晶圆级关键词检索结果

RoboticsTomorrow News
2026年1月21日 05:45

PI 推出用于可扩展、并行 E/O 晶圆级测试的小型化对准引擎平台

PI Introduces Miniaturized Alignment Engine Platform for Scalable, Parallel E/O Wafer-Level Test

带有飞行高度传感器的并行压电对准器可实现更快的 PIC 晶圆测试。