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从对称性角度研究块体、缺陷、二维和零维金属卤化物钙钛矿半导体的物理特性
摘要 金属卤化物钙钛矿基纳米结构、纳米片和纳米颗粒处于最前沿，具有吸引人的光电特性，适用于光伏和发光应用。因此，全面了解这些基本的电子和光学特性是充分利用此类半导体技术的关键一步。迅速发展的化学工程及其不同寻常的结构多样性令人着迷，但对于与传统半导体相媲美的合理描述也具有挑战性。从这个意义上说，基于群论的对称性分析提供了一种通用而严格的方法来理解各种块体钙钛矿和钙钛矿基纳米结构的性质。在本文中，我们使用群论中的对称性分析回顾了金属卤化物钙钛矿半导体的电子和光学响应，回顾了 AMX 3 块体钙钛矿的典型立方 Pm-3m 晶格的主要结果（其中 A 为阳离子，M 为金属，X 为卤化物），然后将分析扩展到三种技术感兴趣的情况：AMX 3 纳米粒子、A 4 MX 6 孤立八面体、A 2 MX 4 层状系统和最近引入的缺陷卤化物钙钛矿 (d-HP)。基于对称性论证，我们将强调这些材料的电子和光学特性的相似性和差异性，这是由空间限制和维数引起的。同时，我们将利用这种分析来讨论文献中的最新结果和争论，如钙钛矿纳米粒子和纳米片的带边激子精细结构中暗/亮态的能量学。从目前的工作中，我们还预测 d-HP 的带边激子精细结构不会呈现光学暗状态，与 AMX 3 纳米粒子和层状钙钛矿形成鲜明对比，这一事实可能对这些新型钙钛矿的光物理产生重要影响。
229 m Th低能μ子库仑激发截面*
Th 核中的低能同质异能态 (eV) 已引起人们的广泛兴趣，因为它可以用于设计超精密核钟[1-4]、光学范围的核激光器[5,6]和 VUV 范围的核发光二极管[7]，也可以用于研究许多不寻常的过程：Th 在激光辐射下通过电子桥处的电子壳层激发和衰变[8-15]，通过边界条件 [16]或化学环境 [17,18]控制同质异能能级衰变，Th 异构体的衰变[19]及其伴随的轫致辐射[20]，精细结构常数和强相互作用参数变化的相对效应[21-23]，长时间内衰变定律的指数性检验[24]，等等。
质子捕获策略，用于增强原子分散的金属氮活性位点的电化学二氧化碳
识别活动位点。为了揭示Ni@Nincm的局部化学配位环境，我们进一步进行了XAS测量。ni k-边缘X射线吸附精细结构（XANES）光谱表明，Ni@nincm的预边是Nio和Ni Foil之间的（图4a），表明Ni@NINCM中Ni物种的平均价值处于部分氧化状态。这与以深红色圆圈标记的白线峰的高度保持一致。考虑到Ni NP的价为零，较高的氧化状态意味着除Ni@Nincm中的Ni NP外，Ni原子的另一种协调形式存在。扩展X射线吸收精细结构的傅立叶变换
用于先进催化的聚合物材料 +39 049 827 5737 (MZ)
- 金属前体和还原方案对无选择性增强剂直接合成过氧化氢的无氯催化剂制备的影响，ChemCatChem，2016，8，1564-1574。 - 柔性聚合物基质在固定化纳米粒子催化转化中的独特作用，RSC Advances，2015，5，56181-56188。 - 用于直接合成过氧化氢的钯催化剂的原位 X 射线吸收精细结构光谱：在溴离子存在下金属相的浸出和还原，ChemCatChem，2015，7，3712-3718。 - 新型高表面积聚合物的干燥和膨胀状态形态，微孔和中孔材料，2014，185，26–29。 - 用于将甘油氢解为丙二醇的树脂基催化剂，Top. Catal.，2013，56，822–830。
Archer 生产了两种概念验证设备来改进...
