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World File Search System衍射
的起源和拓扑极化缺陷的起源和谐振光子晶体衍射
摘要：我们提出了拓扑电荷的持续定义，以描绘光子晶体板中任何谐振衍射阶的极化缺陷，无论它们是辐射的或evane的。通过使用这种广义定义，我们研究了整个布里鲁因区域的极化缺陷的起源和保护。我们发现，由于布里鲁因区域折叠而引起的模式横梁有助于整个布里渊区的极化缺陷的出现。这些极化缺陷的事件始终源自在布里鲁因区中心或边缘固定的线变性的自发对称性断裂，或者是由意外的Bloch带交叉点引起的频段耦合。与Bloch陈述不同，两极分化缺陷在不绑定的动量空间中生存和进化，从而遵守了局部保护定律，这是Stokes定理的直接结果，但总电荷数量无数。
用于紧凑型反射检测装置的太赫兹衍射结构，
太赫兹辐射介于红外和微波之间，最常见的频率范围是 0.1 THz 至 10 THz [1]。由于缺乏有效的、在室温下工作的、紧凑的、成本高效的光源和探测器，太赫兹是整个电磁辐射谱中研究最少的范围之一，直到 20 世纪 80 年代才开始被探索。自过去几十年以来，太赫兹辐射谱引起了研究人员的注意。该辐射范围的具体特征包括非电离、非侵入性、在水中的高吸收率和弥散性（水是生物组织的主要成分）。除了国防应用 [2、3] 和危险物质检测 [4-6] 之外，太赫兹辐射对医学诊断也非常有用 [7]。亚毫米波长最重要的特性是尚未发现其对人体组织有任何负面影响 [8-11]。在医学应用中，这种类型的辐射可用于检测乳腺癌和皮肤癌 [ 12 - 16 ]、研究引入血液循环的标记物，甚至用于分析人眼的角膜 [ 17 ， 18 ]。在开发可在大量患者身上测试的设备时，太赫兹辐射的无创性非常重要，它比基于电离辐射的传统方法更具成本效益，诊断也更安全。水分子会强烈衰减太赫兹辐射，因此所研究的生物样本必须很薄或放在由水组成的材料表面。透射配置是可能的，但是它需要准备类似于组织病理学的生物样本，这在活体患者中是不可接受的。因此，反射配置是必要的，我们的研究重点将放在皮肤组织上。这项工作的主要目的是将先进的衍射光学元件 (DOE) 应用于太赫兹发射器和检测器装置。对比健康和癌变皮肤的光学特性可以区分危及生命的病变。由于太赫兹扫描的分辨率有限（波长相对较长），医生的检查无法替代，但这种设备在预防护理中非常有用。我们的目标是设计和制造薄型 DOE，这将使太赫兹皮肤扫描仪更加紧凑和实用。我们提出了一种基于利用的新颖方法，该方法是该领域的新方法
使用X射线衍射映射硅晶片中经纱的计量学
*通讯作者：nima.gorji@tudublin.ie摘要 - X射线衍射（XRD）映射是一种非破坏性计量技术，可以通过热机械应力重建在硅晶片上引起的经线的重建。在这里，我们使用基于X和Y方向的一系列线扫描以及同一样品的不同90度旋转的方法绘制了晶圆的扭曲。这些线扫描从晶圆的表面收集摇摆曲线，记录由于表面不良导致的衍射角（ω）偏离了布拉格角。表面经线通过诱导测得的衍射角与参考角度角度（ω -ω0）和摇摆曲线扩展（FWHM）之间的差异来反映XRD测量。通过收集和整合摇摆曲线（RCS）和FWHM从整个表面和晶圆的多个旋转范围扩大，我们可以生成表面函数f（x）的3D地图和角度的不良方向（Warpage）。经线表现出凸形，与文献中报道的光学验证测量值对齐。基于实验室的XRDI有可能在较短的时间内和原位绘制晶圆的翘曲，这可以在同步加速器辐射源中完美地执行。关键字：计量学，硅，扭曲，X射线衍射，晶圆。I.简介
使用 X 射线衍射映射对硅晶片翘曲进行计量
* 通讯作者：nima.gorji@tudublin.ie 摘要 — X 射线衍射 (XRD) 映射是一种非破坏性计量技术，可以重建通过热机械应力在硅晶片上引起的翘曲。在这里，我们使用一种基于在 x 和 y 方向以及对同一样品进行不同 90 度旋转的一系列线扫描的方法来映射晶片的翘曲。这些线扫描从晶片表面收集摇摆曲线，记录由于表面取向错误而偏离布拉格角的衍射角 (ω)。表面翘曲通过引起测量的衍射角和参考布拉格角 (ω − ω0) 之间的差异和摇摆曲线增宽 (FWHM) 反映在 XRD 测量中。通过收集和整合整个表面和晶圆多次旋转的摇摆曲线 (RC) 和 FWHM 加宽，我们可以生成表面函数 f(x) 和角度错位 (翘曲) 的 3D 图。翘曲呈现凸形，与文献中报道的光学轮廓测量一致。基于实验室的 XRDI 有可能在更短的时间内原位绘制晶圆的翘曲图，就像在同步辐射源中完美执行一样。关键词：计量学、硅、翘曲、X 射线衍射、晶圆。I.介绍
映射Bragg相干衍射成像中电池阴极颗粒的3D位置
