抽象的质子 - 普罗氏素碰撞数据由Atlas检测器在2011年以7 TEV为单位的质量能量记录,已用于改善W -Boson质量的测定,并在LHC处对W -Boson宽度进行了首次测量。最近对质子Parton分布函数的拟合量纳入了测量程序中,并使用改进的统计方法来提高测量精度。W -Boson质量的测量结果得出的值为M W = 80,366。5±9。 8(stat。) ±12。 5(Syst。) mev = 80,366。 5±15。 9 MeV,宽度为W = 2202±32(Stat。) ±34(Syst。) mev = 2202±47 Mev。 第一个不确定性组成部分是实用的,第二个不确定性成分对应于实验和物理模型的系统不确定性。 这两个结果都与从拟合到电cision数据的期望一致。 M W的当前测量与使用相同数据进行的先前测量相兼容并取代。5±9。8(stat。)±12。5(Syst。)mev = 80,366。5±15。9 MeV,宽度为W = 2202±32(Stat。)±34(Syst。)mev = 2202±47 Mev。第一个不确定性组成部分是实用的,第二个不确定性成分对应于实验和物理模型的系统不确定性。这两个结果都与从拟合到电cision数据的期望一致。M W的当前测量与使用相同数据进行的先前测量相兼容并取代。
探索异国情调的状态是强子物理学中有趣的边界,在过去的十年中取得了显着进步。已经在实验上观察到了越来越多的外来状态候选者。在这些状态中,自2003年对𝑋(3872)的第一个观察以来,由一对组成的charmonium状态已形成了一个大家庭[7]。最近,Besiii [8]在2021年以3982的质量观察到了A𝑍(3985)状态,作为一个陌生的 - a avor伴侣(3900)状态。5 +1。8 -2。6±2。1 MeV,宽度为12。 8 +5。 3 -4。 4±3。 0 meV,旋转 - 偏度𝐽= 1 +。 在理论模型中预计这一实验观察结果是在Hadronic分子[1、9-15],紧凑型tetraquark [16,17]等中。 在观察𝑍(3985)之后,LHCB [18]发现了A𝑍(4000)状态,质量为4003±6 +4 -14 MeV,宽度为131±15±15±26 MEV,宽度为131±15±15±26 MEV,且𝐽= 1 + = 1 +。 尽管LHCB声称没有证据表明𝑍𝑍(4000)与𝑍𝑍(3985)状态相同,Refs。 [12,19]讨论了它们可能与同一状态相对应的可能性。 特别是参考。 [19]证明,可以同时将BESIII和LHCB数据同时使用它们为同一状态。 这引起了对分子模型的显着关注,该模型自然地解释了𝑍(3985)和𝑍𝑍(4000),为两个“𝐶 -Parity Partners” 1 [9,10,14,20,21]:]:1 MeV,宽度为12。8 +5。3 -4。4±3。0 meV,旋转 - 偏度𝐽= 1 +。在理论模型中预计这一实验观察结果是在Hadronic分子[1、9-15],紧凑型tetraquark [16,17]等中。在观察𝑍(3985)之后,LHCB [18]发现了A𝑍(4000)状态,质量为4003±6 +4 -14 MeV,宽度为131±15±15±26 MEV,宽度为131±15±15±26 MEV,且𝐽= 1 + = 1 +。尽管LHCB声称没有证据表明𝑍𝑍(4000)与𝑍𝑍(3985)状态相同,Refs。[12,19]讨论了它们可能与同一状态相对应的可能性。特别是参考。[19]证明,可以同时将BESIII和LHCB数据同时使用它们为同一状态。这引起了对分子模型的显着关注,该模型自然地解释了𝑍(3985)和𝑍𝑍(4000),为两个“𝐶 -Parity Partners” 1 [9,10,14,20,21]:
辐照在德国奥伊斯基兴的“弗劳恩霍夫自然科学技术趋势分析研究所”进行,使用最大剂量率为 720 krad/h 的 60 Co 源和单独的中子源。同位素 60 Co 经 β 衰变为 60 Ni,半衰期约为 5.3 年,后者通过发射能量为 1.172 MeV 和 1.332 MeV 的伽马射线衰变为镍的基态 [3]。弗劳恩霍夫 INT 的 THERMO-Fisher D-711 中子发生器通过以 150 kV 的电压将氘离子 (D = 2H) 加速到氘或氚靶 (T = 3H) 上来产生中子。在靶内发生DD或DT核聚变反应,分别释放氦同位素3He和4He,以及能量分别为2.5MeV和14.1MeV的快中子[4]。3.被测装置
