XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System衍射
组合高能X射线衍射和小角度...
关键词：机制，X射线散射，疲劳，应变，脱位阐明钢的氢含量机制是因为可以一次激活多种机制或甚至可能需要协同的共同存在激活的事实，这使钢的氢含量机制变得复杂。一些领先的氢化氢提议机制包括氢增强的脱粘（HEDE），氢增强的局部可塑性（帮助）机制和纳米玻璃体合并机制（NVC）。在HEDE中，一旦氢浓度达到临界浓度，氢在高三轴应力位置的积累会导致Fe-FE键的衰弱。在帮助中，引入氢气会影响Fe格子中位错的行为，通常会增强钢框架中的脱位迁移率。在NVC中，预计氢会导致空缺的稳定和促进（“纳米级空隙”）团聚。对这些机制的完全理解，它们与疲劳特性的关系以及它们相互作用的相互作用需要一次测量，能够一次探测所有三种机制。在这里，我们同时提出高能X射线衍射（HEXRD）和小角度的X射线散射（SAXS）测量，在氢气中钢裂纹的原位疲劳期间。HexrD测量值探测HEDE并通过确定应变密度的确定； SAXS测量通过测定纳米孔尺寸分布的NVC。 ，我们将在空气和氢气中生长的裂纹尖端之前提出应变，脱位密度和孔径分布。HexrD测量值探测HEDE并通过确定应变密度的确定； SAXS测量通过测定纳米孔尺寸分布的NVC。，我们将在空气和氢气中生长的裂纹尖端之前提出应变，脱位密度和孔径分布。我们将在帮助，HEDE和NVC机制的背景下讨论空气中在空气中和氢中生长的裂纹尖端之间的差异。
层全彩色碳化硅衍射波导
和安全优势。第一个光学透视 HMD 由 Sutherland 在 20 世纪 60 年代提出 6 。从那时起，光学透视技术在军事 7-11 、工业 12,13 和消费电子应用 14-16 中不断得到探索。已经开发出各种方法来将图像从微型投影仪引导到观察者，将现实世界的视图与虚拟图像相结合 16,17 。早期的 HMD 光学组合器基于传统的轴向分束器，如谷歌眼镜 18-20 所示。然而，由于视场 (FOV) 和框架尺寸与光学元件的尺寸成正比，因此在性能和舒适度之间取得平衡会导致此类智能眼镜的 FOV 更小。为了实现更大的 FOV，使用离轴非球面镜的 HMD
原位X射线衍射研究C
石墨和Li Metal之间的超密集相对于锂离子电池（LIB）和石墨插入化合物（GICS）的研究很重要。然而，由于有关C 2 li的有限信息以及将C 2 li与C 6 li区分开的困难，用于合成C 2 li的详细方法仍然未知。因此，我们在高压和高达10 GPA和400℃的高压下，在样品上进行了原位X射线衍射测量。我们采用了两种类型的C 2 li样品；一个是C 6石墨粉和Li金属（C 6 + 3 li）的混合物，另一个是C 6 li和li金属的混合物，其中C 6 Li是通过在Libs中发生的电化学放电（还原）反应制备的。根据C 6 Li或C 2 Li的001衍射峰考虑D值的变化，C 6 Li + 2Li适用于合成C 2 LI，尽管应除去用于电化学反应的非液压电解质，以避免在较低的C 12 LI和C 18 LI期间避免结构转换，以免使用结构转换。这些发现铺平了迈向合成C 2 li的方法的道路，该方法可能会增加LIB的能量密度并使用新颖的物理和电子特性建立GIC。
背靠背的教程：薄膜的X射线衍射
抽象的X射线衍射（XRD）是表征电杂色材料薄膜的必不可少的工具。但是，对于初学者而言，由于操作模式和测量类型的数量以及对结果模式和扫描的解释，首先可能是一种艰巨的技术。在本教程文章中，我们为使用XRD进行首次测量的薄膜工程师/科学家提供了基础。我们简要介绍了该仪器的衍射原理和描述，详细介绍了相关的操作模式。接下来，我们引入了薄膜表征必不可少的五种测量值：2次扫描，放牧的含量扫描，摇摆曲线，极图和方位角扫描（或ϕ扫描）。提供了选择适当的光学元件，安装和对齐样品以及选择扫描条件的实用准则。最后，我们讨论了数据分析的一些基础知识，并就数据呈现提供了建议。本文的目的是最终降低研究人员进行有意义的XRD分析的障碍，并在基础上建立基础，发现现有文献更易于访问，从而实现了更高级的XRD调查。
X 射线衍射将提高安全检查水平
