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材料化学 A - ePrints Soton
在溶剂热条件下，使用 SnCl 4 和 LiNH 2 前体，开发了一种合成尖晶石结构 Sn 3 N 4 的简单且可扩展的新方法。生产了晶粒尺寸 <10 nm 的纳米晶体 Sn 3 N 4，并作为钠半电池的阳极材料进行了测试，结果表明，在 50 次循环中测得的可逆（脱钠）容量非常高，约为 850 mA hg -1，这是除钠本身之外的钠阳极的最高可逆容量。原位 X 射线吸收光谱和 X 射线衍射表明，电化学反应是可逆的，并且 Sn 3 N 4 在重新氧化后会恢复。X 射线衍射表明，与 Sn 3 N 4 反射相关的峰在放电（还原）过程中变窄，证明较小的 Sn 3 N 4 颗粒主要参与电化学反应，并且峰的加宽在氧化后可以可逆地恢复。近边 X 射线吸收数据 (XANES) 分析表明，Sn 的氧化态在还原过程中降低，在氧化过程中几乎恢复到初始值。DFT 计算表明，Na 插入 Sn3N4 表面，然后用 Na 取代四面体 Sn 在能量上是有利的，而从还原电极的扩展 X 射线吸收精细结构 (EXAFS) 测量分析中获得了四面体 Sn 从尖晶石 Sn3N4 结构中去除的证据，这也表明氧化结束时恢复了原始结构。DFT 还表明，Na 取代 Sn 仅在 Sn3N4 表面有利（对块状 Sn3N4 不起作用），这与电化学表征一致，即控制纳米颗粒尺寸对于充分利用 Sn3N4（从而实现高容量）至关重要。
四倍的perovskites中的声子嘎嘎作响
在钙钛矿中晶格电位强的非谐度的影响，包括分层的丘比特，三维型晶体和相关系统[1，2，3]。此外，铜氧化物（CUO）中Cuo 6八氏菌（Cuo）的氧气原子应该具有双重潜力。这一事实得到了许多高t c超导体和相关父系统的确定，包括Yba 2 Cu 3 O 7-δ，La 2-x Sr X Cuo 4，以及通过Exed X-Ray X-Ray x-Ray X射线吸收结构（exafs）实验，and-x ce x cuo 4-Δ计算（请参阅[1，2，4，5]及其中的参考）。在SuperContucting Ba 1-x K x Bio 3 [6]中观察到异常氧振动的相似情况。参考。[7]用Jahn-Teller Polaron模型解释了超导LA 2 CUO 4中双井潜力的出现。在参考文献中讨论了双钙壶中的双孔电池。[8]，进行区域中心软模式的计算是为了使极性和八面体旋转不稳定性表征。这些电势中的声子模式可能很不寻常。由其他原子形成的过度原子笼中弱结合离子的非谐振动通常被称为嘎嘎作响。已经在诸如Val 10 +Δ[9]，laterates [10]，Detecaborides [11]的材料中观察到它们。最近，建议在高压下合成的四倍体cucu 3 v 4 o 12 [3]。Rattling or other types of anharmonicity can lead, e.g., to Schottky-type anomaly of specific heat at low temperature [14], result in significant in- crease of electron e ff ective mass [15, 16, 17], suppress thermal conductivity [18, 19] or be a driving force for the superconduc- tivity [15, 16, 17, 20].在四倍的perovskites aa'3 b 4 o 12中
CHEM-ENG 611 2025 年春季 第 1 页，共 7 页
讲师：Nianqiang Wu 办公室：159 Goessmann 实验室 电话：(413) 545-6175 电子邮件：nianqiangwu@umass.edu 主页：https://people.umass.edu/nianqiangwu/ 办公时间：周二和周四下午 3:45-4:30 或预约 讲座：周二和周四下午 2:30 - 3:45，Hasbrouck 实验室，Add 房间 107 课程描述：将介绍各种分析技术，例如质谱、SIMS、MALDI、FTIR（例如 ATR、PM-IRRAS 和 DRIFTS）、拉曼、SERS、XPS、UPS、XAENS、EXAFS、NMR、EPR、荧光、紫外-可见光谱和成像。将涵盖仪器的原理、结构和应用。重点将放在培养解决与特性相关的问题的能力上。特别关注选择适当的分析技术来表征材料、催化剂、生物分子、食品和设备的标准。先决条件：无。教材：(1)“表面分析：主要技术”，John C. Vickerman，Ian Gilmore，第二版，John Wiley & Sons，Inc.，（2009），ISBN：978-0470017647（旧版本：“表面分析 - 主要技术”，作者：John C. Vickerman，John Wiley & Sons；第一版，（1997），ISBN：0471972924）（2）“化学分析：现代仪器方法和技术”，Francis Rouessac，Annick Rouessac，John Wiley & Sons，第二版，（2007），ISBN：978-0-470-85903-2。有用的参考文献：(1)《分析化学：化学家和实验室技术人员的工具包》，Bryan M. Ham、Aihui MaHam，John Wiley & Sons，(2015)，ISBN：978-1-118-71484-3。(2)《分子光谱学手册》，DN Sathyanarayana 著，(2015)，ISBN-13：978- 9384588250。(3)《有机结构光谱学》，Joseph B. Lambert、Herbert F. Shurvell、David A Lightner、Robert Graham Cooks，Prentice Hall 著；第 1 版，（1997 年），ISBN：0132586908 (4) “材料科学中的表面分析方法”，作者 DJ O'Connor、Brett A. Sexton、Roger SC Smart，Springer；第 2 版，（2003 年），ISBN：3540413308 (5) 有机光谱学，作者 Lal Dhar Singh Yadav，Springer；第 1 版，（2005 年），ISBN：1402025742 (6) 在线 AFM 教科书，“扫描探针显微镜基础”，作者 VL Mironov，http://www.nanotech-america.com/dmdocuments/mironov_book_en.pdf (7) “表面和界面分析手册”，作者 John C. Riviere，CRC；第 1 版，（1998 年），ISBN：0824700805 (8) “有机化合物的结构测定：光谱数据表”，作者：E. Pretsch、P. Bühlmann、C. Affolter，Springer；第 3 版，（2004 年），ISBN：3540678158