摘要在50年前,当最初将电线拉测试方法添加到MIL-STD 883中时,在方法D的条件D条件D条件D条件D中,键强度(破坏性键拉测试),测试程序和最小拉力值是基于大多数超声楔键合的拉力测试,仅是几个不同直径的超声楔形铝和金线。将原始数据的最小拉力值推断为覆盖金线和铝线的较宽的电线直径范围。自从这种测试方法发布以来,电子产业已经生产了铜超声楔键,大约15年前采用了大约15年前的铜热球键合,甚至开发了银热球球键的利基市场。该行业还建立了特殊债券,例如安全债券,反向债券也称为“球上的针迹”,甚至是多环线和丝带。在所有时间里,均未对2011年方法中的测试程序和最小拉力值进行审查,以确定它们对这些新材料或新型债券的适当性,即使该行业对所有人都广泛提及了测试方法,因此,默认情况下,该行业接受了所有人的使用。2013年底,我领导了JEDEC的JC14.1小组委员会,包装设备的可靠性测试方法,以更新JEDEC JESD22-B116,Ball Bond剪切剪切测试方法,以扩大其范围,以包括Cu Ball Bonds的剪切。工作组花了三年时间来解决必要的技术问题,以确保修订后的测试方法充分解决了铜球债券的剪切,并提出了最低可接受的剪切值。关键词工作组通过图纸和图像制作了一个大大改进的文档,描绘了黄金和铜键的不同剪切失败模式,并添加了几个信息丰富的附件,以帮助执行测试方法。到2018年,显然,电子行业中最常见的电线拉力测试方法都没有在更新其文档以包括CU线债券方面取得任何重大进展。因此,JC14.1工作组同意与JC-13.7小组委员会(新的电子设备技术)共同合作,以在JC14.1下创建一个新的,拉力拉力测试方法文档,该文档将成为JESD22-B116的伴侣。此新文档将使用2011,条件C和D作为基础,但在其范围上扩展以覆盖超声波楔和热球键的铜线键。新的测试方法将描述Ball Pull测试的过程和针脚拉的测试,该过程通过AEC Q006引用了铜键,使用铜(CU)电线互连对组件的资格要求。测试方法还将提供有关如何对当今使用的几种不同键类型进行拉力测试的指导,包括反向键,多环键和堆叠的模具。工作组计划提出JC14.1将在JESD47中引用的铜线键的最小拉值,这是集成电路的压力测试驱动的资格。After the joint working group completes its work, which is targeted for some time in 2022, JC13.7 would then be able to use the output of this working group to update Method 2011 Conditions C & D. This paper will first briefly discuss the updates made to B116 to cover Cu wire bonds, but mainly focus on the work that has so far been completed by the joint working group, including a general outline of the proposed new document, JESD22-B120, Wire Bond Pull Test 方法 。
sylvain.poulet@cea.fr 摘要 — 超薄基板上柔性薄膜电子设备的出现是由开发与前端和后端工艺完全兼容的替代处理方法的需求所驱动。这项研究的目的是提出一种新的超薄玻璃基板处理方法,该方法基于直接玻璃-玻璃键合和室温剥离脱粘。通过在超薄玻璃基板(<100µm)上实现薄膜电池(<20µm)来评估这一概念。为了键合,将超薄玻璃层压在厚的载体玻璃(>500µm)上,没有中间层。薄膜电池堆栈采用连续物理气相沉积法制造,温度高达 400°C。脱粘过程在室温下通过机械剥离层压在薄膜电池上的封装膜完成。结果,脱粘后超薄玻璃(<100µm)没有任何裂纹的迹象。此外,脱粘过程之前和之后进行的电化学阻抗谱 (EIS) 和恒电流循环表明器件性能略有稳定。
旨在更好地了解这些稳健键的键合和反应性的研究已成为追求核废料修复的中心研究点。已经报道了在铀酰疾病中官能化U = O键的几种方法,最流行的是通过与甲硅烷基离子的反应性使用还原性裂解(图1)。4,5 One of the first reported examples detailing activation of the uranyl(VI) dioxo moiety was detailed by Ephritikhine in 2006, in upon the addition of excess silylating reagent (Me 3 SiX, where X = Cl, Br, or I), UO 2 I 2 (THF) 3 or UO 2 (OTf) 2 are converted to a tetravalent uranium halide salt, UX 4 (MECN)4。3这种反应性利用了强Si -O键形成的热力学驱动力,从而通过相应的卤化物的氧化来促进铀氧键的还原性裂解。6后来,爱与同事报告了通过还原性的硅烷基硅烷二烯化的键键激活的机理的进一步见解。在这项工作中,铀酰的协调
