sequential circuits-design example, Code converter, Design of Iterative circuits, Design of a comparator, Controller (FSM) – Metastability, Synchronozation, FSM Issues, Pipelining resources sharing, Sequential circuit design using FPGAs, Simulation and testing of Sequential circuits, Overview of computer Aided Design.[Ref.3][教科书2]单元IV故障建模和测试模式生成：逻辑故障模型，故障检测和冗余，故障等效性和故障位置，故障优势，单个卡在故障模型，多个卡在故障模型上，桥接故障模型。通过常规方法，路径敏化技术，布尔差异方法，Kohavi算法，测试算法-D算法，随机测试，过渡计数测试，签名分析和测试桥梁的断层对组合回路的故障诊断。[教科书-3＆Ref.1]单元 - 顺序电路中的v故障诊断：电路测试方法，过渡检查方法，状态识别和故障检测实验，机器识别，故障检测实验的设计。
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