摘要。使用Newsubaru-bl01设施上的飞行时间方法测量了13和17 MeV线性极化光子梁的光核产生的光结核产生的双差分横截面(DDX)。极化光子。在光谱上观察到了两个不同的组件:低能成分高达4 MeV,高能高于4 MeV。低能分量的角度分布是各向同性的,而高能量是各向异性分布的,并受到光子极化和中子发射方向之间的角度的影响,尤其是对于17 MEV光子能量。这些现象类似于先前研究中观察到的197个AU靶标的现象。对于所有三个目标,在13和17 MEV光子能量处的低能中子分布几乎相同。计算了DDX能量整合,并比较了两光能能量的三个目标。给定入射光子的水平极化(平行于X轴的平面),X轴上90°的发射角分别记录了最大和最小的光拟合产率。这两个位置之间的差异为181 TA和NAT W时为13 MeV光子能量,而对于其他情况下。与181 TA和209 BI的实验结果相比,在Photoneutron DDXS上观察到了卷轴核数据文库的低估。
在核反应实验中,测量的衰变能谱可以洞悉衰变系统的壳结构。然而,由于探测器分辨率和接受效应,从测量中提取底层物理信息具有挑战性。Richardson-Lucy (RL) 算法是一种常用于光学的去模糊方法,已被证明是一种成功的图像恢复技术,该算法被应用于我们的实验核物理数据。该方法的唯一输入是观察到的能谱和探测器的响应矩阵(也称为传输矩阵)。我们证明该技术可以帮助从测量的衰变能谱中获取有关粒子非结合系统壳结构的信息,而这些信息无法通过卡方拟合等传统方法立即获取。出于类似的目的,我们开发了一个机器学习模型,该模型使用深度神经网络 (DNN) 分类器从测量的衰变能谱中识别共振状态。我们在模拟数据和实验测量中测试了这两种方法的性能。然后,我们将这两种算法应用于通过不变质谱测量的 26 O → 24 O + n + n 衰变能谱。使用 RL 算法对测量的衰变能谱进行去模糊处理后恢复的共振状态与 DNN 分类器发现的状态一致。去模糊处理和 DNN 方法均表明 26 O 的原始衰变能谱在约 0.15 MeV、1.50 MeV 和 5.00 MeV 处出现三个峰,半宽分别为 0.29 MeV、0.80 MeV 和 1.85 MeV。
摘要这项研究研究了几种玻璃成分作为伽马射线屏蔽物质的适用性。所测试的组合物具有不同的ZnO浓度,特别是(60-X)B 2 O 3 - 10NA 2 O —15SIO 2 –15SIO 2-5AL 2 O 3 - (x + 10)ZnO(其中x = 5、10、15和20 mol%)。测量以0.6642、1.1776和1.3343的能量水平进行,从CS 137和CO 60点源辐射,以及闪烁检测器[NAI(TL)]。我们研究了与γ辐射屏蔽相关的关键特性,确定有效原子数(z eff),电子密度(N EL),半价值层(HVL),线性衰减(μ)和质量衰减(μm)系数(μm)系数和平均自由路径(λ)。我们的结果表明,随着Zn浓度从15摩尔%上升到35 mol%,在检查中的眼镜从2.12至2.77 g/cm3变得更密集。此外,所有玻璃成分都提供了针对指定能级的伽马辐射的足够保护。µ的值从0.157上升到0.214 cm -1(0.6642 meV),从0.119升至0.160 cm -1(1.1776 meV),并从0.114 cm -1(1.1776 meV),从0.114 cm -1(1.3343 meV)上升到0.160 cm -1(1.1776 meV)。对于样品B1和B4,观察到的HVL值从4.41、5.84和6.12 cm降至3.21、4.31和4.61 cm,分别为0.6642、1.1736和1.3343 MEV。与经常使用的玻璃和混凝土样品相比,经过测试的材料中显示的屏蔽能力更高。该研究强调了这些玻璃成分作为可以掩盖伽马辐射的实用材料的潜力。
0 0 0 200 0.1 0 0 0 physicalWorld initStep 1 0 0 -500 0.1 4.7e-23 700 700 OutOfWorld Transportation ************************************************************************************************************* * G4Track 信息:粒子 = e-,轨道 ID = 1,父 ID = 0 ************************************************************************************************************* Step# X(mm) Y(mm) Z(mm) KinE(MeV) dE(MeV) StepLeng TrackLeng NextVolume ProcName
电路在暴露于辐射时。绝大多数商用电路在从海平面到飞机飞行高度(< 20 km)的自然环境中运行,其中错误主要由大气中子与硅的相互作用引起。最初,在 14 MeV 和 100 MeV 中子辐照下,测量了电源电压为 2V 至 5V 的静态存储器的软错误率 (SER)。由于电源电压降低而导致的错误率增加已被确定为未来低压电路运行的潜在危害。提出了一种用于准确表征制造过程 SER 的新方法,并通过对 0.6 jj.m 工艺和 100 MeV 中子的测量对其进行了验证。该方法可应用于预测自然环境中的 SER。