基于抽象的量子技术将为系统工程师提供确保数据通信的新功能。英国AIRQKD项目已实施了一个免费的空间光学量子密钥分布(QKD)系统,以实现不断生成的对称加密密钥。生成的密钥的用例之一是将车辆 - 所有(V2X)通信保护。V2X申请将受益于QKD为QUASTUM SOCORES提供的证书 - 免费安全保障。如何检查FSO -QKD如何集成到V2X体系结构中。V2X的概述具有FSO -QKD可以保护V2X数据的作用,尽管存在一些障碍。6G通信的问题之一是V2X设备之间的潜在线(LOS)考虑。检查了LOS所需的建模,以分析建筑物在6G体系结构中的基础架构链接的中断性能。该模型的结果表明,如果要依靠6G LOS通信来用于将来的安全性 - 关键的V2X应用程序,则需要进一步的工作。
弗劳恩霍夫 ENAS 和开姆尼茨大学微技术中心,科技园区 3,09126 开姆尼茨,德国 弗劳恩霍夫 IZM-ASSID,Ringstrasse 12,01468 莫里茨堡,德国 ErzM-Technologies UG,科技园区 1,09126 开姆尼茨,德国
通过数学,24次通过了物理学,而43个通过了化学。此外,不超过19名学生通过数学和物理学,不超过29人通过数学和化学,而不超过20人通过了物理和化学。最多可以通过三个考试的学生数量是多少?(a)10(b)12(c)14(d)9 20。向量𝐴=(2𝑥 + 1)𝚤 +(𝑥2-6𝑦)𝚥
23。为什么这三种类型的生物多样性都很重要?它如何影响我们的生活?至少给出每种类型的一个示例。(7)遗传生物多样性很重要,因为物种的变化使其可以更容易适应(1)。例如,如果其中一种颜色不再存在于其生态系统中(1),则可以使用多种颜色伪装的物种更容易适应。物种多样性导致更健康的生态系统(1),所有物种都可以发挥作用。如果将一种物种从该生态系统中移除,则整个物种可能会崩溃,除非还有其他物种准备填补开放角色(1)。生态系统生物多样性对人类生存很重要(1)。每个不同的生态系统都为我们的生存以及其他物种的生存提供了至关重要的特定资源(1)。某些植物,例如我们用于食品的植物,只能在某些生态系统中找到,这使每个人都很重要(1)。
*对于数字化转型旅程的组织,敏捷性是应对快速变化的技术和业务格局的关键。现在比以往任何时候都更重要的是,以创新支持的强大数字思维方式交付和超越组织期望是至关重要的。使企业能够像活生物体一样感知,学习,反应和进化,这对于卓越的业务势在必行。全面而模块化的服务套件正是这样做的。为组织提供直观决定,自动制定基于实时解决方案的可行见解,任何时间/任何地方的经验以及在功能中的深入数据可见性,导致过度生产性,Live Enterprise正在建立与未来创新的连接组织建立连接的组织。
离散的频率模式或垃圾箱,融合了光子量子信息处理的机会和挑战。频率键编码的光子很容易通过集成的量子光源生成,该量子光源自然高,在光学纤维中稳定,并且在单个空间模式下可显着平行。然而,在频率箱状态上进行的量子操作需要连贯且可控制的多频干扰,这使得它们比传统的空间自由度更具挑战性地操纵。在这次迷你审查中,我们描述了最近改变了这些挑战并向前推动的频率箱的最新发展。着眼于源,操纵方案和检测方法,我们介绍了频率键编码的基础,总结了艺术的状态,并推测了该领域的下一个阶段。鉴于综合光子学,高纤维量,且具有原则的原始符,频率binquantuminforminationspoispoiserpoiserge的频率,并在实用的量子信息处理上留下了标记,并在网络中占地来在网络中提供了唯一的工具,可为互联网提供独特的工具,并互相互动,并高高地互动,且高音和高音范围。©2023 Optica
1.1.1。球键故障球键故障是微电子包装中最常见的故障模式[2]。通常是由于热老化引起的金属间生长。来自金属间层中的微裂纹并削弱了键[3]。球键合AU,Cu,Ag基线到Al金属化形成热老化的金属间化合物(铝制)。[4]在不同的金属超声波或热音线键中有限的界面IMC形成会增加键强度。但是,过度的IMC形成可能导致债券的性能下降。IMC的厚度增加会产生较高的电阻,从而导致流动流动时较高的热量产生。这会产生乘数效应,因为由于电阻率升高而引起的加热促进了粘合界面中其他IMC的形成[5]。imcs的形成以及界面处的相关空隙和裂纹决定键的强度和可靠性。IMC的形成对粘结强度有益,但是它们的过度生长可以增加键和接触电阻的脆性,从而导致键失败[6]。