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基于 Trotter 的无退相干子空间和子系统的完整量子门模拟器
2 理论背景 6 2.1 量子计算 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ... . ... 9 2.2.1 退相干和无退相干子空间 . ... . ... . ... . 9 2.2.2 子系统和无噪声子空间和系统 . ... . ... . 10 2.2.3 集体退相干 . ... . ... . ... . ... . ... . . . . 11 2.3 三量子比特 DFS 代码 . ... . ... . ... . ... . ... . ... . . . . 11 2.4 四量子比特无噪声子系统代码 . ... . ... . ... . ... . ... . . . . 13 2.5 Trotter 方程。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 16
考虑可靠性改进难度、关键性和子系统依赖性，开发光电系统可靠性分配的经济模型
摘要 各行业光电设备的特性以及降低成本的目标追求要求光电系统具有高可靠性。在这方面，可以通过可靠性分配问题来解决可靠性改进。必须提高子系统的可靠性，以确保符合设计人员的意见，满足要求以及定义的必要功能。本研究试图通过最大化系统可靠性和最小化成本来开发一个多目标模型，以研究设计阶段成本以及生产阶段成本。为了研究设计阶段可靠性改进的可行性，使用系统中有效的可行性因素，并将 sigma 水平指数纳入生产阶段作为可靠性改进难度因素。因此，考虑了子系统可靠性改进的优先级。通过设计结构矩阵研究子系统依赖程度，并将其与修正的关键性一起纳入模型的局限性中。通过目标规划将主模型转化为单目标模型。该模型在光电系统上实现，并对结果进行了分析。在该方法中，可靠性分配分为两个步骤。首先，根据分配权重确定子系统的可靠性范围。然后，根据子系统可靠性改进的成本和优先级启动改进。
热且致密的相对论费米子气体子系统中的量子重子数涨落
多体系统（微观和宏观）中的统计涨落对物理学有着非常重要的作用，因为它们编码了关于可能的相变、耗散和聚集现象的关键信息[1-6]。涨落的一个尚未开发的新特征是，在量子效应变得重要的情况下，小系统的涨落会增加。我们在最近的两篇论文[7、8]中定量分析了这种影响，在这些论文中，我们讨论了玻色子和费米子热气体中能量密度的涨落。我们的结果表明，在描述重离子碰撞时，相对论流体动力学中使用的流体元素概念存在局限性。当子系统的尺寸降至约0.5 fm以下时，能量密度涨落（对于温度和粒子质量的典型值）变得如此之大，以至于它们与它们的平均值相当。在这种情况下，具有明确能量密度的流体单元的物理图像变得不合理。我们
遥测系统的测试方法和子系统第 1 卷...
图 6-3a。用于验证 IRIG 时间码准确性的基于 PC 的测试设置。...................................... 6-12 图 7-1。单个 CAIS 总线配置。......................................................................... 7-2 图 7-2。分离 CAIS 总线配置。......................................................................... 7-2 图 7-3。配置检查流程图 (1/2)。............................................................. 7-4 图 7-4。配置检查流程图 (2 / 2)。......................................................... 7-5 图 B-1。热瞬态测试设备。............................................................................. B-2 图 B-2。底座。................................................................................................................ B-3 图 B-3。传感器固定装置支架。................................................................................ B-4 图 B-4。传感器固定装置（黄铜）。................................................................................ B-5 图 B-5。玻璃固定环。............................................................................................. B-6 图 B-6。传感器安装插头。............................................................................................. B-7 图 B-7。闪光灯滑块。............................................................................................. B-8 图 B-8。灯架（大）。......................................................................................... B-9 图 B-9。灯架（小）。.................................................................................... B-10 图 B-10。使用开槽旋转盘和相当于测量应用的热源对传感器进行瞬态热冲击测试的测试设置。.................... B-15 图 C-1。发射器 RF 包络。................................................................................. C-1 图 C-2。晶体探测器输出。.................................................................................... C-1 图 C-3。幅度调制。......................................................................................... C-2 图 D-1。测量值和计算值。...................................................................... D-2 图 E-1。GUI 控制窗口。......................................................................................... E-6 图 E-2。文件浏览器窗口。...................................................................................... E-6 图 E-3。对话框：载波跟踪滤波器。.................................................................... E-7 图 E-4。对话框：符号跟踪滤波器。.................................................................. E-8 图 E-5。外部/接收器/眼图。外部、离散时间散点图。................................................................ E-10 图 E-6。................................................................. E-10 图 E-7。循环同步进度。......................................................................... E-10 图 E-8。表格分析摘要。............................................................................. E-11 图 E-9。图形分析控制窗口。......................................................................... E-11 图 E-10。假锁定眼图。.................................................................................... E-13 图 E-11。假锁定星座。................................................................................. E-13 图 E-12。数据采集设备。................................................................................ E-16 图 F-1。分析仪结构。.............................................................................................. F-3 图 F-2。参考功率谱。......................................................................................... F-4 图 F-3。星座图。............................................................................................. F-5 图 F-4。检测滤波器。......................................................................................... F-6 图 F-5。发射机测试设备。.......................... F-13 图 F-7。................................................................................ F-6 图 F-6。参考信号的比特间隔载波相位轨迹。发射机性能摘要。................................................................ F-15 图 F-8。使用差分编码预测的检测性能。.......................... F-15 图 F-9。基带频谱。................................................................................ F-16 图 F-10。在发射机 RF 端口测量的 OQPSK 星座。................................. F-16 图 F-11。决策样本直方图。................................................................................ F-17 图 F-12。在发射机 RF 端口测量的 OQPSK 星座。................................. F-17 图 F-13。箱间隔相位轨迹。......................................................................... F-18 图 F-14。轨迹偏差频谱。.............................................................................. F-19