Nirav

散射发射概况技术，用于准确，快速评估薄膜激光材料Nirav Annavarapu AB*，Iakov Gold

摘要：光学增益的准确测量对于筛选材料作为薄膜激光应用的可行活动介质至关重要。通常使用可变条纹长度（VSL）方法测量净模态增益，该方法在过去几十年中已经进行了广泛的研究。在这项工作中，我们提出了一种替代方法，我们将其命名为散射发射概况（SEP）方法，以测量净模态增益。它依赖于从泵条带照亮的膜表面散布的放大自发发射（ASE）的收集。通过使用适当的设置，新方法可以更快地测量净模态增益，同时提供更准确的增益值。在本文中详细介绍了提取净模态增益的设置和算法，并在铅卤​​化物钙钛矿膜上进行了证明。显示了条纹长度对测量增益值的影响。通过两种不同的钙钛矿膜进行的增益测量，通过自旋涂层或热蒸发制造，确认了SEP方法的广泛适用性。最后，我们显示了SEP方法与VSL测量值的定量比较，并突出了每种方法的优点和缺点。