§ 全帧测量技术,几秒钟内即可测量表面形貌 § 高点密度,每次采集 500 万个 3D 点 § 可扩展,标准测量范围从 10x12x3 [mm] 到 400x500x50 [mm],并可定制 得益于独特的设计,多尺度分析允许在一个热曲线中使用不同的放大倍数对同一物体进行多次采集。因此,可以研究不同尺度对变形的影响 [2] — 例如,同时研究 WLP 级和中心/外围芯片。因此,TDM 技术已被确定为一种适合执行 PLP 翘曲测量的工具:在室温下,在热曲线期间,研究重力效应。
• 大刻度盘带模拟指示器,读数方便,减轻工人疲劳感。• 本仪器采用差压式。该方法测量稳定,因为几乎不受相应供给气压变化的影响。• 差压式空气千分尺比流量式空气千分尺测量气压高,因此测量间隙更大,测量头耐用性更高。• 由于每个旋钮都是独立的,因此可以进行内部或外部测量的极性反转和零点调整。• 填充放大倍数系列可以满足您的测量要求。超小直径喷嘴(如 0.3 喷嘴)是环保产品之一,可实现节能。* 关于“差压式”,请参阅数字式空气千分尺“迷你”目录
使用基于Canty的基于视觉的系统的高放大倍数动态成像提供了粒子浆的大小和形状的在线,实时分析。至关重要的是,二维系统还能够区分固体颗粒和液滴,除了报告表面和颗粒的形状信息。成像过滤器被应用于可以区分固体与液滴/气泡的分析中,从而使仪器的能力超过了非视觉设备的能力,这无法使这种区别。这降低了表征错误的可能性并增强了可重复性,可重复性和准确性。视觉能力允许用户输入他或她对过程的了解,以做出有意义的分析决策。
本发明涉及一种装置,通过该装置,物体通过电子束和影响电子流的静电场或电磁场(电子透镜)以放大的比例成像。根据本发明,多个电子透镜影响电子束,并一起以显微镜或望远镜的方式实现更高的放大率。如前所述,电磁电子透镜和带负电的静电电子透镜相当于光学中的会聚透镜,而带正电的静电电子透镜相当于发散透镜。因此,通过组合这些透镜,可以为电子束模拟光学中利用会聚或发散光束的任何已知装置。此外,还可以以这种方式构建直接使用或反射后使用电子束的显微镜或望远镜。通过以显微镜或望远镜的方式组合多个透镜,可以获得特别高的图像放大倍数。使用电子束具有特别大的优势,
Oreochromis niloticus卵在其人工孵育过程中的抽象胚胎和幼虫发育阶段在29±0.11°C的透明式水过滤器孵育罐中进行。胚胎开发被监测和捕获,以定义从受精卵以45×放大倍数下在数字显微镜下将蛋黄囊的特征。明亮的黄色椭圆形鸡蛋描述了在第1天观察到刚受肥的鸡蛋。在第3天发育的背侧发现了杆状结构的发展。胚胎的孵化发生在第5天,而在第12天,出现了发达的游泳炸煎炸,嘴巴,眼睛和鳍出现。这项研究对于对遗传操纵技术感兴趣的罗非鱼利益相关者来说很有价值,以改善尼罗花的生产。
红外 (IR) 成像是用于制造样品质量控制测量的重要工具之一。标准红外成像技术使用直接测量,其中光源和检测器在红外范围内工作。由于红外光源或检测器的选择有限,可能难以达到特定的红外波长。在我们的工作中,我们基于量子成像技术进行间接红外显微镜检查。这种方法允许我们用红外光探测样品,同时将检测转移到可见光或近红外范围。因此,我们展示了不同放大倍数下硅芯片的红外量子成像,其中样品在 1550 nm 波长下探测,但检测在 810 nm 下进行。我们还分析了该技术的可能测量条件,并估算了执行样品质量控制检查所需的时间。
典型的超薄氧化膜由晶体金属支撑物上的单层氧化物材料组成。在某些情况下,薄膜可能由两到三个单层组成,但通常这些超薄膜的厚度不超过一纳米,可以被视为二维材料。1 扫描隧道显微镜 (STM) 是研究这些薄膜的绝佳方法,因为这种技术可以在非常高的放大倍数下对表面进行成像。2 为了获得原子分辨率图像,STM 要求样品具有导电性、无表面污染物并且在原子尺度上平坦。STM 不仅可以揭示表面和薄膜的结构,还可以用于研究原子级缺陷,例如原子空位和杂质 3 或更多扩展结构,例如两个具有不同晶体取向的超薄膜相遇的域边界。STM 还可以对非晶态氧化物膜进行非常详细的研究。
可调(2 个主)空气系统的进步 – Mahr Federal 采用了可调放大倍率背压系统,并对其进行了改造,使其适用于精密差压计和空气/电子传感器。Universal Dimensionair 的放大倍率是通过将压力与工具和参考通道之间的精确平衡相匹配来控制的。第二个旋钮通过改变参考通道中的压力来调整零位。该系统能够对任何气动测量系统进行广泛的放大倍率调整。它可容纳几乎任何尺寸的喷嘴,大到 0.080 英寸。或小到 0.020 英寸。两个设置主控 - 最小值和最大值 - 用于校准系统,定义和显示特定公差范围的两端。借助现代电子系统(例如柱式气动量具),此过程可以实现自动化,以便量具引导操作员完成掌握程序。归零和放大倍数调整自动完成 - 无需操作员干预。