Engineering quantum entanglement at the nanoscale
研究人员开发了一种紧凑、节能的方法，利用范德华材料生成光子对，推动了量子技术的应用。文章《纳米级量子纠缠工程》首次出现在《科学探究者》上。
ERC proposes voluntary scheme for net metering
能源监管委员会 (ERC) 表示，它提议将可再生能源证书 (REC) 电表的安装变为自愿行为。这是 ERC 提议对 2019 年系列第 6 号决议或通过可再生能源净计量计划规则修正案的决议提出的修正案之一。“安装 […]
NIST OWM Info Hour: EVSE Metrology Training Program
了解 NIST 度量衡办公室 (OWM) 由 JOET 支持的努力，以开发电动汽车供应设备 (EVSE) 计量培训计划。 JOET/OWM 合作概述及其在实现 97% 正常运行时间方面的作用
NIST OWM Info Hour: Overview and Discussion on Emerging Legal Metrology Device Technology
此信息时间将提供概述并促进对包含新兴技术的法定计量设备的讨论及其使用相关的挑战。本次讨论将涵盖利用测量的设备
Legal Metrology: Maintaining Our Trust in Measurements
不知不觉中，计量学及其相关标准和服务在我们的日常生活中发挥着重要作用。我们购买的食品杂货需要称重或测量。预包装产品在生产过程中需要称重或测量。药房的药品是
NIST OWM and KEBS: Building Metrology Capacity for the RMOs
NIST OWM 和肯尼亚标准局 (KEBS) 目前正在进行实验室间质量比较，这是由 OWM 的 NIST 国际助理 Ombati Nyangau 博士开发的更大、多方面的质量计量培训计划的一部分
MIT Research Team Engineers Quantum Solution to Computing’s Energy Problem
计算能力的不断进步长期以来依赖于我们制造更小、更高效的电子元件的能力。这一进步的核心是不起眼的晶体管——现代电子产品的基本组成部分。然而，随着我们的数字世界不断扩大，人工智能应用变得越来越苛刻，我们正在接近一个关键的 […]麻省理工学院研究团队设计量子解决方案解决计算能源问题的文章首先出现在 Unite.AI 上。
Which econometric method should you use for causal inference of health policy?
TL;DR Ress 和 Wild (2024) 的一篇论文在回答这个问题时提供了以下建议。当旨在控制大量协变量集时，请考虑使用超级学习者来估计干扰参数。当使用超级学习者估计干扰参数时，请考虑使用双重稳健估计方法，例如 AIPW 和 TMLE。当面临……
What If Renewables Become Too Cheap to Meter?
Mark Harris，人类世 我以撰写有关气候和能源的文章为生，甚至我自己都无法完全理解低碳能源技术已经变得多么便宜....
NIST OWM-ANL Co-Host Inaugural EVSE Metrology Training Event
NIST OWM 的几名工作人员与阿贡国家实验室 (ANL) 的 Ted Bohn 合作，于 2024 年 9 月 20 日举办了一场关于电动汽车供电设备 (EVSE) 的为期一天的混合研讨会和培训活动。BTC Power（位于加利福尼亚州欧文市）慷慨解囊
Эксперт Центра Кибербезопасности УЦСБ выступил на конференции главных метрологов России
9月25日至26日，俄罗斯企业首席计量师年会在下诺夫哥罗德举行，UCSB参加。会议期间，首席计量师、自动化过程控制系统及仪器仪表和自动化服务负责人、自动化系统实施专家和项目经理交流了经验，分析了保护自动化过程控制系统免受网络威胁领域的当前案例和趋势。 UCSB网络安全中心特殊软件实施和支持小组负责人Alexander Merzlyakov做了题为《从理论到实践：如何确保自动化过程控制系统的信息安全》的报告。专家在演讲中回顾了自动化过程控制系统中信息安全系统的创建前提和形成阶段，分析并分享了实施有效保护措施的实践经验，有助于确保现代生产中数据的可靠性和安全性。状况。 “全面审核阶段是高质量 IS
CHIPS for America Releases METIS Data Exchange Ecosystem for Supporting Metrology Innovation
媒体联系人：Hannah Robinson，hannah.robinson [at] chips.gov (hannah[dot]robinson[at]chips[dot]gov) 今天，CHIPS for America 发布了半导体创新计量交换 (METIS) 的测试版。作为 CHIPS 计量计划的一个重要里程碑，METIS 将提供
OWM Info Hour - Software in Metrological Devices
本次会议将讨论称重和测量设备的发展以及软件对这些设备的法定计量控制的影响。它还将解释软件控制设备面临的威胁以及采取哪些措施
