E1 和 E2 HEMP 脆弱性评估 E1 和 E2 HEMP 脆弱性评估可以结合使用计算机建模和模拟以及设备测试来执行。使用 DOE 提供的波形和 E 场水平对 HEMP 能量照射下的电气系统进行建模,可以预测设备可能暴露的电应力。由于模型复杂,模拟通常在较小的地理区域内进行,例如变电站。可以进行传导和辐射测试,以确定设备或系统能够承受的电气和电磁应力,而不会损坏或中断。通过将预测的应力与从测试中获得的测量设备强度进行比较,可以确定 E1 和 E2 HEMP 对设备或系统的风险估计值
标题:皮层内微刺激脉冲波形和频率招募皮层神经元和神经纤维网激活的不同时空模式。作者:Kevin C. Stieger 1,2、James R. Eles 1、Kip A. Ludwig 3-5、Takashi DY Kozai 1,2,6-8 附属机构:1. 匹兹堡大学生物工程系,宾夕法尼亚州匹兹堡 2. 匹兹堡大学认知神经基础中心,卡内基梅隆大学,宾夕法尼亚州匹兹堡 3. 威斯康星大学麦迪逊分校生物医学工程系,威斯康星州麦迪逊 4. 威斯康星大学麦迪逊分校神经外科系,威斯康星州麦迪逊 5. 威斯康星转化神经工程研究所 (WITNe),美国威斯康星州麦迪逊 6. 匹兹堡大学神经科学中心,宾夕法尼亚州匹兹堡 7. 匹兹堡大学麦高恩再生医学研究所,宾夕法尼亚州匹兹堡 8. 匹兹堡大学脑神经技术中心宾夕法尼亚州匹兹堡研究所
