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World File Search System量化噪声
数字输出传感器和 ∑Δ 转换
图 8 显示了完整 A:D 过程中不同阶段的噪声。在 (a) 处，传感器的模拟前端始终存在白噪声，限制为采样频率的一半。在 (b) 处添加了量化噪声，但仅在高频处。(c) 显示了输出噪声，其中数字滤波器具有较低的截止频率，这对精度有好处；在这种情况下，输出端的噪声与传统模拟传感器与等效滤波器一起使用时的噪声相同。在 (d) 中，输出端使用宽带滤波器，响应时间很快，额外的噪声不是缺点，因为这种类型的输出用于检测超出范围的电流。LEM 数字传感器的多功能性在于能够将 (c) 和 (d) 滤波器类型连接到同一比特流。
用于模拟-数字和数字-模拟转换的 Sigma-Delta 调制器：综述
Sigma-delta 调制在高分辨率 A/D 和 D/A 转换器中发挥着重要作用。转换过程中可实现更高的 SNR 水平，因此更适合用于音频 CD 格式。其在无线技术中发挥着重要作用，例如长期演进高级版 (LTE-Advanced)、IEEE802.11ac、GSM 和 CDMA 等，这些技术需要带宽大的高速 ADC，同时降低总体成本并减少由毛刺引起的谐波失真 [1- 6]。其他应用包括仪器仪表、地震活动测量、语音、视频、ISDN、数字蜂窝无线电、频率合成器、色谱分析和生物医学应用 [7- 8]。A/D 和 D/A 转换过程中会产生量化噪声，导致信号重建不正确 [9]。Sigma-delta 调制器利用噪声整形技术，并引入过采样，从信号带宽中去除噪声并将其传输到更高的频率区域 [10]。
数字通信讲义B.Tech（III年 - I ...
在数字通信中。单元I脉冲数字调制：数字通信系统的元素，数字通信系统的优势，PCM生成和重建，量化噪声，量化类型和兼容的类型，差异PCM（DPCM），时间分配多重和消除。增量调制：Delta调制及其拉回，自适应增量调制，PCM和DM系统中的噪声，说明性问题。单元II数字调制技术：简介，询问调制器，连贯和非辅助询问探测器，FSK调制器，FSK的相干和非辅助检测，BPSK调制器和BPSK的连贯接收，DPSK和QPSK原理。数据传输：基本频带信号接收器，错误的概率，最佳过滤器，匹配的过滤器，使用匹配的滤镜的错误概率。使用CORELATOR的eptimum滤波器。第三单元信息理论：信息理论简介，信息量及其属性的概念，平均信息（熵）及其属性，信息速率，共同信息及其特性，说明性问题。来源编码：简介，优势，Hartley Shannon的定理（渠道容量定理），Bandwidth-S/N权衡取代，Shannon-Fano编码，Huffman编码，说明性问题。单元IV线性块代码：简介，线性块代码的矩阵描述，线性块代码的错误检测和错误校正功能，Hamming代码。循环代码：编码，综合征计算，解码，
测量和模拟量子比特的 T1 和 T2
量子计算机利用量子力学进行计算，使我们能够准备和操纵没有经典等价物的状态。特别是，叠加和纠缠等现象可能使量子计算机在某些应用方面胜过经典计算机。事实上，事实已经证明，随着整数的增加，寻找整数素因数所需的步骤数呈指数增加 [1]。然而，Shor 的因式分解算法可以在多项式时间内对素数进行因式分解。事实上，D-Wave 2000Q 计算机已经取得了令人鼓舞的结果，因为它能够使用 94 个逻辑量子比特门对数字 376289 进行因式分解 [2]。因此，开发新的加密协议至关重要，因为在线交易的安全性假定不可能使用经典算法在合理的时间内对大数进行因式分解。此外，量子计算机有望有效模拟大型原子系统以了解其特性。使用经典计算机，随着原子数量的增长，计算时间呈指数级增长，而在量子计算机上，计算时间呈多项式增长 [3]。实现这些有用的量子算法取决于构建不受噪声影响的精确量子硬件。环境噪声会降低量子比特的相干时间，这意味着量子比特无法长时间保持在所需状态以执行复杂的计算。目前，量子比特的相干时间在 10 微秒的数量级，这不足以解决有趣的问题。因此，减轻噪声和设计耐噪声的量子计算机是必要的。为此，要充分利用量子计算机的功能，就必须表征和了解噪声源以及它们如何影响特定的量子系统。通常，T 1 和 T 2 用于量化噪声。在
