1 基于数字网络 28nm 可靠性数据和现场返回的芯片和封装故障率 2 基于 IEC TR 62380 的芯片和封装故障率 3 符合 ISO 26262 2018 版第 10 部分第 8.1.8 条 4 芯片级故障检测/校正;主要是内部 RAM 上的 ECC 5 芯片级故障检测/校正,以及 IO 数据损坏和 IO/加速器内存访问违规检测 6 基于 BlueBox 车辆排队的系统安全概念;安全 MCU 看门狗、外部电源和时钟监控
1. 简介 可靠的热控制子系统 (TCS) 是任何航天器的关键方面,但 TCS 的可靠性在实践中往往难以实现。TCS 的可靠性在设计阶段经常被高估,导致故障率高于客户愿意接受的水平。因此,航天器热控制界需要重新评估其公认的技术,本文旨在促进这一对话。本文回顾了航天器上使用的几种重要流体热控制技术的可靠性,包括泵送流体回路 (PFL)、回路热管 (LHP)、可变电导热管 (VCHP) 和轴向槽热管 (AGHP)。本综述更多地关注 PFL 和 LHP,因为这些更复杂、更强大的技术的使用有更多公开记录,并且这些系统的故障记录也更多。总结了所有已知的 PFL、LHP 和 VCHP 故障的开源示例,并显示了故障原因和一些解决方案。分析部分讨论了每种流体热控制子系统的故障率,以及更高的故障率与更复杂的设计有何关联。最后,提出了如何避免将来发生此类故障的建议。
摘要可再生资源的合适混合物,包括风,潮汐和光伏单元,可用于安装在沿海地区或岛屿的微电网中。但是,可再生资源(例如风速,潮流速度和太阳辐射)的变化显着影响这些微电网的可靠性性能。因此,为了评估微电网的可靠性,必须考虑受可再生资源变化影响的组成部分的失败率。To study the impact of variation in the temperature and renewable resources on the failure rate of components, different equations including Arrhenius law, temperature modification fac- tor, fatigue strength, bending and contact stress, limit state function of turbine, thermal loss of semiconductor devices, the temperature rise of transformer and cable, the temper- ature coefficient of voltage and power of photovoltaic panels are developed.根据开发的方程,确定了考虑温度和可再生资源的变化的微电网的组件故障率,因此确定了微电网的故障率。然后,通过模拟,评估了不同能源对整个系统的故障率的影响,并将研究由离岸可再生能源组成的微电网的可靠性。
─ 功率密度 [kW/dm 3 ] ─ 单位重量功率 [kW/kg] ─ 相对成本 [kW/$] ─ 相对损耗 [%] ─ 故障率 [h -1 ]
软件不易受到导致硬件磨损的环境疾病的影响。因此,理论上,软件的故障率曲线应采用图 1.2 所示的形式。未发现的缺陷将在程序生命周期的早期导致高故障率。但是,这些缺陷会得到纠正(希望不会引入其他缺陷),并且曲线会变平,如图所示。图 1.2 是对软件实际故障模型的过度简化。然而,其含义很明显,软件不会磨损。但它确实会恶化!这种看似矛盾的情况可以通过考虑图 1.3 来最好地解释。在其生命周期中,软件将
借助我们经过精心设计、测试和第三方认证的单一、完整产品,您可以减少集成冲突,更轻松地满足开工日期。您还可以让操作员对自己操作和维护系统的能力更有信心。这可以通过具有固有功能的安全系统来实现,该系统可以抵御误跳闸并保持在线,即使在测试期间也是如此。艾默生严格的工程和测试规范和程序可创建故障率低于传统集成器组件方法的组件。这些较低的故障率可能使您能够以更长的验证测试间隔满足 SIL 目标。总而言之,您将提高可靠性和安全性(两者相辅相成),同时通过不推迟生产来提高内部回报率。