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SEMI F47 电压骤降抗扰度测试报告...
a) 环境温度：控制测量表明，环境温度对穿越时间测试结果的影响很小。根据用于降低输入浪涌电流的拓扑结构，环境温度会对电压骤降测试后出现的峰值电流产生重大影响。因此，测试是在 25°C 和 +60°C 的环境温度下进行的。假设半导体加工设备从不在低于 +25°C 的温度下使用。虽然电源本身规定温度低至 -40°C，但不会在如此低的温度下进行测试。