CIS 堆叠技术
灵敏度 - 数字成像 - 像素 - 量子效率 - 复位 - 正向偏置 - 区域板 - 通道电位 - 全帧成像器 - PPD - 采样频率 - 光子散粒噪声 - VGA - 产量 - 暗固定模式噪声 - 反向偏置二极管 - 收集效率 - 逐行扫描 - 动态范围 - 薄膜干涉 - 固定光电二极管 - 光谱灵敏度 - 饱和电压 - 双线性成像器 - 光子传输曲线 - 行间传输图像传感器 - 电荷耦合器件 - 微透镜 - 暗电流散粒噪声 - E SD - 条纹滤波器 - 数码相机 - 拼接 - 高斯分布 - 硅 - 热噪声 - 传感器结构 - 亮度 - 浮动扩散放大器 - 转换因子 - 闪烁 - MOS 电容 - 辐射单位 - 移位寄存器 - 带隙 - 黄色 - 补色 - 光电门 - 列放大器 - 纹波时钟 - 反转层 - CMOS 成像器 - 对数响应 - 普朗克常数 - 电荷泵 - 阈值电压 - 埋通道 CCD - 暗电流 - 噪声等效曝光 - MSB - 转换因子 -缺陷像素校正 - 边缘场 - 分辨率 - 双相传输 - 正透镜 - 角响应 - PRNU - 波长 - 帧传输成像器 - 电荷注入装置 - 测试 - 通道定义 - 摄像机 - 光晕 - 隔行扫描 - 彩色滤光片 - 自动白平衡 - 虚拟相位 - 拖尾 - 单斜率 ADC - 表面电位 - 耗尽层 - 垂直防光晕 - 多相钉扎 - 电子快门 - PAL - 埃普西隆 - 相关双采样 - 蓝色 - CIF - 洋红色 - 填充因子 - 延迟线 - 线性响应 - 规格 - 结深 - 复位噪声 - 线性图像传感器 - 光学低通滤波器 - 二氧化硅 - 光电二极管 - 勒克斯 - 闪光 ADC - 定时抖动 - 拥有成本 - 封装 - 光刻 - 有源像素传感器 - DSP - 积分时间 - 三相传输 - 光子通量 - 晶圆级封装 - 电荷泵 - 滤光轮 - 有效线时间 - 吸收深度 - 玻尔兹曼常数 - 弱反转 - LSB - 水平消隐 - 光栅滤波器 - 帧抓取器 - 原色 - 拜耳模式- 缩放 - 功耗 - 单色仪 - 模拟数字转换 - 光固定模式噪声 - 无源像素传感器 - 彩色棱镜 - SGA - 氮化硅 - 温度依赖性 - 负透镜 - sigma delta ADC - 混叠 - 插值 - 传输效率 - F 数 - 红色 - 动态像素管理 - 栅极氧化物 - 热漂移 - 热噪声 - 扩散 MTF - 有源像素传感器 - 泄漏器 - 1/f 噪声 - 青色 - 信噪比 - 孔径比 - 奈奎斯特频率 - 非隔行扫描 - 像素内存储器 - 四相传输 - 技术 - kTC 噪声 - 辐射损伤 - 离子注入 - MOS 晶体管 - 内透镜 - 光度单位 - 表面通道 CCD - 延时和集成成像器 - 宽高比 - 绿色 - NTSC - 单芯片相机 -可见光谱 - 调制传递函数 - 同步快门 - 马赛克滤光片 - 背面照明 - 色彩串扰 - 量化噪声 - 逐次逼近 ADC - 压缩 - 漏极 - 多晶硅 - 堆叠 - 光子转换 - 飞行时间 - 吸收系数 - DIL - 收集体积 - 孔 - 四线性成像器 - 单相传输 - 填充和溢出 - 收集效率 - 垂直消隐 - 源极跟随器 - 雪崩倍增 - 辐射 - 横向防晕 - 晶圆上测试 - 自感场 - 自动曝光 - 泊松分布 - 电荷复位 - 伽马