XRD 有着悠久而辉煌的历史，始于 1895 年，当时威廉·康拉德·伦琴发现了 X 射线，并因此于 1901 年获得了首届诺贝尔物理学奖。十年后，马克斯·冯·劳厄发现了晶体中原子的重要性，并开发了一种数学理论来模拟 X 射线的衍射，以揭示原子级晶体物质的结构。此后，许多科学家使用 X 射线衍射来研究晶体学，随后许多科学家获得了诺贝尔物理学奖、化学奖、医学奖或生理学奖——最著名的可能是 1962 年因发现 DNA 分子结构而获奖的诺贝尔奖。
基于最大衍射调制的大视角全息三维显示系统
理想的全息三维显示应具有大视角、全彩色、低散斑噪声的特点，但现有策略往往限制了全息三维显示的视角，大大阻碍了其广泛应用。本文提出了一种基于最大衍射调制的大视角全息三维显示系统，该系统的核心包括空间光调制器（SLM）和液晶光栅。我们还提出了一种实现大视角全息三维显示的可行新方案，即将SLM的最大衍射角视为每个像点的有限衍射调制范围，不仅可以获得物体的最大全息图尺寸，还可以利用自主设计的液晶光栅调节二次衍射重建像。更重要的是，提出的最大衍射调制方案使系统的视角扩大到73.4°。该系统在教育、文化和娱乐等领域具有巨大的应用潜力。
单晶中子衍射数据还原和分析的最新进展
cao H.B.，Chakoumakos B.C.，Andrews K.M.，Wu Y.，Riedel R.A.，Riedel R.A.，Hodges J.P.，Zhou W.，Gregory R.，Haberl B.，Haberl B.，Molaison J.J.，Lynn G.W.，需求，需求，需求，一个极端磁性中子差异的高度固定型，高纤维纤维，高纤维液，高度fllactoper 9 9
共价计量 X 射线衍射 切屑测量
为了确定基板的切口，XRD 用于精确测量布拉格角（衍射角）的变化，因为基板的旋转角度相对于入射的 X 射线束会发生变化。如果布拉格角随基板的旋转角度而变化，则表明晶圆上有切口。非零晶圆切口会导致 Omega 峰位随着晶圆旋转而增加或减少，因为晶面与晶圆表面并不完全平行。当晶圆旋转到平面朝向 X 射线束倾斜到最大值时，Omega 衍射峰将位于比布拉格角低一个角度，该角度的幅度等于切口的大小。例如，朝向 X 射线束的 1° 切口晶圆的 Omega 峰位将比布拉格角预测的低 1°。同样，如果切口大小相同但相对于光束的方向相反，Omega 峰值的角度将比布拉格角大 1°。当晶圆在光束中旋转时，切口会导致 Omega 峰值从最小值平稳移动到最大值，并且可以观察到 Omega 峰值在这些极限之间的偏移。
晶体结构与实验粉末衍射图的定量匹配
虽然PXRD是获得有关材料的固态结构的最简单，最快的方法，但单晶X射线差异（SC-XRD）仍然是有关分子构成和周期性排列的综合数据的金标准。从粉末数据（SDPD）中确定结构也是晶体结构确定的一种活跃而实践的方法。然而，高质量的粉末X射线差异数据和对专家晶体学家的访问可能是要求，而使用的方法比SC-XRD涉及更多的时间，约束和试验和错误，然后才能获得分子有机晶体的成功。2 - 4统计评估是否可以通过Rietveld
利用电子背散射衍射进行晶粒尺寸测量
DEPC (MN) 037 高温压缩试件的微观结构映射 - 通过电子背散射衍射进行晶粒尺寸计量摘要电子背散射衍射 (EBSD) 越来越多地被用于通过映射试件截面的晶体学取向来表征许多工程材料的微观结构。这些晶体学信息传统上用于揭示详细的相和纹理信息，但它也可以提供有关晶粒尺寸和相关参数的大量信息。这些参数有时被视为直接光学技术的简单测量值。然而，EBSD 的自动化特性意味着它可以提供更多信息，而不受个别操作员的技能和主观性的影响，例如在设置样品照明以进行自动图像分析时。虽然 EBSD 可以自动化晶粒尺寸测量过程，但在样品制备、操作条件的选择和使用采集后降噪方面仍需小心。本文报告了这些对测量晶粒尺寸影响的实际例子，并将 EBSD 结果与光学结果进行了比较，突出了 EBSD 在检测较小晶粒和检测孪晶界时更高的分辨率所产生的影响。本文讨论了报告结果的方式，并将结果与晶粒尺寸分布的理论预测进行了比较。这项工作是在需要量化微观结构异质性的更广泛背景下进行的，以便验证工程合金热变形的变形模型，这是与谢菲尔德大学和威尔士大学（斯旺西）联合项目的一部分。KP Mingard、EG Bennett、AJ Ive 和 B Roebuck 2006 年 1 月