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Metrology for Digital Twins: Connecting CHIPS Metrology and SMART USA
这是一个由两部分组成的 CHIPS Metrology + SMART USA 研讨会系列，重点是在 SMART USA 成员和 CHIPS Metrology 资助的研究团队之间建立有意义的联系。第一场活动将于 2025 年 6 月 17 日以虚拟形式举行，届时将设定
