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IEEE 微电子设计与测试研讨会
第 31 届 IEEE 微电子设计与测试研讨会 (MDTS，原名 NATW) 为学院和行业研究人员和工程师提供了一个年度全球论坛，以讨论微电子领域的最新进展、分享他们对现代微电子技术的看法并促进学院与行业的合作。为期 4 天的虚拟研讨会将于周一下午开始，首先是课程辅导，然后是小组讨论。研讨会将于周二、周三继续，并于周四以技术课程结束。请参阅网站了解议程。
2024 IEEE 微电子设计与测试研讨会...
第 33 届 IEEE 微电子设计与测试研讨会（MDTS，前身为 NATW）为学术界和工业界提供了一个年度全球论坛。大学教师、学生研究员和行业工程师讨论微电子领域的最新进展，分享他们对现代微电子技术的看法，并促进学术界与工业界的合作。为期三天的研讨会以小芯片和硬件安全为主题，包括主题演讲、受邀演讲、小组讨论和教程。小芯片将大型芯片设计分解为更小的、理想情况下可重复使用的集成电路，而通用小芯片互连快递 (UCIe) 标准解决了在封装内连接小芯片的挑战。芯片设计的硬件安全涵盖广泛的问题，从防止逆向工程到阻止接管和数据盗窃或操纵。