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美国国家标准与技术研究院__纳米技术信息
2023年4月14日 12:00

NIST 科学家开发出新型集成电路 CT 扫描设备

NIST Scientists Develop Novel CT Scan Device for Integrated Circuits

美国国家标准与技术研究所 (NIST) 的研究人员及其同事开发了一种新型桌面设备，可以拍摄集成电路的三维 X 射线 (CT) 图像。