XiaoMi-AI文件搜索系统
World File Search System误差信号
心力衰竭和心肌病
背景：决策和学习过程中神经血流动力学的改变与炎症对情绪和动机行为的影响有关。到目前为止，据报道，钝化的中脱透明胺的奖励信号与炎症引起的anhedonia和冷漠有关。尽管如此，尚不清楚炎症是否会影响决策动态的神经活动。决策过程涉及从环境中整合嘈杂的证据，直到达成关键的证据门槛为止。越来越多的经验证据表明，这种过程通常被称为决策证据的积累，在精神疾病的背景下受到影响。方法：在一项随机，安慰剂对照的跨界研究中，将19名健康的男性参与者分配给安慰剂和伤寒疫苗。注射后三到四个小时，参与者在功能磁共振成像过程中执行了概率逆转学习任务。为了捕获基于决策的隐藏神经认知操作，我们设计了一个混合顺序采样和增强学习计算模型。，我们进行了通过建模结果告知的整个大脑分析，以研究炎症对决策动态和奖励学习效率的影响。结果：我们发现在任务的决策阶段，伤寒疫苗接种减弱了反向前额叶前额叶皮层中有界证据积累的神经特征，仅用于需要短整合时间的决策。与先前的工作一致，我们表明，在结果阶段，轻度急性炎症使双侧腹侧纹状体和杏仁核的奖励预测误差钝化。结论：我们的研究扩展了当前对炎症对决策神经机制的影响的见解，并表明外源性炎症会改变证据整合的神经活动索引效率，这是选择可区分的函数。此外，我们复制了先前的发现，即发炎钝化纹状体奖励预测误差信号。
疲劳试验控制器的组成
疲劳试验控制器的组件 Manjula B K EEE 部门 BMSIT&M 摘要：本文介绍了用于材料疲劳试验的伺服液压试验系统中计算机控制的单通道控制器的开发。使用称重传感器和 LVDT 获得的闭环控制，它向控制器提供与执行器的机械位置或其施加的负载成比例的电信号。电信号通过信号调节电路进行放大，该信号被馈送到伺服控制器以生成误差信号。使用差分放大器将反馈模式（无论是行程（LVDT）还是负载模式）与相应的设定点进行比较。数字模拟转换器的附加板用于将数字形式的设定点转换为模拟值。控制器的操作显示在计算机的控制台上。关键词：疲劳试验、控制器 DAC、ADC、负载模式和行程模式 1.简介 疲劳试验是确定飞机寿命的关键要求。疲劳试验有助于确定材料承受周期性疲劳载荷条件的能力。根据设计，选择的材料应满足或超过疲劳试验应用中预期的服务负载。循环疲劳试验会产生拉伸、压缩、弯曲、扭转或这些应力组合的反复加载和卸载。疲劳试验通常以拉伸 - 拉伸、压缩 - 压缩和拉伸压缩和反向加载。要进行疲劳试验，将样品装入疲劳试验机或疲劳试验机中，并使用预定的测试应力加载，然后卸载至零负载或相反负载[1]。然后重复此加载和卸载循环，直到测试结束。根据测试参数，测试可以运行预定的循环次数，也可以运行到样品失效[2]。疲劳测试的目的通常是确定材料在循环载荷下的预期寿命，但疲劳强度和抗裂性也是常见的要求值。材料的疲劳寿命是材料在单一载荷方案下可以承受的总循环次数。疲劳测试还用于确定样品在指定循环次数内可以承受的最大载荷。这些材料的疲劳极限比其他材料高，因为在任何材料受到波动力而非恒定力的行业中，所有这些特性都极为重要。疲劳试验类型：疲劳试验有几种常见类型，以及两种常见形式：负载控制高周疲劳和应变控制低周疲劳。高周试验往往与弹性状态下的负载有关，而低周疲劳试验通常涉及塑性变形。疲劳试验的材料类型 大多数材料在其使用寿命期间可能会以某种方式经历疲劳。然而，在疲劳是一个因素的应用中，通常会发现由金属或复合材料制成的部件。
教育扫描隧道显微镜
弗罗茨瓦夫科技大学，纳米计量学系 (1) ORCID: 1. 0000-0003-1565-7278; 2. 0000-0001-6649-1963； 3. 0000-0001-6218-0658； 4.0000-0001-9197-1862； 5. 0000-0002-5146-2868； 6. 0000-0003-1300-6420； 7.0000-0001-8482-301X； 8. 0000-0002-3187-1488； 9. 0000-0003-4182-9192 doi:10.15199/48.2024.06.41 教育扫描隧道显微镜——用于纳米技术教学和纳米计量研究的开放式架构平台摘要。在本文中，我们提出了一个教育性扫描隧道显微镜平台，可以研究纳米级的表面。该设计结构的主要优点是其开放式架构，可以进行各种实验，包括教学实验和高度专业化的科学工作。该系统是弗罗茨瓦夫科技大学电子、光子学和微系统学院纳米计量学系文凭和博士论文的一部分。 （教育扫描隧道显微镜——用于教育和纳米计量研究的开放式架构平台）摘要。在本文中，我们介绍了内部硬件和软件平台，可以演示扫描隧道显微镜 (STM) 的设计和操作以及衍生的诊断技术，从而能够确定纳米级表面的特性。所述设置的主要优点是开放式架构，这对于全面了解构造的某些方面以及执行测量的方式至关重要。由于平台采用模块化设计，学生可以通过基础培训课程和文凭课程等各种形式的学习活动来提高自己的能力。所描述的解决方案是一种独特的设置，它是利用弗罗茨瓦夫科技大学纳米计量学系研究人员的经验开发的。关键词：扫描探针显微镜、扫描隧道显微镜、纳米计量学、控制和信号电子学。简介扫描隧道显微镜 (STM) 自 1982 年开发以来 [1,2]，已发展成为一种先进的诊断技术，它与其他样品制备技术和分析工具相结合，能够以原子分辨率洞察材料的结构 [3–6]。尽管扫描隧道显微镜的概念看似简单，但实际设置在实施特定测量模式以及仪器方面却很复杂。然而，STM 背后的理念仍然足够简单，本土建筑商可以开发自己的测量系统——有很多自己动手 (DIY) 的项目可以找到 [7]。此外，控制和测量分析软件领域也正在快速发展[8,9]。与市售机器相比，开发的显微镜并不复杂，也不是开放式装置。在未来纳米技术专家的教育过程中，获得 STM 设计和操作的透明度是一个重要问题。培训旨在提供必要的知识和经验，教他们如何准备和使用 STM，以获得样品表面的原子分辨率成像。特别是，处理样品、准备扫描尖端、配置系统的特定部分、优化测量参数以及数据处理和分析等问题是培训的重要组成部分。很少有实验室会自下而上地开设扫描探针显微镜 (SPM) 课程 [10]。在这种情况下，需要为学生提供纳米技术工具 [11]。为了提供实现上述培训条件的环境，纳米计量学系开发了一种特定的硬件软件设置。与商用 STM 系统不同，它在信号处理和采集方面提供了完全透明性，包括隧道电流、PID 信号（特别是 Z 和误差信号）、扫描控制（X、Y）信号和输出数据。系统由专门的