反馈放大器双端口网络:阻抗参数、导纳参数、混合参数、传输参数。理想的反馈放大器:增益稳定性、信噪比、对增益和带宽的影响。反馈放大器的类型;负载效应。实际反馈放大器:电压放大器、跨导纳放大器、跨阻抗放大器、电流放大器、稳定性预测、频率响应。
多元素化合物中离子排列的建模是能源材料计算研究的普遍挑战。混合或部分占据晶格位置的材料被广泛研究,例如用于光伏电池的掺杂半导体[1-3],或用于锂离子电池(LIB)的插层材料和离子导体[4-7]。虽然元素的配置排列会影响计算的热力学[8,9]、电子[10]、化学[11]和离子传输参数[12,13],但构建可靠的占据无序模型是模拟的一大困难[14-19]。对于包含 M 个位置的模拟单元,其中一部分 θ 被占据,可能的配置总数由(使用斯特林公式)M θ M 给出
近年来,热电效应引起了材料科学、固体物理和化学领域的广泛关注。实际上,固态热电转换为能量收集和冷却提供了一种有前途的解决方案[1]。此外,研究热电现象对于理解固体材料中准粒子的基本传输行为也很重要[2]。材料的热电效率用性能系数zT=S2T/ρκ来衡量,其中S、T、ρ和κ分别是热电势、绝对温度、电阻率和热导率。S2/ρ称为热电功率因数。虽然表达式很简单,但获得高zT是一项具有挑战性的任务,因为这些传输参数是相互关联的。作为一项艰巨的任务,我们需要计算材料的热电效率,以确定材料的热电效率。
众所周知,纳米流体在其热和转移特性方面与传统传热液显着不同。CO 2传输特性的两个,其导热率和粘度对于改善油的检索方法和工业制冷至关重要。通过将分子模型与各种机器学习算法相结合,本研究预测了氧化铁CO 2纳米流体的传导特征。可以通过应用机器学习方法,例如决策树,k-neareast邻居和线性回归来评估这些传输参数估计值的准确性。预测这些转移质量需要知道纳米颗粒体积的大小,比例和温度的比例。为了确定特征,分子动力学模拟是使用大尺度原子进行的。建立了一个间和vari内部功能的皮尔逊相关性,以确认输入变量依赖于M和导热率。最终使用确定的统计系数确认了结果。对于各种温度范围,体积分数和纳米颗粒尺寸,该研究发现,决策树模型是预测纳米流体传输参数的最佳方法。它的成功率为99%。关键词:导热率,粘度,机器学习,纳米流体,
摘要。分布式燃料电池拖拉机是一种新型的动力拖拉机。传输系统和控制策略参数会影响整个机器的能量利用效率。目前在这一领域没有研究。为了解决分布式双运动式氢燃料电池拖拉机的整个机器的低能利用问题,提出了一种合作优化方法,基于粒子群优化(PSO)算法,用于用于传输系统的参数和传输系统和能量的Dual Dual Motor-Motor-Motor-Motor-Motor-Motor-Motor-Motor-Motor-Motor-Motiven viren燃料电池燃料电池燃料燃料燃料燃料电池tractor。根据拖拉机动力学分析和等效氢消耗理论,建立了燃料电池拖拉机传输参数等效氢消耗模型,车轮端传输比以及氢燃料电池工作能力的上和下阈值作为控制变量的最小氢消耗是基于MAT的最小氢化量,并将其作为模拟方法,并将其作为模拟方法。结果表明,在耕作条件下,与基于规则的控制策略相比,燃料电池拖拉机传输系统和控制策略参数的提议的协作优化方法可以合理地控制燃料电池和电源电池的运行状态,确保燃料电池在高效范围内运行,并在燃料电池系统的总体范围内运行,并在燃料电池系统的总体范围内效力(SOIS),并在合理的范围内控制电池。拖拉机等效氢消耗量减少了7.84%。
物联网 (IoT) 是数字通信和无线网络的新范式,为应用部署开辟了新的机会。但与传统技术相比,物联网也带来了新的限制和要求。这些物联网网络中一个重要且不断增长的部分被归类为低功耗广域网 (LPWAN)。LPWAN 为共享同一网关的数千台终端设备提供低吞吐量连接,范围可达数公里,能耗极低,终端设备收发器以及基础设施和维护成本低。LoRaWAN 是由 LoRa Alliance ® 在 Semtech 的 LoRa ® 专有调制基础上开发的开放网络协议规范,是领先的 LPWAN 技术之一 [1]、[2]、[3]。LoRaWAN 提供了一种实用且灵活的连接解决方案,因为单个网关可以处理数千台终端设备并覆盖半径约十公里的小区。此外,该协议还提供了动态、自动和无线管理和参数调整的基本机制。完善这些机制是充分利用 LoRaWAN 功能的主要手段,通过减少广播时间,提高其可靠性,同时保持其可扩展性。这两个方面对于支持应用程序开发及其工业部署至关重要 [4],[5]。自适应数据速率 (ADR) 协议是 LoRaWAN 的关键部分,它允许动态调整终端设备 (ED) 传输参数,以适应终端设备的传输条件或网络负载。适当调整 LoRaWAN 网络有可能提高性能,但该过程需要全面准确地了解这些网络的行为,包括
具有竹节粒结构、顶部覆盖 Al 3 Ti 层并以 W 柱终止的 Al(Cu) 细线是 Si 集成电路中越来越常见的一类互连线。这些线易受跨晶电迁移引起的故障影响。电迁移引起的应力演变可以用一维扩散-漂移方程建模,该方程的解需要了解传输参数。通过开发和执行使用在氧化 Si 基板上制造的单晶 Al 互连线的实验,明确地确定了 Al 中 Al 和 Cu 的跨晶扩散和电迁移特性。在顶部覆盖多晶 Al 3 Ti 覆盖层的钝化 Al 单晶线(2.0 μm 宽,0.4 μm 厚)上进行了加速电迁移寿命测试。覆盖层由 Al 与 Ti 覆盖层的反应形成。电迁移引起失效的激活能确定为 0.94±0.05 eV。以前对没有 Al 3 Ti 覆盖层的 Al 单晶的研究得出的激活能为 0.98±0.2 eV,寿命相似。结论是,Al 3 Ti 覆盖层不会影响跨晶电迁移的动力学和机制。此外,这些结果表明,单晶 Al 互连线电迁移引起失效的限速机制不是扩散,或者令人惊讶的是,Al 沿 Al/Al 3 Ti 界面的扩散率大约等于或低于 Al 沿 Al/AlO 界面的扩散率。还通过实验研究了 Cu 在单晶 Al 线中的扩散和电迁移特性。测试结构由平行线(5.0 μm 宽,0.4 μm 厚)组成,交替线终止于共用接触垫。铜被局部添加到所有线的相同区域,并通过分析 Cu 的浓度分布来表征温度和电流密度的影响