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眼科 - 纽约眼耳医院
1.Guthrie, G.J.：眼科手术讲座，伦敦，Burgess & Hill，1823 年。2.1820 年至 1905 年纽约眼科（后来是耳科）医院的早期会议记录和报告。3.Dunshee, K.H.：《当你经过时》，纽约，黑斯廷斯出版社，1952 年，第 58、91、209 页。4.Hone，P.：《日记，1828-1851》，由 Allan Nevins 编辑，纽约，Dodd，Mead & Co.，1927 年，卷。1 和
频率梳源的计量：评估从多模到锁模操作的相干性
摘要：自本世纪初以来，频率梳发生器已经重塑了频率计量学和相关领域。自首次实现以来的二十多年里，已经展示了几种在任何光谱区域生成频率梳的其他方法，每种方法都有其独特的特性。这种趋势引发了对定量评估新梳实现与理想梳的接近程度的需求，这一特性在本文中被称为梳状性。我们将简要回顾新型频率梳源这一非常活跃的领域，并针对具体应用描述最近开发的技术，用于定量评估新旧频率梳的关键参数。最后，我们将尝试勾勒出这个新兴研究领域的未来发展方向。
眼科 - 纽约眼耳医院
1.Guthrie, G.J.：眼科手术讲座，伦敦，Burgess & Hill，1823 年。2.1820 年至 1905 年纽约眼科（后来是耳科）医院的早期会议记录和报告。3.Dunshee, K.H.：《当你经过时》，纽约，黑斯廷斯出版社，1952 年，第 58、91、209 页。4.Hone，P.：《日记，1828-1851》，由 Allan Nevins 编辑，纽约，Dodd，Mead & Co.，1927 年，卷。1 和
无线用户通用耳脑电图
摘要 — 过去几年，人们已经证明可以从耳内记录脑电图 (EEG)（入耳式 EEG）。为了打开小型耳机作为可穿戴脑机接口 (BCI) 的大门，本研究介绍了一种实用的入耳式 EEG 设备，该设备基于多个干电极、用户通用设计和用于流式传输数据和设备编程的轻量级无线接口。该耳机旨在改善广大用户的耳道接触，并采用基于真空成型、等离子处理和喷涂等标准技术的低成本可扩展制造工艺制造。2.5 × 2.5 cm 2 无线记录模块旨在记录数据并以无线方式传输到主机。在三个月内对三名人类受试者进行了性能评估，并与临床级湿头皮 EEG 记录进行了比较。介绍了自发和诱发生理信号、眨眼、α 节律和听觉稳态响应 (ASSR) 的记录。据我们所知，这是第一款采用干式多电极、用户通用设计的无线入耳式脑电图。用户通用耳部脑电图记录的平均 alpha 调制为 2.17，优于最先进的干式电极入耳式脑电图系统。
2024拜耳调查员奖
精确肿瘤学的治疗领域（例如精确分子肿瘤学，靶向放射疗法，下一代免疫肿瘤学，ADC），精度心脏疾病（例如心力衰竭，心肌病，肥厚性心肌病，慢性肾脏疾病，常染色体显性肾脏疾病，狼疮性肾炎），通过细胞和基因治疗以及免疫学和炎症启用的神经病学和稀有疾病（例如SLE，IBD）。SLE，IBD）。
在氨基糖苷诱导的耳毒性
氨基糖苷通常用于治疗威胁生命的细菌感染，但是，通过长期的临床治疗，氨基糖苷可能会导致不可逆的听力损失。尽管广泛探讨了大量研究，但氨基糖苷的耳毒性的机制和预防仍受到限制。特别是，程序性细胞死亡（PCD）的进步提供了更多的新观点。本综述总结了程序性细胞死亡中的一般信号途径，包括细胞凋亡，自噬和铁凋亡，以及氨基糖苷诱导的耳毒性的机制。此外，还研究了新的干预措施，尤其是基因治疗策略，以预防或治疗前瞻性临床应用，以预防或治疗氨基糖苷诱导的听力损失。
研究 OnAir 500 模
OnAir 500 Modulo 的仪表模块有两个 30-LED 立体声条形仪表，每个仪表的中央都有一个相位相关指示器。右侧是两个数字计时器，可以通过相邻的按钮或选定的推子通道进行控制，仪表左侧是 CUE 扬声器及其控件。由于 OnAir 500 Modulo 具有可选的一级电源冗余功能，因此仪表桥前面板上的指示器会发出电源正常运行或其中一个电源故障的信号。此外，控制台还可以通过任何外部 24 V DC 电源（例如电池）进行操作。仪表模块的尺寸允许安装到 19 英寸机架中。
道路上有模因和低估
ix。TECHNICAL CHALLENGES AND SOLUTIONS........................................................42 A. Scalability and Integration..............................................................................................42 1.Technical Architecture.....................................................................................................42 2.Scaling Solutions............................................................................................................. 43 3.Resource Management....................................................................................................43 4.性能优化......................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................................... 44 5。System Reliability............................................................................................................ 44