图 1. a) 在施加磁场的情况下演示超导自旋读出电路的微波测量。顶部插图显示了一个用于测量的超导自旋读出电路支架。底部插图是自旋参考材料，安装在超导谐振器的中心位置，准备进行自旋检测测量。b) 准备用于自动扫描电子显微镜图像捕获的晶圆。可以看到的精细结构是精密对准标记，有助于以纳米精度定位合适的设备材料。c) 由 Archer 的下一代基于薄膜的自旋材料制成的概念验证设备，可提高可制造性，显着降低电阻，并可能增加自旋寿命。
Versox B07-B：高通量XPS和环境压力Nexafs钻石光源的光束线
描述了钻石光源的多功能软X射线（Versox）Beamine B07的束线光学元件和端站。b07-b从弯曲磁铁源提供45-2200 eV范围内的中频X射线，可访问从李到y到y的所有元素原子的局部电子结构。它具有高通量X射线光电子体外镜头（XPS）和近边缘X射线吸收精细结构（NEXAFS）测量的终端站。b07-b具有从UHV到环境压力的压力（1 atm）的第二个终端群。这些终点站的组合允许对各种界面和材料进行研究。详细讨论了梁线和端积设计，以及它们的性能和调试过程。
材料科学与工程实验室 - GovInfo
陶瓷部门继续支持其独特测量能力的升级和扩展。NIST 高级测量实验室 (AML) 的高分辨率 x 射线计量和纳米摩擦学设施中的仪器今年全面投入使用，并已取得前所未有的分辨率结果。随着 NSLS 两条光束线最近现代化，专用于扩展 x 射线吸收精细结构 (EXAFS) 和 x 射线光电子能谱 (XPS)，陶瓷部门及其合作伙伴已经建立了对元素周期表所有元素进行 x 射线吸收光谱分析的能力。为期三年的 SBIR 项目已导致在 NSLS 软 x 射线光束线上开发出最先进的多元素探测器，使数据收集率提高了一个数量级。
大规模灵长类动物神经节记录的自然图像的非线性解码
从神经活动中解码感觉刺激可以提供有关神经系统如何解释物理环境的洞察力，并促进了脑机界面的发展。然而，神经解码问题仍然是一个重大的公开挑战。在这里，我们提出了一种有效的非线性解码方法，用于从视网膜神经节细胞（RGC）的尖峰活动中推断自然现场刺激。我们的方法使用神经网络来改善准确性和可扩展性的现有解码器。对来自1000多个猕猴RGC单元的真实视网膜尖峰数据进行了训练和验证，解码器证明了非线性计算的必要性，以准确地解码视觉刺激的精细结构。具体来说，自然图像的高通空间特征只能使用
大规模灵长类动物神经节记录的自然图像的非线性解码
从神经活动中解码感觉刺激可以提供有关神经系统如何解释物理环境的洞察力，并促进了脑机界面的发展。然而，神经解码问题仍然是一个重大的公开挑战。在这里，我们提出了一种有效的非线性解码方法，用于从视网膜神经节细胞（RGC）的尖峰活动中推断自然现场刺激。我们的方法使用神经网络来改善准确性和可扩展性的现有解码器。对来自1000多个猕猴RGC单元的真实视网膜尖峰数据进行了训练和验证，解码器证明了非线性计算的必要性，以准确地解码视觉刺激的精细结构。具体来说，自然图像的高通空间特征只能使用
通过低剂量焦平面镜进行实空间晶体结构分析...
高分辨率透射电子显微镜 (HRTEM) 能够实现原子分辨率的直接成像，是当代结构分析的核心方法之一。[1] HRTEM 需要大量的电子剂量，因此它主要限于在电子束下稳定的材料，如无机晶体。[2,3] 而有机材料对电子束敏感，[4–6] 因此，目前还没有通用的有机晶体 HRTEM 成像方法，而有机晶体在药物、[7] 有机电子器件 [8,9] 和生物系统中至关重要。[10,11] 对于金属有机骨架 [12–14] 共价有机骨架 [15] 石墨炔薄膜 [16] 酞菁晶体 [17–20] 和有序聚合物的 TEM 成像已经取得了进展，分辨率有所提高。 [21] 然而，在有机物的 TEM 成像中，为了减轻电子束损伤，需要使用低电子剂量来实现对比度，这就需要强烈的散焦条件，这会导致对比度解释困难和精细结构细节的丢失。[22,23] 此外，即使是接近焦点的有机物 TEM 成像，在图像解释方面，也会对轻微的局部结构变化非常敏感。[24] 提供相位恢复图像的 HRTEM 方法可以直接解释图像对比度和精细结构信息，因为它反映了成像对象的实际物理图像。[25,26] 这种方法对于解决与有机材料典型的多态性、异质性和局部无序有关的长期挑战非常有价值。它还可以解决未知的有机晶体结构，包括纳米级域的结构分析。HRTEM 图像形成涉及两个过程：电子与样品的相互作用和电子光学成像过程。后者阻碍了根据真实物体结构进行图像解释，因为 TEM 图像的形成高度依赖于透镜的光学缺陷。[27] 在 HRTEM 中，解开物体和仪器贡献的方法包括像差校正器 [28] 或