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数字孪生计量：连接 CHIPS 计量和 SMART USA
这是一个由两部分组成的 CHIPS Metrology + SMART USA 研讨会系列，重点是在 SMART USA 成员和 CHIPS Metrology 资助的研究团队之间建立有意义的联系。第一场活动将于 2025 年 6 月 17 日以虚拟形式举行，届时将设定
来源:美国国家标准与技术研究院__计量学信息这是一个由两部分组成的 CHIPS Metrology + SMART USA 研讨会系列，重点是在 SMART USA 成员和 CHIPS Metrology 资助的研究团队之间建立有意义的联系。第一场活动将于 2025 年 6 月 17 日以虚拟形式举行，这将为 2025 年 6 月 24 日的现场研讨会奠定基础。该活动旨在使研究重点与行业需求保持一致，展示和完善 CHIPS 计量资助的研究，并通过结构化会议促进深入的知识交流。该研讨会还将探讨将 SMART USA 与 CHIPS Metrology 的数据交换生态系统 METIS 整合的可行机会，以加速美国半导体行业的创新和竞争力。