在大部分多晶样品中对局部应变的成像需要对纳米镜面水平的晶体结构变形具有高渗透深度和敏感性的探针。随着同步器仪器的重大进展，这是可能的，特别是在过去二十年中开发的一致散射方法。Bragg相干衍射成像（CDI）（Robinson等人，2001年； Miao等。，2002年； Pfeifer等。，2006年； Robinson＆Harder，2009年）现在被确定为成像单个纳米晶体中的结构变形和结构缺陷的强大工具（Ulvestad等人。，2015年； Kim等。，2021）。由于晶体通常是多种多样的，因此测量不同位置的几个颗粒以收集样品中足够的统计信息（Singer等人。，2018年）。在此类实验中通常未知测量颗粒的精确位置，因此通常假定样品的均匀性。对于材料响应不统一的系统，获取位置信息很重要。例如，在带有厚度阴极的锂离子电池中，预计充电行为将取决于阴极表面下的深度（Zheng等人。，2012年； Lee等。，2018年）。增强Operando Bragg CDI的能力，并可以绘制测得的颗粒的可能性将在单个纳米颗粒的性能与超厚电极的3D结构之间提供缺失的联系。，2012年），作为解决此问题的一般解决方案，在这里，我们建议一种确定Bragg CDI实验中测得颗粒的3D位置的方法。我们的方法与涉及从微观摄影中跨相关性检测旋转中心检测的程序有一些相似之处（Pan等
超快和持续的光诱导的相变在室温下通过流粉衍射监测的
hal是一个多学科的开放访问档案，用于存款和传播科学研究文件，无论它们是否已发表。这些文件可能来自法国或国外的教学和研究机构，也可能来自公共或私人研究中心。
MAUD Rietveld 细化软件用于单相和双相材料的中子衍射纹理研究
摘要 本文详细介绍了如何使用 Rietveld 细化软件 MAUD 评估单相和双相材料的晶体学织构，并将其应用于洛斯阿拉莫斯国家实验室 (LANL) 获得的高压择优取向 (HIPPO) 中子衍射数据和增材制造生产的 Ti-6Al-4V 的电子背散射衍射 (EBSD) 极图。本文解决了 Rietveld 细化和软件操作中固有的许多隐藏挑战，以改善用户使用 MAUD 时的体验。本文对 MAUD 细化过程中的每个步骤进行了系统评估，重点是为任何版本的 MAUD 和任何材料系统设计一致的细化过程，同时也指出了以前开发的流程所需的更新。本文记录并解释了用户可能遇到的许多问题，并进行了多层次评估，以验证任何数据集的 MAUD 细化过程何时完成。还简要讨论了适当的样本对称性，以强调从 MAUD 中提取的纹理数据可能过于简单。本研究的附录中包含了两个应用所述过程的系统演练。这些演练的文件可在以下数据存储库中找到：https://doi.org/10.18434/mds2-2400。
X 射线布拉格衍射 - 测量 NaCl 中的晶面间距 Darrel Smith 博士 1
产生 X 射线的第一步是通过 25-35 kV 的大电位差加速电子。当电子撞击钼靶时，它们会通过称为轫致辐射（断裂辐射）的过程减速。当小质量带电粒子（例如电子）经过大质量带电粒子（例如钼原子核）附近时，就会产生 X 射线。电子通过多次散射原子核而快速减速，从而导致发射多条 X 射线，在极少数情况下，当电子将其所有动能都交给单个原子核时，会发射出一条高能 X 射线。最后一个过程对应于 X 射线能谱的终点能量，这可通过查看图 2 中所示的光谱左端来观察。钼表面（阳极）与入射电子束成一定角度，以利于在特定方向产生 X 射线。图 2 显示了钼靶的能量谱。距离其产生点不远处是一个准直管，它允许一条狭窄的水平 X 射线带通过，到达结晶的 NaCl 靶。当 NaCl 靶（搁置在测角仪上）相对于入射 X 射线的角度倾斜刚好正确（θ）时，就会发生建设性干涉，并且在位于 2 θ 角的盖革-穆勒管中可以观察到增加的计数率（计数/秒）。如图 3 所示。
Cardarine/GW501516的五种新型多晶型物及其通过X射线衍射，计算方法，热分析和药物视角
摘要：GW501516，也以Cardarine的名称而闻名，是一种合成的过氧化物组增生剂活化受体三角洲（PPR-δ）激动剂，用于治疗代谢性疾病和心血管疾病。在各种溶剂和混合物中完成了广泛的多晶型筛选，以探索其生长多晶型物的能力。使用单晶X射线衍射阐明了四个多晶型物的晶体结构，而一种结构是通过粉末X射线衍射方法溶液的。通过计算方法研究了固态特征（分子间相互作用的性质）。通过热DSC分析和粉末上的X射线衍射进一步研究了多晶型物。从药物的角度来看，也分析了多晶型物的稳定性和溶解度。
利用同步辐射X射线分层成像和衍射技术对电源模块元件进行可靠性分析
开发了同步辐射X射线（SR）分层照相和衍射方法，实现了对智能功率模块（IPM）内部退化行为的无损测量。通过SR分层照相跟踪IPM样品纳米颗粒Cu键合层的疲劳行为表明，大的聚集Cu簇引入了曲折裂纹和裂纹分支，从而降低了裂纹扩展速率，有望延长疲劳寿命。老化过程中的分层照相测量表明，纳米颗粒Cu的氧化是降低键合强度的主要退化模式，通过添加Bi和Sn可以改善键合强度。开发的旋转螺旋狭缝系统实现了IPM样品键合层中的空间分辨衍射测量。利用该技术可以获得IPM中应力和应变的内部分布图。SR分层成像与基于螺旋狭缝的衍射技术相结合将成为下一代IPM可靠性分析的有力工具。