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一个新的纳米尺度测量工具利用光的量子特性，以提高精度和速度
伊利诺伊大学物理学教授保罗·克威亚特（Paul Kwiat）及其研究小组成员开发了一种新工具，可以在存在样本中的背景噪声和光学损失的情况下在纳米尺度上进行精确测量。
来源:英国物理学家网首页伊利诺伊大学物理学教授保罗·克威亚特（Paul Kwiat）及其研究小组成员开发了一种新工具，可以在存在样本中的背景噪声和光学损失的情况下在纳米尺度上进行精确测量。
这种新的光学干涉仪技术利用光的量子特性（特别是极端颜色纠缠），比广泛使用的经典和量子技术可以实现更快，更精确的测量。
Colin Lualdi，伊利诺伊州物理学的研究生兼研究的主要作者强调：“通过利用量子干扰和量子纠缠，我们可以进行否则对现有方法很难进行的测量。”
量子纠缠lualdi说，此工具在医疗诊断，远程系统监控和材料表征中已准备好应用。新技术的量子性能比这些领域中使用的当前高精度测量工具具有许多优势。例如，在存在背景噪声的情况下，例如，在试图测量一个遥远的目标时，它具有提高的灵敏度，它可以在宽敞的日光下进行户外范围的测量值。
背景噪声也更好地测量了将光传输较差或对光敏感的样品，例如金属薄膜或生物组织。与某些测量样品的替代方案不同，该技术不需要将物理探针紧邻或与所测量的材料接触，从而可以进行更通用的测量配置。它还需要比某些经典和量子技术更快的测量值，这将使研究人员能够研究动态系统，例如振动表面 - 缺乏当前技术。
这项研究发表在科学进步中。
已发布 科学进步 单个光子